一种半导体用冷热冲击试验设备制造技术

本技术提供一种半导体用冷热冲击试验设备，涉及半导体冷热冲击试验技术领域，包括：实验设备本体，所述实验设备本体一侧处设有控位机构，所述控位机构中部处设有辅助机构。本技术通过设置的实验设备本体与控位机构和辅助机构之间的相互配合，在不影响对半导体冷热冲击试验的基本条件下，通过对内部组件进行隔热防护从而可延长内部组件的使用寿命，且通过设置的控位机构与辅助机构可在对半导体进行实验操作时，通过对半导体进行旋转操作从而便于提高实验的稳定性，且在实验完成后，控位机构可控制半导体连接的元件进行移动，从而不需等待内部热冷气散去后对实验的半导体进行收集，在一定程度上提高了半导体冷热实验时的稳定性与便利性。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及半导体冷热冲击试验，尤其涉及一种半导体用冷热冲击试验设备。

技术介绍

1、冷热冲击试验箱是金属、塑料、橡胶、电子等材料行业必备的测试设备，用于测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下忍受的程度，得以在最短时间内检测试样因热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。

2、但是现有技术中，现有的公开号为cn218180576u的一种快速检测试样的半导体冷热冲击试验箱，包括箱体设于所述箱体内、以将箱体通过隔离板被分为加热腔和冷冻腔，所述隔离板开设有贯穿其厚度方向的通槽；设于箱体内的容纳装置，所述容纳装置包括：转动式装配于隔离板内且含有对称设置的容纳槽的转动柱、嵌设于所述容纳槽中用于装夹工件的夹持组件。本技术通过隔离板将箱体的空腔分为加热腔和冷冻腔，通过转动板上的两个容纳槽固定夹持工件的夹持组件，通过转动柱的转动实现工件在加热腔与冷冻腔的转移，达到试验目的。

3、所述的一种快速检测试样的半导体冷热冲击试验箱在进行使用时，虽可以对半导体进行基础的冷热冲击试验，但在试验的过程中，因转动元件与热气与冷气采用直接接触的状态，在实际使用的过程中，可能因长期处于快速热胀冷缩的状态下导致转动元件受损的情况出现，且本实用中未设有可将半导体拿出的元件，在实际使用的过程中可能需要等待机体内部的热冷气散去后才可对半导体进行检查，且通过人力收集的方式可能会使工作者受到热气烫伤或冷气冻伤的情况出现，在一定程度上具有一定的不稳定性与不便性，具有一定的技术缺陷。

技术实现思路

<p>1、本技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，在进行半导体冷热冲击试验时，常规的实验器具在进行使用时无法对内部组件进行防护，且在进行使用时，常常需要等待内部的热冷气散去后才能对半导体进行收集，提供一种半导体用冷热冲击试验设备。

2、为了实现上述目的，本技术采用了如下技术方案：一种半导体用冷热冲击试验设备，包括：实验设备本体，所述实验设备本体一侧处设有控位机构，所述控位机构中部处设有辅助机构，所述辅助机构设有卡位旋块，所述卡位旋块一端外侧处卡合连接有卡固槽，所述卡固槽开槽设于固定座一端中部处，所述固定座两侧四分点中部处固定连接有两个夹块。

3、作为一种优选的实施方式，所述固定座另一端中部处转动连接有轴承，所述轴承另一端固定连接有固位盖，所述固位盖两侧四分点处固定连接有卡块，所述卡块外侧处卡合连接有连接舱体。

