【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及零件检测设备领域，特别是涉及一种高亮表面缺陷检测装置。
技术介绍
1、现有制造领域，随着高亮面零件的广泛运用，对于小尺寸高亮镜面类零件缺陷的检测需求也随之增大。在现有的检测方法中，相位偏折术是镜面三维测量技术中常用的方法，由于其系统较为简单、抗干扰能力强，可测量复杂曲面，从而备受关注。相位偏折术的原理为通过显示屏显示有规律的条纹图，相机拍摄到由被测镜面反射的变形条纹图，通过计算其几何关系得到被测表面的梯度，再通过数值积分得到镜面三维面形，并以此进行缺陷判断。
2、该检测方法相对成熟，但在实际的运用中仍存在一定缺陷，如现有检测设备中的相机组与投影屏幕采用固定板固定，这就意味着相机组和投影屏幕相对位置是固定的。当在对曲率变化较大、高度不一定的零件进行检测时，这种固定的设计可能会导致部分视场丢失的现象，导致检测质量降低且需要增加检测次数，极大的提高了检测成本。
3、故提供一种能够改变相机组和投影屏幕相对位置的小尺寸高亮镜面类零件检测装置，是本领域亟待解决的技术问题。
技术实现思路
1、为解决上述至少一项技术问题，本专利技术提供一种高亮表面缺陷检测装置。
2、本专利技术是这样实现的，包括活动行架、光源模块、采集模块以及置物台；活动行架，用于承载光源模块和采集模块，并活动调节二者的相对位置；光源模块，用于对待检测物进行投影照明；采集模块，用于对待检测物上光源模块投影的图案，进行图像采集；置物台，位于活动行架中心位置，用于摆放待检测物。
...【技术保护点】
1.一种高亮表面缺陷检测装置，其特征在于，包括活动行架(10)、光源模块(20)、采集模块(30)以及置物台(40)；
2.根据权利要求1所述的高亮表面缺陷检测装置，其特征在于，活动行架(10)，包括：至少两根平行设备的纵梁(101)和至少一根设置于纵梁(101)之间的横梁(102)；光源模块(20)和采集模块(30)，根据相对位置需求，设置在同一根横梁(102)上；或设置在不同根横梁(102)上；或其一设置在纵梁(101)上，另一个设置在横梁(102)上。
3.根据权利要求1所述的高亮表面缺陷检测装置，其特征在于，采集模块(30)包括连接于活动行架(10)上的横移组件、活动连接于横移组件上的纵移组件以及位于纵移组件上用于进行图像采集的采集件(303)。
4.根据权利要求3所述的高亮表面缺陷检测装置，其特征在于，所述横移组件，包括设置在活动行架(10)上的滑槽(1021)，以及设置在滑槽(1021)内具有倾斜角度的延伸板(301)。
5.根据权利要求4所述的高亮表面缺陷检测装置，其特征在于，所述延伸板(301)包括用于与滑槽(102
6.根据权利要求4所述的高亮表面缺陷检测装置，其特征在于，所述纵移组件包括活动连接于延伸板(301)上的采集件连接板(302)。
7.根据权利要求1所述的高亮表面缺陷检测装置，其特征在于，所述置物台(40)包括伸缩架(401)和位于伸缩架(401)顶部的盛放板(402)。
8.根据权利要求1所述的高亮表面缺陷检测装置，其特征在于，还包括用于隔绝外界光源的遮光组件(50)。
9.根据权利要求8所述的高亮表面缺陷检测装置，其特征在于，遮光组件(50)包括位于活动行架(10)顶部的遮光盖(501)和位于活动行架(10)外围的遮光板(502)。
10.根据权利要求1-9任意一项所述的高亮表面缺陷检测装置，其特征在于，还包括位于活动行架(10)底部，用于移动活动行架(10)的移动台(60)。
...【技术特征摘要】
1.一种高亮表面缺陷检测装置，其特征在于，包括活动行架(10)、光源模块(20)、采集模块(30)以及置物台(40)；
2.根据权利要求1所述的高亮表面缺陷检测装置，其特征在于，活动行架(10)，包括：至少两根平行设备的纵梁(101)和至少一根设置于纵梁(101)之间的横梁(102)；光源模块(20)和采集模块(30)，根据相对位置需求，设置在同一根横梁(102)上；或设置在不同根横梁(102)上；或其一设置在纵梁(101)上，另一个设置在横梁(102)上。
3.根据权利要求1所述的高亮表面缺陷检测装置，其特征在于，采集模块(30)包括连接于活动行架(10)上的横移组件、活动连接于横移组件上的纵移组件以及位于纵移组件上用于进行图像采集的采集件(303)。
4.根据权利要求3所述的高亮表面缺陷检测装置，其特征在于，所述横移组件，包括设置在活动行架(10)上的滑槽(1021)，以及设置在滑槽(1021)内具有倾斜角度的延伸板(301)。
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【专利技术属性】
技术研发人员：葛俊辉，胡知非，杨东，邓文平，
申请(专利权)人：湖南视比特机器人有限公司，
类型：发明
国别省市：
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