系统结构、功能和性能综合测试覆盖定量分析方法技术方案
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种本专利技术涉及一种系统结构、功能和性能综合的测试覆盖定量分析方法，属于测试性
技术介绍
测试性是系统和设备的一种便于测试和诊断的重要设计特性。具有良好测试性的系统和设备，可以及时、快速地检测与隔离故障，提高执行任务的可靠性与安全性，缩短故障检测与隔离时间，进而减少维修时间，提高系统可用性，减低系统使用保障费用。在传统的测试性中，是以系统的故障作为对象进行测试，并采用故障检测率和故障隔离率来度量和评价各种类型测试对系统故障的测试覆盖能力。在工程实际中，针对故障测试覆盖情况的分析和改进具有很大的不便性，主要体现在两个方面，第一是对故障的分析处理需要复杂的可靠性专业知识和工作来支持；第二是工程设计人员在系统设计时，直接面对的是系统的性能参数、功能、结构，而不是故障，由于二者之间没有直接的相关关系，因此工程设计人员不能根据故障测试覆盖情况直观的知道测试在系统性能参数、功能或者结构覆盖方面的设计缺陷，不便于开展相应的改进工作。根据系统的测试配置，直接分析出对系统结构、功能和性能参数的覆盖程度，对定量评价测试覆盖能力、发现测试设计缺陷具有重要的作用，但目前还没有相应的定量分析方法和工具支持。
技术实现思路
本专利技术的目的是通过建立一种系统结构、功能和性能参数综合测试覆盖定量分析方法，主要是通过建立系统结构、功能、性能参数之间的关联关系，以及功能、性能参数与测试之间的关联关系，定量计算出测试的性能参数覆盖率、功能覆盖率和结构覆盖率，并发现测试在性能参数、功能、结构覆盖方面的设计缺陷，为测试设计改进提供建议。本专利技术的系统结构、功能和性能综合...
【技术保护点】
系统结构、功能和性能综合测试覆盖定量分析方法，其特征在于，包括以下几个步骤：步骤一：建立系统的结构、功能、性能参数和测试基本信息；系统结构、功能、性能和测试基本信息的元组模型如下：Ｍ↓［Ｂ］＝（Ｓ，Ｆ，Ｐ，Ｔ）（１）其中，Ｍ↓［Ｂ］代表系统结构、功能、性能参数和测试基本信息模型；Ｓ代表系统的结构集合，Ｓ＝｛ｓ↓［ｉ］｜ｉ＝１～ｌ｝，ｓ↓［ｉ］是系统结构划分中特定层次位置的第ｉ个结构单元；ｓ↓［ｉ］＝（ｓ↓［ｉａ］，ｓ↓［ｉｎ］），ｓ↓［ｉａ］代表第ｉ个结构单元的编号，ｓ↓［ｉＲ＝｜Ｐ′｜／｜Ｐ｜＊１００％（３）式中，Ｐ表示性能参数集合，｜Ｐ｜表示集合Ｐ中性能参数的数量；Ｐ’表示由特定类型测试直接关联的性能参数组成的集合，｜Ｐ′｜表示集合Ｐ’中性能参数的数量；性能参数覆盖率的计算过程如下：ａ）根据系统的性能参数集合Ｐ，确定出性能参数的数量｜Ｐ｜；ｂ）根据系统的性能参数与测试直接关联关系集合Ｒ↓［Ｐ－Ｔ］，依据指定的测试类型，确定出该类型所有测试项关联的所有性能参数，得到集合Ｐ’，确定集合Ｐ’中性能参数的数量｜Ｐ′｜；ｃ）根据公式（３）计算得到性能参数覆盖率；＜２＞功能覆盖率的计算；功能覆...
【技术特征摘要】
1.系统结构、功能和性能综合测试覆盖定量分析方法，其特征在于，包括以下几个步骤：步骤一：建立系统的结构、功能、性能参数和测试基本信息；系统结构、功能、性能和测试基本信息的元组模型如下：MB＝(S，F，P，T) ...
【专利技术属性】
技术研发人员：石君友，李金忠，王风武，纪超，史萌，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]
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