4、作为一种优选的实施方式，所述连接舱体两侧四分点中部处开槽设有进气槽，所述连接舱体一端中部处贯穿连接有卡位旋块，所述卡位旋块一端外侧处贯穿连接有进气舱体。

5、作为一种优选的实施方式，所述进气舱体一侧中部处贯穿连接有螺纹杆，所述螺纹杆一端未设有螺纹处固定连接有旋手，所述螺纹杆两端端头处贯穿连接有控位槽体。

6、作为一种优选的实施方式，所述螺纹杆外侧圆周设有螺纹处螺纹连接有移动块，所述移动块一端固定连接有连接舱体，所述移动块外侧处嵌合连接有控位槽体。

7、作为一种优选的实施方式，所述控位槽体外侧处固定连接于进气舱体内侧两端处，所述进气舱体内侧两端处设有腔位，所述进气舱体内侧槽位两端处固定连接有隔热板。

8、作为一种优选的实施方式，所述进气舱体中部一侧处固定连接有旋轴，所述旋轴一侧四分点处转动连接有开关门，所述开关门一侧处固定连接有把手。

9、与现有技术相比，本技术的优点和积极效果在于：

10、本技术通过设置的实验设备本体与控位机构和辅助机构之间的相互配合，在不影响对半导体冷热冲击试验的基本条件下，通过对内部组件进行隔热防护从而可延长内部组件的使用寿命，且通过设置的控位机构与辅助机构可在对半导体进行实验操作时，通过对半导体进行旋转操作从而便于提高实验的稳定性，且在实验完成后，控位机构可控制半导体连接的元件进行移动，从而不需等待内部热冷气散去后对实验的半导体进行收集，在一定程度上提高了半导体冷热实验时的稳定性与便利性。

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【技术保护点】

1.一种半导体用冷热冲击试验设备，其特征在于，包括：实验设备本体(1)，所述实验设备本体(1)一侧处设有控位机构(2)，所述控位机构(2)中部处设有辅助机构(3)，所述辅助机构(3)设有卡位旋块(31)，所述卡位旋块(31)一端外侧处卡合连接有卡固槽(33)，所述卡固槽(33)开槽设于固定座(35)一端中部处，所述固定座(35)两侧四分点中部处固定连接有两个夹块(39)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体用冷热冲击试验设备，其特征在于：所述固定座(35)另一端中部处转动连接有轴承(36)，所述轴承(36)另一端固定连接有固位盖(37)，所述固位盖(37)两侧四分点处固定连接有卡块(38)，所述卡块(38)外侧处卡合连接有连接舱体(32)。

3.根据权利要求2所述的一种半导体用冷热冲击试验设备，其特征在于：所述连接舱体(32)两侧四分点中部处开槽设有进气槽(34)，所述连接舱体(32)一端中部处贯穿连接有卡位旋块(31)，所述卡位旋块(31)一端外侧处贯穿连接有进气舱体(11)。

4.根据权利要求3所述的一种半导体用冷热冲击试验设备，其特征在于：所述进气舱体(11)一侧中部处贯穿连接有螺纹杆(24)，所述螺纹杆(24)一端未设有螺纹处固定连接有旋手(23)，所述螺纹杆(24)两端端头处贯穿连接有控位槽体(21)。

5.根据权利要求4所述的一种半导体用冷热冲击试验设备，其特征在于：所述螺纹杆(24)外侧圆周设有螺纹处螺纹连接有移动块(22)，所述移动块(22)一端固定连接有连接舱体(32)，所述移动块(22)外侧处嵌合连接有控位槽体(21)。

6.根据权利要求5所述的一种半导体用冷热冲击试验设备，其特征在于：所述控位槽体(21)外侧处固定连接于进气舱体(11)内侧两端处，所述进气舱体(11)内侧两端处设有腔位(16)，所述进气舱体(11)内侧槽位两端处固定连接有隔热板(15)。

7.根据权利要求5所述的一种半导体用冷热冲击试验设备，其特征在于：所述进气舱体(11)中部一侧处固定连接有旋轴(12)，所述旋轴(12)一侧四分点处转动连接有开关门(13)，所述开关门(13)一侧处固定连接有把手(14)。

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【技术特征摘要】

1.一种半导体用冷热冲击试验设备，其特征在于，包括：实验设备本体(1)，所述实验设备本体(1)一侧处设有控位机构(2)，所述控位机构(2)中部处设有辅助机构(3)，所述辅助机构(3)设有卡位旋块(31)，所述卡位旋块(31)一端外侧处卡合连接有卡固槽(33)，所述卡固槽(33)开槽设于固定座(35)一端中部处，所述固定座(35)两侧四分点中部处固定连接有两个夹块(39)。

2.根据权利要求1所述的一种半导体用冷热冲击试验设备，其特征在于：所述固定座(35)另一端中部处转动连接有轴承(36)，所述轴承(36)另一端固定连接有固位盖(37)，所述固位盖(37)两侧四分点处固定连接有卡块(38)，所述卡块(38)外侧处卡合连接有连接舱体(32)。

3.根据权利要求2所述的一种半导体用冷热冲击试验设备，其特征在于：所述连接舱体(32)两侧四分点中部处开槽设有进气槽(34)，所述连接舱体(32)一端中部处贯穿连接有卡位旋块(31)，所述卡位旋块(31)一端外侧处贯穿连接有进气舱体(11)。

4.根据权利要求3所...

【专利技术属性】
技术研发人员：汪金文，汪明炉，王锦，
申请(专利权)人：果果仪器科技上海有限公司，
类型：新型
国别省市：