本申请适用于参数化单元技术领域，提供了一种设计规则检查的覆盖率确定方法、装置、电子设备及介质。设计规则检查的覆盖率确定方法，包括：对参数化单元创建的多个版图实例进行设计规则检查；其中，每个版图实例对应一个参数组合；确定多个版图实例中设计规则检查通过的版图实例的第一数量；获取满足预设的参数组合设计规则的所有参数组合的第二数量；根据第一数量和第二数量，确定设计规则检查的覆盖率。通过本申请的设计规则检查的覆盖率确定方法，可以通过电子设备自动统计参数化单元的设计规则检查的覆盖率，无需人工统计，提高了获取参数化单元的设计规则检查的覆盖率的效率。
【技术实现步骤摘要】
本申请属于参数化单元，尤其涉及一种设计规则检查的覆盖率确定方法、装置、电子设备及介质。
技术介绍
1、随着集成电路工艺的进步，芯片的集成度越来越高，集成的单元模块也越来越多，重复调用的单元模块又可能进行参数微调，人工修改大大增加了工作量且效率很低，因此需要使用参数化单元来提高集成电路的设计效率。
2、在实际应用中，需要对参数化单元所使用的参数组合进行设计规则检查，由于参数化单元可以使用的参数组合数量众多，通常是对参数组合抽样进行设计规则检查，在现有技术中，无法统计进行了设计规则检查的参数组合的覆盖率，因此获取参数化单元的设计规则检查的覆盖率的效率较低。
技术实现思路
1、有鉴于此，本申请实施例提供了一种设计规则检查的覆盖率确定方法、装置、电子设备及介质，以解决现有的获取参数化单元的设计规则检查的覆盖率的效率较低的技术问题。
2、第一方面，本申请实施例提供一种设计规则检查的覆盖率确定方法，所述方法包括：
3、对参数化单元创建的多个版图实例进行设计规则检查；其中，每个所述版图实例对应一个参数组合；
4、确定所述设计规则检查通过的版图实例的第一数量；
5、获取满足预设的参数组合设计规则的所有参数组合的第二数量；
6、根据所述第一数量和所述第二数量，确定所述设计规则检查的覆盖率。
7、可选的，在对所述参数化单元创建的多个版图实例进行设计规则检查之前，还包括：
8、加载预设的参数化单元脚本文件；</p>9、从所述参数化单元脚本文件中获取与所述多个版图实例的数量相同且满足所述参数组合设计规则的参数组合；
10、根据所述与所述多个版图实例的数量相同且满足所述参数组合设计规则的参数组合，创建出所述多个版图实例。
11、可选的，所述对参数化单元创建的多个版图实例进行设计规则检查，包括：
12、在对所述多个版图实例进行设计规则检查的过程中，若检查到所述多个版图实例中存在所述设计规则检查不通过的版图实例，则对所述参数化单元脚本文件进行修改，并返回执行所述从所述参数化单元脚本文件中获取与所述多个版图实例的数量相同且满足所述参数组合设计规则的参数组合的步骤以及后续步骤。
13、可选的，所述对参数化单元创建的多个版图实例进行设计规则检查，包括：
14、在对所述多个版图实例进行设计规则检查的过程中，若所述多个版图实例中的一个版图实例的设计规则检查通过，则检测当前已通过所述设计规则检查的版图实例的数量；
15、若当前已通过所述设计规则检查的版图实例的数量达到预设阈值，则结束对所述多个版图实例进行的设计规则检查。
16、可选的，在所述对所述参数化单元创建的多个版图实例进行设计规则检查之后，还包括：
17、若所述多个版图实例中所述设计规则检查通过的版图实例的数量未达到所述预设阈值，则返回执行所述从所述参数化单元脚本文件中获取与所述多个版图实例的数量相同且满足所述参数组合设计规则的参数组合的步骤以及后续步骤。
18、可选的，任意一个参数组合是否满足所述参数组合设计规则通过以下方式确定：
19、根据所述参数组合设计规则，确定参数值下限和参数值上限；
20、若所述任意一个参数组合包含的各个参数均处于所述参数值下限和所述参数值上限之间，且所述各个参数之间的关系也符合所述参数组合设计规则中制定的参数关系规则，则确定所述任意一个参数组合满足所述参数组合设计规则。
21、可选的，所述获取满足预设的参数组合设计规则的所有参数组合的第二数量，包括：根据所述参数组合设计规则，确定参数值下限、参数值上限和最小格点值；
22、根据所述参数值下限、所述参数值上限和所述最小格点值，利用预设的参数向下取整函数计算得到所述第二数量。
23、第二方面，本申请实施例提供一种设计规则检查的覆盖率确定装置，所述装置包括：
24、设计规则检查单元，用于对所述参数化单元创建的多个版图实例进行设计规则检查；其中，每个所述版图实例对应一个参数组合；
25、第一数量确定单元，用于确定所述多个版图实例中所述设计规则检查通过的版图实例的第一数量；
26、第二数量确定单元，用于获取满足预设的参数组合设计规则的所有参数组合的第二数量；
27、覆盖率确定单元，用于根据所述第一数量和所述第二数量，确定所述设计规则检查的覆盖率。
28、第三方面，本申请实施例提供一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述第一方面任一项所述设计规则检查的覆盖率确定方法中的各步骤。
29、第四方面，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述第一方面任一项所述的设计规则检查的覆盖率确定方法中的各步骤。
30、第五方面，本申请实施例提供一种计算机程序产品，当计算机程序产品在终端设备上运行时，使得终端设备执行如上述第一方面任一项所述的设计规则检查的覆盖率确定方法中的各步骤。
31、本申请实施例提供的设计规则检查的覆盖率确定方法、装置、电子设备及介质具有以下有益效果：
32、在本申请实施例提供的设计规则检查的覆盖率确定方法中，通过对参数化单元创建的多个版图实例进行设计规则检查，并确定多个版图实例中设计规则检查通过的版图实例的第一数量，且获取满足预设的参数组合设计规则的所有参数组合的第二数量，再根据第一数量和第二数量，确定设计规则检查的覆盖率。通过本申请的设计规则检查的覆盖率确定方法，可以通过电子设备自动统计参数化单元的设计规则检查的覆盖率，无需人工统计，提高了获取参数化单元的设计规则检查的覆盖率的效率。
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【技术保护点】
1.一种设计规则检查的覆盖率确定方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述对参数化单元创建的多个版图实例进行设计规则检查之前，还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对参数化单元创建的多个版图实例进行设计规则检查，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对参数化单元创建的多个版图实例进行设计规则检查，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述对参数化单元创建的多个版图实例进行设计规则检查之后，还包括：
6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，任意一个参数组合是否满足所述参数组合设计规则通过以下方式确定：
7.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，所述获取满足预设的参数组合设计规则的所有参数组合的第二数量，包括：
8.一种设计规则检查的覆盖率确定装置，其特征在于，包括：
9.一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7任一项所述设计规则检查的覆盖率确定方法中的各步骤。
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述设计规则检查的覆盖率确定方法中的各步骤。
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【技术特征摘要】
1.一种设计规则检查的覆盖率确定方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述对参数化单元创建的多个版图实例进行设计规则检查之前，还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对参数化单元创建的多个版图实例进行设计规则检查，包括：
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对参数化单元创建的多个版图实例进行设计规则检查，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述对参数化单元创建的多个版图实例进行设计规则检查之后，还包括：
6.根据权利要求1至5任一项所述的方法，其特征在于，任意一个参数组合是否满足所述参数组合设计规...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘岩，陈晶，
申请(专利权)人：深圳市远望谷信息技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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