【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及产品组成成份认证，具体为一种产品元件组成成份认证系统。
技术介绍
1、显卡(也称为显卡、图形卡或显示适配器)是计算机中的一种硬件组件，主要负责处理和渲染图形数据，以便显示在显示器上。显卡包括多个关键组件，以下是显卡可能包含的主要部分：gpu(图形处理单元)：gpu是显卡的核心组件，负责处理和执行图形计算任务。它包含大量的处理核心，用于处理图形和图像相关的计算；显存(显存储器)：显存是专门用于存储图形数据的内存，包括纹理、帧缓存、渲染缓存等。显存的类型和大小会影响显卡的性能；散热系统：为了散发产生的热量，显卡通常配备了散热器和风扇。一些高性能显卡可能还包括液冷系统。
2、公开号为cn117112332a的中国专利技术申请公开了一种显卡测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品，获取待测试显卡所在计算机设备的属性信息，并显示浏览器对应的显卡测试网页；响应于针对显卡测试网页中目标显卡测试场景的确定操作，渲染目标显卡测试场景的显示页面；获取目标显卡测试场景的显示页面对应的帧率信息，并将帧率信息和属性信息发送给服务端；帧率信息和渲染出的目标显卡测试场景的显示页面用于在服务端确定待测试显卡的网页渲染能力。采用本方法，响应于显卡测试网页中目标显卡测试场景的确定操作，渲染目标显卡测试场景的显示页面，并获取目标显卡测试场景的显示页面中的帧率信息，得到了在网页端的显卡测试信息。然后，服务端通过帧率信息和目标显卡测试场景的显示页面确定待测试显卡的网页渲染能力，得到了在网页端的显卡测试结果，丰富了显卡测试方法的测试内
3、然而，上述关于一种显卡测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品，存在不便在不同的负载水平下对显卡的性能进行测试认证。
4、因此，针对以上问题，亟待需要一种产品元件组成成份认证系统。
技术实现思路
1、针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种产品元件组成成份认证系统，解决了现有技术不便在不同的负载水平下对显卡的性能进行认证的问题。
2、为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：一种产品元件组成成份认证系统，包括测试数据获取模块、数据分析模块和认证模块，其中：所述测试数据获取模块用于获取不同负载水平下的显卡各组成成份的测试数据并发送给数据分析模块，所述测试数据包括芯片测试数据、显存测试数据和散热器测试数据；所述数据分析模块用于接收测试数据获取模块发送的不同负载水平下的显卡各组成成份的测试数据并分析显卡在同一负载水平下的验证性能指数，并将验证性能指数发送给认证模块；所述认证模块用于接收数据分析模块发送的验证性能指数，并将验证性能指数与设定的认证阈值进行对比，对显卡在不同负载水平下的运行性能进行认证。
3、进一步地，验证性能指数的计算公式如下：式中，λi为在第i种负载水平下的显卡的验证性能指数，γigpu为在第i种负载水平下的显卡的芯片测试指标，γixc在第i种负载水平下的显卡的显存测试指标，γisrq在第i种负载水平下的显卡的散热器测试指标，λ1和λ2分别为芯片测试指标和显存测试指标的权重因子，e为自然常数；其中，芯片测试指标、显存测试指标和散热器测试指标由数据分析模块分别根据芯片测试数据、显存测试数据和散热器测试数据进行分析计算得到。
4、进一步地，计算芯片测试指标的过程如下：获取并分析芯片测试数据，所述芯片测试数据包括每秒浮点运算次数数据、通用计算性能数据和显存带宽数据；获取与芯片测试数据同一负载水平下的芯片预设数据，所述芯片预设数据包括预设每秒浮点运算次数、预设通用计算性能指数和预设显存带宽值；基于芯片测试数据和芯片预设数据计算同一负载水平下的芯片测试指标。
5、进一步地，所述芯片测试指标的计算公式如下：式中，a＝1,2,3,...,a为同一批次在第i种负载水平下进行测试的显卡个数，b＝1,2,3,...,b为每个进行测试的显卡中的每秒浮点运算次数数据、通用计算性能数据和显存带宽数据的个数，也即进行了b次测试，fab、tab和kab分别为第a个进行测试的显卡的第b个每秒浮点运算次数、通用计算性能值和显存带宽值，fys、tys和kys分别为预设每秒浮点运算次数、预设通用计算性能指数和预设显存带宽值。
