【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及type-c连接检测方法，尤其涉及针对双角色设备的type-c连接检测方法。
技术介绍
1、随着usb type-c标准的普及，越来越多的电子设备采用usb type-c连接系统进行充电和数据交互，某些drp设备(双角色设备，例如充电宝、电动工具)由于采用电池供电，对工作电流要求较高。例如，在无外部连接(下称应用情景1)或只连接内置emarker芯片线缆(下称应用情景2)的情境下，工作电流只允许数微安(ua)。只有外部存在充电器或被充电设备时，方可启动主控，进入正常工作模式，处理后续充放电管理。
2、现有技术中，标准usb type-c drp连接检测方式采用精准检测电路，然而，精准检测电路功耗较大，近百微安(ua)，无法满足功耗要求。无外部连接时功耗为数微安(ua)，可以满足需求；但只连接内置emarker芯片线缆时，功耗依然近百微安(ua)，无法满足功耗需求。
3、因此，亟需一种能在不同应用情景下均满足低功耗需求的type-c连接检测方法。
技术实现思路
1、为了提供一种能在不同应用情景下均满足低功耗需求的type-c连接检测方法，本专利技术提供了一种type-c连接检测方法。
2、该type-c连接检测方法包括但不限于以下步骤：
3、向双角色设备的cc1端口提供独立的低功耗粗检测电路和精确检测电路；
4、向双角色设备的cc2端口提供独立的低功耗粗检测电路和精确检测电路；
5、在source阶
6、当所述检测结果为外部只有线缆连接时，立刻关闭连接该线缆的端口所对应的所述精确检测电路，该端口的source阶段的剩余时间不再检测。
7、在一个实施例中，所述方法还包括：
8、根据第一控制逻辑控制所述cc1端口的低功耗粗检测电路和精确检测电路的开启和关闭以及与cc1端口的连接；
9、根据第二控制逻辑控制所述cc2端口的低功耗粗检测电路和精确检测电路的开启和关闭以及与cc2端口的连接；
10、其中，所述第一控制逻辑与所述第二控制逻辑独立，所述第一控制逻辑和所述第二控制逻辑由一逻辑控制电路执行。
11、在一个实施例中，所述方法还包括：
12、对cc1端口的source阶段的连接检测设置四个工作状态：s1、s2、s3、s4；
13、其中，s1为cc1低功耗粗检测状态，对于每个检测周期，进入source阶段的初始工作状态为s1；在s1期间，关闭并断开cc1端口的精确检测电路，开启cc1端口的低功耗粗检测电路并将cc1端口的低功耗粗检测电路连接至cc1端口；
14、其中，s2为第一cc1精确检测状态，在s2期间，关闭并断开cc1端口的粗检测电路，开启cc1端口的精确检测电路并连接cc1端口；
15、其中，s3为cc1无检测状态，在s3期间，关闭并断开cc1端口的精确检测电路，检测结果为无连接；
16、其中，s4为第二cc1精确检测状态，在s4期间，开启cc1端口的精确检测电路并连接cc1端口。
17、在一个实施例中，所述第一控制逻辑包括：
18、在s1状态时，当cc1端口检测到外部有连接时，则s1状态跳转到s2状态；
19、在s1状态时，当cc2端口检测到受电设备内部的下拉电阻，则s1状态跳转到s4状态；
20、在s1状态时，当source阶段结束，则s1状态跳转到sink阶段状态机。
21、在一个实施例中，所述方法所述第一控制逻辑包括：
22、在s2状态时，当cc1端口检测到线缆内建的下拉电阻，且cc2处于低功耗检测状态，则s2状态跳转到s3状态；
23、在s2状态时，当cc1端口或cc2端口检测到受电设备内部的下拉电阻，或者当cc1端口和cc2端口均检测到线缆内建的下拉电阻，则s2状态跳转到s4状态；
24、在s2状态时，当source阶段结束，则s2状态跳转到sink阶段状态机。
25、在一个实施例中，所述第一控制逻辑包括：
26、在s3状态时，当cc2端口检测到受电设备内部的下拉电阻，则s3状态跳转到s4状态；
27、在s3状态时，当source阶段结束，则s3状态跳转到sink阶段状态机。
28、在一个实施例中，所述方法还包括：
