【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及led测试领域，尤其涉及一种led老化测试设备及测试方法。
技术介绍
1、led器件老化测试在产品质量控制是一个非常重要的环节，通过老化测试能发现led器件存在的缺陷和计算出其寿命。通常计算led的寿命采取有三种方法：普通条件实验外推法、温度加速寿命实验法和电流加速寿命实验法。普通条件实验外推法，该方法简单易于操作，所需测试时间太长，而温度加速寿命实验法和电流加速寿命实验法，这两种方法都是加速老化，所需的时间比较短，但不管用哪种方法，都需要每隔一定时间测量实验样品led的光、电特性数据，根据所得数据推算led在正常条件下的半衰期(即led寿命)，现有的测试设备在测试过程中，容易出现定位花费时间较多以及定位精度低的问题。
技术实现思路
1、本专利技术的第一个目的在于提供一种led老化测试设备，其旨在解决现有的测试设备在测试过程中，容易出现定位花费时间较多以及定位精度低的技术问题。
2、为达到上述目的，本专利技术提供的方案是：
3、一种led老化测试设备，包括机架、测试移动平台、定位机构和测试机构，所述测试移动平台包括控制组件、夹具组件和测试移动组件，所述夹具组件设置在所述测试移动组件上，所述夹具组件设置有用于放置led测试板的测试工位，所述夹具组件用于装夹led测试板，并给所述led测试板提供电力，所述测试移动组件设置在机架上，并用于驱动所述夹具组件横向移动和纵向移动，所述定位机构包括编码读取器和视觉组件，所述编码读取器用于读取led测试板上的编
4、优选地，所述夹具组件包括载具、对齐组件、压板、上探针组件和下探针组件，所述载具设置在所述测试移动组件上，所述载具设置有测试工位，所述载具在测试工位的区域设置有缺口，所述对齐组件设置在缺口处，用于对齐led测试板，所述上探针组件包括上探针座、上探针和上探针驱动件，所述上探针座与所述上探针驱动件连接，所述上探针安装在所述上探针座上，并位于所述测试工位的上方，所述上探针驱动件的伸出端与所述载具连接，所述压板安装在所述上探针座上，所述上探针驱动件用于驱动所述上探针座带动所述上探针和所述压板做升降运动，所述下探针组件包括下探针座、下探针和下探针驱动件，所述下探针安装在所述下探针座上，所述下探针位于所述测试工位的下方，所述下探针驱动件设置在所述上探针座上，所述下探针驱动件与所述下探针座连接，并用于驱动下所述探针座带动所述下探针做升降运动。
5、优选地，还包括中转机构和中转推送机构，所述中转机构包括中转支架和设置在所述中转支架上的推送轨道，所述中转支架设置在机架上，所述推送轨道用于放置led测试板，所述编码读取器设置在所述推送轨道下方，所述中转推送机构设置在机架上，并用于驱动led测试板在所述推送轨道和所述夹具组件的测试工位之间做往返运动。
6、优选地，所述中转推送机构包括第一推板组件、第二推板组件、推送安装板和中转推送组件，所述推送安装板与所述中转推送组件连接，所述第一推板组件包括第一推板升降驱动件和第一推板，所述第一推板升降驱动件与所述第一推板连接，用于驱动所述第一推板相对所述推送轨道做升降运动，所述第二推板组件包括第二推板升降驱动件和第二推板，所述第二推板升降驱动件与所述第二推板连接，用于驱动所述第二推板相对所述推送轨道做升降运动，所述第一推板升降驱动件和所述第二推板升降驱动件分别与所述推送安装板连接。
7、优选地，所述第一推板组件还包括第一推板安装座、第一弹性件、第一导轴和第一卡板感应器，所述第一推板安装座安装在所述第一推板升降驱动件上，所述第一导轴与所述第一推板安装座滑动连接，且所述第一导轴穿过所述第一推板安装座与所述第一推板连接，所述第一弹性件安装在所述第一导轴上，所述第一推板和所述第一弹性件分别位于所述第一推板安装座的两侧，所述第一卡板感应器安装在所述第一推板安装座上，并用于检测所述第一导轴的位置。
8、优选地，还包括上料机构，所述上料机构包括料盒、料盒升降组件和上料推送组件，所述料盒设置有多个测试板放置工位，所述料盒升降组件设置在所述机架上，所述料盒设置在所述料盒升降组件上，所述上料推送组件用于将放置在测试板放置工位的led测试板输送到推送轨道上，所述中转机构还包括位于推送轨道下方的下料推送组件，所述下料推送组件用于将完成测试的led测试板从推送轨道上输送到料盒上。
