【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子器件测试领域，特别涉及一种片式电容检测夹持装置和检测方法。
技术介绍
1、随着科技不断发展，为了满足电子设备的整机向小型化、大容量化、高可靠性和低成本方向发展的需要，片式电容本身也在迅速地发展：种类不断增加，体积不断缩小，性能不断提高，技术不断进步，材料不断更新，轻薄短小系列产品已趋向于标准化和通用化。
2、在片式电容生产之后，需要对其各种参数进行测试，以确保其各项数值达标能够投入到生产使用之中。
3、现有的片式电容检测方法通常采用人工手动完成，其效率不高，在面对多种型号且大批量的片式电容时，人工操作往往会由于片式电容体积极小，而产生操作困难，检测效率低下的问题。
技术实现思路
1、本专利技术实施例提供了一种片式电容检测夹持装置和检测方法，能够解决现有技术中操作困难，检测效率低下的问题。所述技术方案如下：
2、一种片式电容检测夹持装置，包括：电容放置工位、检测装置和工作台，
3、所述电容放置工位固定设置于所述工作台的安装面上，所述检测装置可升降地设置于所述安装面上，
4、所述电容放置工位包括料盒、顶舌装置和驱动装置，所述料盒上方开有凹槽，所述凹槽含有第一端面和第二端面，所述第二端面与所述安装面平行，所述第一端面连接于所述第二端面的一侧，所述顶舌装置设置于所述第二端面上，所述驱动装置设置于所述第二端面的另一侧，所述驱动装置被配置为可驱动所述顶舌装置靠近或远离所述第一端面，
5、所述检测装置包括两
6、可选地，所述顶舌和所述顶杆可拆卸连接。
7、可选地，所述顶杆上设置有与所述外壳相匹配的限位部。
8、可选地，所述片式电容检测夹持装置还包括可调限位旋钮，所述可调限位旋钮被配置为可使所述限位部在所述顶杆上滑动或固定。
9、可选地，所述片式电容检测夹持装置还包括弹簧，所述弹簧设置于所述限位部和所述外壳靠近所述顶舌的端面之间。
10、可选地，所述第二端面上设置有料槽，所述料槽有两个且分别设置于所述顶舌装置的两侧。
11、可选地，所述片式电容检测夹持装置还包括力控装置，所述力控装置被配置为可调节两个所述检测探针的间距。
12、可选地，所述电容放置工位设有多个，所述工作台上还设有水平转台，所述水平转台可旋转地设置于工作台上，所述电容放置工位呈圆形阵列分布在所述水平转台上。
13、一种片式电容检测方法，基于前述第一方面所述的片式电容检测夹持装置实现，包括以下步骤：
14、s1：将片式电容放置于所述顶舌装置和第一端面之间；
15、s2：控制所述驱动装置，驱动所述顶舌装置将所述片式电容与所述第一端面夹持固定；
16、s3：控制所述检测装置下降，使两根所述检测探针分别与片式电容的两侧接触，以进行检测。
17、本专利技术实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：
18、相比现有的片式电容检测方法通常采用人工手动完成，效率不高，在面对多种型号且大批量的片式电容时，人工操作往往会由于片式电容体积极小，而产生操作困难，检测效率低下的问题，本专利技术提供了一种片式电容的检测夹持装置和检测方法，采用电容放置工位和检测装置的标准化可动机械结构配合工作来自动完成对片式电容的夹持以及检测，能够提高操作过程当中的准确度，提高检测效率从而能够有效解决现有技术中人工操作困难，检测效率低下的问题。
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1.一种片式电容检测夹持装置，其特征在于，包括：电容放置工位(1)、检测装置(2)和工作台(3)，
2.根据权利要求1所述的一种片式电容检测夹持装置，其特征在于，所述顶舌装置(12)包括顶舌(121)、顶杆(122)和外壳(123)，所述外壳(123)固定设置在所述安装面(31)上，所述外壳(123)设有通孔(1231)，所述顶杆(122)可滑动地穿设于通孔(1231)，所述顶舌(121)靠近所述第一端面(112)的一端开设有限位槽(1211)，所述顶舌(121)另一端和所述顶杆(122)的一端固定连接。
3.根据权利要求2所述的一种片式电容检测夹持装置，其特征在于，所述顶舌(121)和所述顶杆(122)可拆卸连接。
4.根据权利要求2所述的一种片式电容检测夹持装置，其特征在于，所述顶杆(122)上设置有与所述外壳(123)相匹配的限位部(124)。
5.根据权利要求4所述的一种片式电容检测夹持装置，其特征在于，所述片式电容检测夹持装置还包括可调限位旋钮(125)，所述可调限位旋钮(125)被配置为可使所述限位部(124)在所述顶杆
6.根据权利要求4所述的一种片式电容检测夹持装置，其特征在于，所述片式电容检测夹持装置还包括弹簧(126)，所述弹簧(126)设置于所述限位部(124)和所述外壳(123)靠近所述顶舌(121)的端面之间。
7.根据权利要求1至6任一项所述的一种片式电容检测夹持装置，其特征在于，所述第二端面(113)上设置有料槽(1131)，所述料槽(1131)有两个且分别设置于所述顶舌装置(12)的两侧。
8.根据权利要求1至6任一项所述的一种片式电容检测夹持装置，其特征在于，所述片式电容检测夹持装置还包括力控装置(22)，所述力控装置(22)被配置为可调节两个所述检测探针(21)的间距。
9.根据权利要求1至6任一项所述的一种片式电容检测夹持装置，其特征在于，所述电容放置工位(1)设有多个，所述工作台(3)上还设有水平转台(4)，所述水平转台(4)可旋转地设置于工作台(3)上，所述电容放置工位(1)呈圆形阵列分布在所述水平转台(4)上。
10.一种片式电容检测方法，基于权利要求1至9任一项所述的一种片式电容检测夹持装置，其特征在于，包括以下步骤：
...【技术特征摘要】
1.一种片式电容检测夹持装置，其特征在于，包括：电容放置工位(1)、检测装置(2)和工作台(3)，
2.根据权利要求1所述的一种片式电容检测夹持装置，其特征在于，所述顶舌装置(12)包括顶舌(121)、顶杆(122)和外壳(123)，所述外壳(123)固定设置在所述安装面(31)上，所述外壳(123)设有通孔(1231)，所述顶杆(122)可滑动地穿设于通孔(1231)，所述顶舌(121)靠近所述第一端面(112)的一端开设有限位槽(1211)，所述顶舌(121)另一端和所述顶杆(122)的一端固定连接。
3.根据权利要求2所述的一种片式电容检测夹持装置，其特征在于，所述顶舌(121)和所述顶杆(122)可拆卸连接。
4.根据权利要求2所述的一种片式电容检测夹持装置，其特征在于，所述顶杆(122)上设置有与所述外壳(123)相匹配的限位部(124)。
5.根据权利要求4所述的一种片式电容检测夹持装置，其特征在于，所述片式电容检测夹持装置还包括可调限位旋钮(125)，所述可调限位旋钮(125)被配置为可使所述限位部(124)在所述顶杆(122)上滑动或固...
【专利技术属性】
技术研发人员：张勇，李晓宇，卢奇，胡晓凤，靳俊杰，沙岩松，刘苗，
申请(专利权)人：湖北航天技术研究院计量测试技术研究所，
类型：发明
国别省市：
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