29、对cc2端口的source阶段的连接检测设置四个工作状态：s1’、s2’、s3’、s4’；
30、其中，s1’为cc2低功耗粗检测状态，对于每个检测周期，进入source阶段的初始工作状态为s1’；在s1’期间，关闭并断开cc2端口的精确检测电路，开启cc2端口的低功耗粗检测电路并将cc2端口的低功耗粗检测电路连接至cc2端口；
31、其中，s2’为第一cc2精确检测状态，在s2’期间，关闭并断开cc2端口的粗检测电路，开启cc2端口的精确检测电路并连接cc2端口；
32、其中，s3’为cc2无检测状态，在s3’期间，关闭并断开cc2端口的精确检测电路，检测结果为无连接；
33、其中，s4’为第二cc2精确检测状态，在s4’期间，开启cc2端口的精确检测电路并连接cc2端口。
34、在一个实施例中，所述第二控制逻辑包括：
35、在s1’状态时，当cc2端口检测到外部有连接时，则s1’状态跳转到s2’状态；
36、在s1’状态时，当cc1端口检测到受电设备内部的下拉电阻，则s1’状态跳转到s4’状态；
37、在s1’状态时，当source阶段结束，则s1’状态跳转到sink阶段状态机。
38、在一个实施例中，所述第二控制逻辑包括：
39、在s2’状态时，当cc2端口检测到线缆内建的下拉电阻，且cc1处于低功耗检测状态，则s2’状态跳转到s3’状态；
40、在s2’状态时，当cc1端口或cc2端口检测到受电设备内部的下拉电阻，或者当cc1端口和cc2端口均检测到线缆内建的下拉电阻，则s2’状态跳转到s4’状态；
41、在s2’状态时，当source阶段结束，则s2’状态跳转到sink阶段状态机。
42、在一个实施例中，所述第二控制逻辑包括：
43、在s3’状态时，当cc1端口检测到受电设备内部的下拉电阻，则s3’状态跳转到s4’状态；
44、在s3’状态时，当source阶段结束，则s3’状态跳转到sink阶段状态机。
45、根据本专利技术的低功耗type-c drp source阶段连接检测方法，进入source阶段时，两个连接端口(cc1/cc2)采用独立的低功耗粗检测电路进行检测，如果外部无连接，保本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种TYPE-C连接检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的TYPE-C连接检测方法，其特征在于，还包括：
3.如权利要求2所述的TYPE-C连接检测方法，其特征在于，还包括：
4.如权利要求3所述的TYPE-C连接检测方法，其特征在于，所述第一控制逻辑包括：
5.如权利要求3所述的TYPE-C连接检测方法，其特征在于，所述第一控制逻辑包括：
6.如权利要求3所述的TYPE-C连接检测方法，其特征在于，所述第一控制逻辑包括：
7.如权利要求2所述的TYPE-C连接检测方法，其特征在于，还包括：
8.如权利要求7所述的TYPE-C连接检测方法，其特征在于，所述第二控制逻辑包括：
9.如权利要求7所述的TYPE-C连接检测方法，其特征在于，所述第二控制逻辑包括：
10.如权利要求7所述的TYPE-C连接检测方法，其特征在于，所述第二控制逻辑包括：
【技术特征摘要】
1.一种type-c连接检测方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的type-c连接检测方法，其特征在于，还包括：
3.如权利要求2所述的type-c连接检测方法，其特征在于，还包括：
4.如权利要求3所述的type-c连接检测方法，其特征在于，所述第一控制逻辑包括：
5.如权利要求3所述的type-c连接检测方法，其特征在于，所述第一控制逻辑包括：
6.如权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员：吴海波，司旭，
申请(专利权)人：中颖电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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