9、优选地，所述上料推送组件包括推杆支架、推杆、主动摩擦轮、从动摩擦轮和上料驱动件，所述推杆支架设置在所述机架上，所述主动摩擦轮和所述从动摩擦轮沿上下方向间隔设置在所述推杆支架上，所述上料驱动件设置在所述推杆支架上，并与所述主动摩擦轮传动连接，所述推杆夹设在所述主动摩擦轮和所述从动摩擦之间，所述下料推送组件包括下料升降气缸、下料推送气缸和下料推板，下料推送气缸与下料升降气缸连接，下料推板与下料推送气缸连接。
10、优选地，所述视觉组件包括视觉支架和工业显微镜，所述工业显微镜安装在视觉支架上，所述视觉支架安装在机架上。
11、优选地，所述测试机构包括测试支架、积分球和光探头，所述测试支架安装在机架上，所述积分球用于检测led测试板上的led器件的光色，所述光探头用于检测led测试板上的led器件的光强。
12、本专利技术的第二个目的在于提供一种led老化测试方法，包括：
13、通过编码读取器读取led测试板的编码信息，并传输给控制组件；
14、控制测试移动组件驱动夹具组件移动至视觉组件的下方；
15、通过视觉组件检测led测试板上的led器件的实时位置信息，并输出给控制组件；
16、控制组件根据led测试板上的编码信息获取该led测试板的测试程序、定位程序和led器件的位置信息；
17、若获取的led器件的位置信息与视觉组件输出的led器件的实时位置信息一致，则控制组件调用测试程序控制测试机构对led测试板上的led器件进行检测，并根据led器件的实时位置信息，调用定位程序控制测试移动组件的运动以使led测试板上的每颗led器件输送至测试机构下方。
18、本专利技术提供的方案中，通过视觉组件可以获取led测试板上的led器件的位置信息，结合编码读取器输出的信息，控制组件能够根据led测试板上的编码信息获取该led测试板的测试程序和定位程序，获取的led器件的位置信息与视觉组件输出的led器件的实时位置信息一致时，则控制组件调用测试程序对led测试板上的led器件进行检测，并根据led器件的实时位置信息，调用定位程序控制测试移动组件的运动，使得每颗led器件都能精准送到测试移动平台下方，测试完成后，将测试数据与该led测试板上本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种LED老化测试设备，其特征在于，包括机架、测试移动平台、定位机构和测试机构，所述测试移动平台包括控制组件、夹具组件和测试移动组件，所述夹具组件设置在所述测试移动组件上，所述夹具组件设置有用于放置LED测试板的测试工位，所述夹具组件用于装夹LED测试板，并给所述LED测试板提供电力，所述测试移动组件设置在机架上，并用于驱动所述夹具组件横向移动和纵向移动，所述定位机构包括编码读取器和视觉组件，所述编码读取器用于读取LED测试板上的编码信息，并输出读取的编码信息给所述控制组件，所述视觉组件设置在所述机架上，所述视觉组件输出LED测试板上的LED器件的位置信息给所述控制组件，所述控制组件用于根据所述视觉组件的输出信息和所述编码读取器的输出信息控制所述测试移动组件，所述测试机构用于检测LED测试板上的LED器件的光特性。
2.如权利要求1所述的LED老化测试设备，其特征在于，所述夹具组件包括载具、对齐组件、压板、上探针组件和下探针组件，所述载具设置在所述测试移动组件上，所述载具设置有测试工位，所述载具在测试工位的区域设置有缺口，所述对齐组件设置在缺口处，用于对齐LED测
3.如权利要求1所述的LED老化测试设备，其特征在于，还包括中转机构和中转推送机构，所述中转机构包括中转支架和设置在所述中转支架上的推送轨道，所述中转支架设置在机架上，所述推送轨道用于放置LED测试板，所述编码读取器设置在所述推送轨道下方，所述中转推送机构设置在机架上，并用于驱动LED测试板在所述推送轨道和所述夹具组件的测试工位之间做往返运动。
4.如权利要求3所述的LED老化测试设备，其特征在于，所述中转推送机构包括第一推板组件、第二推板组件、推送安装板和中转推送组件，所述推送安装板与所述中转推送组件连接，所述第一推板组件包括第一推板升降驱动件和第一推板，所述第一推板升降驱动件与所述第一推板连接，用于驱动所述第一推板相对所述推送轨道做升降运动，所述第二推板组件包括第二推板升降驱动件和第二推板，所述第二推板升降驱动件与所述第二推板连接，用于驱动所述第二推板相对所述推送轨道做升降运动，所述第一推板升降驱动件和所述第二推板升降驱动件分别与所述推送安装板连接。
