【技术实现步骤摘要】
本申请涉及集成电路测试，尤其是一种基于ate设备的动态负载校准方法及系统、设备、介质。
技术介绍
1、在集成电路测试中，ate设备（automatic test equipment，芯片自动化测试机）测量功能的完整性和精度影响着芯片测试的质量。ate设备通常有多块数字测试板卡，使得其内部的io通道单元多达上百个。在利用ate设备进行芯片测试时，大多采用pmu的方式对被测芯片的管脚的驱动能力进行测试，这种测试效率不高。基于此，需要采用动态负载测试以提高测试效率。但在利用动态负载测量被测芯片的驱动电流时，需保证ate设备的负载电流大小的精度，从而才能精准地测量出被测芯片的管脚驱动能力。因此，在对集成电路进行规模测试前，需要对ate设备的引脚电子（pin electronics，pe）芯片中的动态负载部分进行校准。
2、相关技术中，大多数采用多点采样进行校准，校准时间长，校准效率低；对于使用pe芯片自带的6bit的动态负载增益校准寄存器和8bit的偏置校准寄存器，dac分辨率较低，导致校准精度较低；难以保障ate设备测量被测芯片的管脚驱动能力时的准确性和测试效率。
技术实现思路
1、本申请实施例提供了一种基于ate设备的动态负载校准方法及系统、设备、介质，能够提高对动态负载的校准效率和校准精度，从而提高ate设备测试被测芯片时的准确性和测试效率。
2、第一方面，本申请实施例提供了一种基于ate设备的动态负载校准方法，应用于动态负载校准系统的上位机；所述动态负载校准
3、所述动态负载校准方法包括：
4、将与待测的io通道单元连接的所述通道开关闭合，并控制其余的所述通道开关保持断开；
5、基于初始dac值，在所述待测的io通道单元上施加大小为第一预设理论值的拉电流，并获取所述测量单元检测的第一电压；在所述待测的io通道单元上施加大小为第二预设理论值的灌电流，并获取所述测量单元检测的第二电压；
6、根据所述第一电压、所述第二电压、所述第一预设理论值、所述第二预设理论值、所述精密电阻的阻值、预设的dac分辨率进行校准系数计算处理，得到校准系数；其中，所述校准系数包括增益值和偏置值；
7、根据预设校准公式对所述增益值、所述偏置值、预设的dac分辨率、初始dac值进行校准值计算处理，得到dac校准值；
8、基于所述dac校准值，在所述待测的io通道单元上进行校准误差测试，得到校准误差；
9、当所述校准误差小于或等于预设误差阈值，将所述增益值和所述偏置值保存至所述数据库，结束对所述待测的io通道单元进行的校准处理。
10、根据本申请的一些实施例，当计算的所述校准系数为所述增益值；所述根据所述第一电压、所述第二电压、所述第一预设理论值、所述第二预设理论值、所述精密电阻的阻值、预设的dac分辨率进行校准系数计算处理，得到校准系数，包括：
11、根据欧姆定律，对所述第一电压和所述精密电阻的阻值进行计算得到第一实际电流值，对所述第二电压和所述精密电阻的阻值进行计算得到第二实际电流值；
12、计算所述第一预设理论值和所述第二预设理论值之间的第一差值、所述第一实际电流值和所述第二实际电流值之间的第二差值；
13、根据预设的增益值计算公式对所述dac分辨率、第一比值进行计算，得到所述增益值；其中，所述第一比值由所述第一差值除以所述第二差值得到。
14、根据本申请的一些实施例，当计算的所述校准系数为所述偏置值；所述根据所述第一电压、所述第二电压、所述第一预设理论值、所述第二预设理论值、所述精密电阻的阻值、预设的dac分辨率进行校准系数计算处理，得到校准系数，包括：
15、获取当前在测的所述引脚电子芯片的理论电流量程和最小电流理论值；
16、将第二比值与所述理论电流量程相乘，得到实际满量程范围；其中，所述第二比值由所述第二差值除以所述第一差值得到；
17、根据所述第一实际电流值、所述第一预设理论值和所述实际满量程范围进行电流计算处理，得到输入代码为0x0000时的初始电流实际值；
18、根据所述实际满量程范围、所述第二比值、预设的dac分辨率进行lsb计算处理，得到实际最低有效位；
19、根据预设的偏置值计算公式对所述dac分辨率、所述最小电流理论值与所述初始电流实际值之间的第三差值、所述实际最低有效位进行计算，得到所述偏置值。
20、根据本申请的一些实施例，所述预设校准公式为：
21、；
22、其中，为所述dac校准值；为所述初始dac值；为所述增益值；为所述偏置值；为dac分辨率。
23、根据本申请的一些实施例，所述得到校准误差之后，所述方法还包括：
24、当所述校准误差大于预设误差阈值，比较校准次数和预设次数阈值；