5.如权利要求4所述的LED老化测试设备，其特征在于，所述第一推板组件还包括第一推板安装座、第一弹性件、第一导轴和第一卡板感应器，所述第一推板安装座安装在所述第一推板升降驱动件上，所述第一导轴与所述第一推板安装座滑动连接，且所述第一导轴穿过所述第一推板安装座与所述第一推板连接，所述第一弹性件安装在所述第一导轴上，所述第一推板和所述第一弹性件分别位于所述第一推板安装座的两侧，所述第一卡板感应器安装在所述第一推板安装座上，并用于检测所述第一导轴的位置。
6.如权利要求3所述的LED老化测试设备，其特征在于，还包括上料机构，所述上料机构包括料盒、料盒升降组件和上料推送组件，所述料盒设置有多个测试板放置工位，所述料盒升降组件设置在所述机架上，所述料盒设置在所述料盒升降组件上，所述上料推送组件用于将放置在测试板放置工位的LED测试板输送到推送轨道上，所述中转机构还包括位于推送轨道下方的下料推送组件，所述下料推送组件用于将完成测试的LED测试板从推送轨道上输送到料盒上。
7.如权利要求6所述的LED老化测试设备，其特征在于，所述上料推送组件包括推杆支架、推杆、主动摩擦轮、从动摩擦轮和上料驱动件，所述推杆支架设置在所述机架上，所述主动摩擦轮和所述从动摩擦轮沿上下方向间隔设置在所述推杆支架上，所述上料驱动件设置在所述推杆支架上，并与所述主动摩擦轮传动连接，所述推杆夹设在所述主动摩擦轮和所述从动摩擦之间，所述下料推送组件包括下料升降气缸、下料推送气缸和下料推板，下料推送气缸与下料升降气缸连接，下料推板与下料推送气缸连接。
8.如权利要求1所述的LED老化测试设备，其特征在于，所述视觉组件包括视觉支架和工业显微镜，所述工业显微镜安装在视觉支架上，所述视觉支架安装在机架上。
9.如权利要求1所述的LED老化测试设...
【技术特征摘要】
1.一种led老化测试设备，其特征在于，包括机架、测试移动平台、定位机构和测试机构，所述测试移动平台包括控制组件、夹具组件和测试移动组件，所述夹具组件设置在所述测试移动组件上，所述夹具组件设置有用于放置led测试板的测试工位，所述夹具组件用于装夹led测试板，并给所述led测试板提供电力，所述测试移动组件设置在机架上，并用于驱动所述夹具组件横向移动和纵向移动，所述定位机构包括编码读取器和视觉组件，所述编码读取器用于读取led测试板上的编码信息，并输出读取的编码信息给所述控制组件，所述视觉组件设置在所述机架上，所述视觉组件输出led测试板上的led器件的位置信息给所述控制组件，所述控制组件用于根据所述视觉组件的输出信息和所述编码读取器的输出信息控制所述测试移动组件，所述测试机构用于检测led测试板上的led器件的光特性。
2.如权利要求1所述的led老化测试设备，其特征在于，所述夹具组件包括载具、对齐组件、压板、上探针组件和下探针组件，所述载具设置在所述测试移动组件上，所述载具设置有测试工位，所述载具在测试工位的区域设置有缺口，所述对齐组件设置在缺口处，用于对齐led测试板，所述上探针组件包括上探针座、上探针和上探针驱动件，所述上探针座与所述上探针驱动件连接，所述上探针安装在所述上探针座上，并位于所述测试工位的上方，所述上探针驱动件的伸出端与所述载具连接，所述压板安装在所述上探针座上，所述上探针驱动件用于驱动所述上探针座带动所述上探针和所述压板做升降运动，所述下探针组件包括下探针座、下探针和下探针驱动件，所述下探针安装在所述下探针座上，所述下探针位于所述测试工位的下方，所述下探针驱动件设置在所述上探针座上，所述下探针驱动件与所述下探针座连接，并用于驱动下所述探针座带动所述下探针做升降运动。
3.如权利要求1所述的led老化测试设备，其特征在于，还包括中转机构和中转推送机构，所述中转机构包括中转支架和设置在所述中转支架上的推送轨道，所述中转支架设置在机架上，所述推送轨道用于放置led测试板，所述编码读取器设置在所述推送轨道下方，所述中转推送机构设置在机架上，并用于驱动led测试板在所述推送轨道和所述夹具组件的测试工位之间做往返运动。
4.如权利要求3所述的led老化测试设备，其特征在于，所述中转推送机构包括第一推板组件、第二推板组件、推送安装板和中转推送组件，所述推送安装板与所述中转推送组件连接，所述第一推板组件包括第一推板升降驱动件和第一推板，所述第一...
【专利技术属性】
技术研发人员：康茂，陈伟明，陈树钊，单忠频，黄昌浩，陈志敏，钟土基，
申请(专利权)人：广东歌得智能装备有限公司，
类型：发明
国别省市：
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