25、当所述校准次数小于所述预设次数阈值，重新对所述待测的io通道单元进行校准；
26、当所述校准次数等于所述预设次数阈值，确认对所述待测的io通道单元进行的校准处理异常，并结束对所述待测的io通道单元进行的校准处理，输出并记录所述校准误差。
27、根据本申请的一些实施例，所述基于所述dac校准值，在所述待测的io通道单元上进行校准误差测试，得到校准误差，包括：
28、基于所述dac校准值，在所述待测的io通道单元上施加测试电流，并获取所述测量单元检测到的实测电流；
29、根据所述测试电流和所述实测电流进行相对误差计算，得到校准误差。
30、根据本申请的一些实施例，还包括：
31、在当前待测的所述引脚电子芯片中的两个待测的io通道单元都校准之后，继续校准下一个待测的所述引脚电子芯片中的io通道单元，直至校准完当前所述数字通道板中的所有引脚电子芯片；
32、在校准完当前所述数字通道板之后，继续自动地校准下一块待测的所述数字通道板，直至校准完所述ate设备中所有所述数字通道板中的所有io通道单元。
33、第二方面，本申请实施例提供了一种基于ate设备的动态负载校准系统，包括：上位机、与所述上位机通信连接的ate设备、测量校准模块和数据库；其中，所述ate设备包括：多块数字通道板；每块所述数字通道板包括：多个引脚电子芯片、多个通道开关；每个所述引脚电子芯片包括：两个待测的io通道单元；每个所述通道开关对应地连接在一个所述io通道单元与所述测量校准模块之间；所述测量校准模块包括：并联的测量单元和精密电阻；其中，所述上位本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种基于ATE设备的动态负载校准方法，其特征在于，应用于动态负载校准系统的上位机；所述动态负载校准系统还包括：与所述上位机通信连接的ATE设备、测量校准模块和数据库；其中，所述ATE设备包括：多块数字通道板；每块所述数字通道板包括：多个引脚电子芯片、多个通道开关；每个所述引脚电子芯片包括：两个待测的IO通道单元；每个所述通道开关对应地连接在一个所述IO通道单元与所述测量校准模块之间；所述测量校准模块包括：并联的测量单元和精密电阻；
2.根据权利要求1所述的基于ATE设备的动态负载校准方法，其特征在于，当计算的所述校准系数为所述增益值；所述根据所述第一电压、所述第二电压、所述第一预设理论值、所述第二预设理论值、所述精密电阻的阻值、预设的DAC分辨率进行校准系数计算处理，得到校准系数，包括：
3.根据权利要求2所述的基于ATE设备的动态负载校准方法，其特征在于，当计算的所述校准系数为所述偏置值；所述根据所述第一电压、所述第二电压、所述第一预设理论值、所述第二预设理论值、所述精密电阻的阻值、预设的DAC分辨率进行校准系数计算处理，得到校准系数，包括：
...【技术特征摘要】
1.一种基于ate设备的动态负载校准方法，其特征在于，应用于动态负载校准系统的上位机；所述动态负载校准系统还包括：与所述上位机通信连接的ate设备、测量校准模块和数据库；其中，所述ate设备包括：多块数字通道板；每块所述数字通道板包括：多个引脚电子芯片、多个通道开关；每个所述引脚电子芯片包括：两个待测的io通道单元；每个所述通道开关对应地连接在一个所述io通道单元与所述测量校准模块之间；所述测量校准模块包括：并联的测量单元和精密电阻；
2.根据权利要求1所述的基于ate设备的动态负载校准方法，其特征在于，当计算的所述校准系数为所述增益值；所述根据所述第一电压、所述第二电压、所述第一预设理论值、所述第二预设理论值、所述精密电阻的阻值、预设的dac分辨率进行校准系数计算处理，得到校准系数，包括：
3.根据权利要求2所述的基于ate设备的动态负载校准方法，其特征在于，当计算的所述校准系数为所述偏置值；所述根据所述第一电压、所述第二电压、所述第一预设理论值、所述第二预设理论值、所述精密电阻的阻值、预设的dac分辨率进行校准系数计算处理，得到校准系数，包括：
4.根据权利要求1所述的基于ate设备的动态负载校准方法，其特征在于，所述预设校准公式为：
5.根据权利要求1所述的基于ate设备的动态负载校准方法，其特征在于，所述得到校准误差之后，所述方法还包括：
6.根...
【专利技术属性】
技术研发人员：黄程，
申请(专利权)人：珠海芯业测控有限公司，
类型：发明
国别省市：
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