6、进一步地，计算显存测试指标的过程如下：获取显存测试数据，并基于显存测试数据计算每个显卡在第i种负载水平下的显存读写速度均值，所述显存测试数据为显存在第i种负载水平下的读写速度数据；获取显卡在第i种负载水平下的预设读写速度和允许的读写速度允许偏差；基于显存读写速度均值、读写速度数据、预设读写速度和读写速度允许偏差计算显存测试指标。
7、进一步地，显存测试指标的计算公式如下：式中，a＝1,2,3,...,a为同一批次在第i种负载水平下进行测试的显卡个数，b＝1,2,3,...,b为每个进行测试的显卡的显存测试数据中的读写速度数据的个数，为第a个显卡在第i种负载水平下的显存读写速度均值，νab为第a个显卡在第i种负载水平下进行的第b次测试时的读写速度，为显卡在第i种负载水平下的预设读写速度，δνi为显卡在第i种负载水平下的读写速度允许偏差。
8、进一步地，计算散热器测试指标的过程如下：将显卡负载增加至设定的第i种负载水平时，获取显卡的最高温度；获取显卡最高温度降低至显卡正常允许温度时的降温时间；获取显卡在第i种负载水平时设定的温降速度；基于最高温度、显卡正常允许温度、降温时间和温降速度计算散热器测试指标。
9、进一步地，散热器测试指标的计算公式如下：式中，c＝1,2,3,...,c为同一批次在第i种负载水平下进行测试时显卡的最高温度大于正常允许温度的测试次数，为第c次测试时显卡的最高温度，wiyu为显卡在第i种负载水平下正常允许温度，tc为第c次测试时显卡最高温度降低至显卡正常允许温度时的降温时间，显卡在第i种负载水平下设定的温降速度。
10、进一步地，对显卡在不同负载水平下的运行性能进行认证的过程如下：获取不同负载水平下的验证性能指数和设定的认证阈值；判断同一负载水平下的验证性能指数和设定的认证阈值的大小，若验证性能指数大于设定的认证阈值则认证为该批次的显卡合格，若否则不合格。
11、进一步地，还包括云端服务器，所述云端服务器用于通过http协议接收测试数据获取模块获取的显卡各组成成份的测试数据、数据分析模块计算得到的验证性能指数和认证模块的认证结果并存储。
12、本专利技术具有以下有益效果：
13、(1)、该产品元件组成成份认证系统，通过测试数据获取模块、数据分析模块和认证模块的协同工作，能够获取不同负载水平下显卡各组成成份的详细测试数据，分析验证性能指数，并进行全面的认证。这有助于提供对显卡性能的全景式评估。
14、(2)、该产品元件组成成份认证系统，通过引入计算公式，能够计算出综合的芯片测试指标、显存测试指标和散热器测试指标，有助于提供更准确、全面的显卡性能评估，涵盖了多本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种产品元件组成成份认证系统，其特征在于，包括测试数据获取模块、数据分析模块和认证模块，其中：
2.根据权利要求1所述的一种产品元件组成成份认证系统，其特征在于，验证性能指数的计算公式如下：
3.根据权利要求2所述的一种产品元件组成成份认证系统，其特征在于，计算芯片测试指标的过程如下：
4.根据权利要求3所述的一种产品元件组成成份认证系统，其特征在于，所述芯片测试指标的计算公式如下：
5.根据权利要求2所述的一种产品元件组成成份认证系统，其特征在于，计算显存测试指标的过程如下：
6.根据权利要求3所述的一种产品元件组成成份认证系统，其特征在于，显存测试指标的计算公式如下：
7.根据权利要求2所述的一种产品元件组成成份认证系统，其特征在于，计算散热器测试指标的过程如下：
8.根据权利要求3所述的一种产品元件组成成份认证系统，其特征在于，散热器测试指标的计算公式如下：
9.根据权利要求2所述的一种产品元件组成成份认证系统，其特征在于，对显卡在不同负载水平下的运行性能进行认证的过程如下：
10.根据权利要求1所述的一种产品元件组成成份认证系统，其特征在于，还包括云端服务器，所述云端服务器用于通过HTTP协议接收测试数据获取模块获取的显卡各组成成份的测试数据、数据分析模块计算得到的验证性能指数和认证模块的认证结果并存储。
...【技术特征摘要】
1.一种产品元件组成成份认证系统，其特征在于，包括测试数据获取模块、数据分析模块和认证模块，其中：
2.根据权利要求1所述的一种产品元件组成成份认证系统，其特征在于，验证性能指数的计算公式如下：
3.根据权利要求2所述的一种产品元件组成成份认证系统，其特征在于，计算芯片测试指标的过程如下：
4.根据权利要求3所述的一种产品元件组成成份认证系统，其特征在于，所述芯片测试指标的计算公式如下：
5.根据权利要求2所述的一种产品元件组成成份认证系统，其特征在于，计算显存测试指标的过程如下：
6.根据权利要求3所述的一种产品元件组成成份认证系统，其特征在于，显存测试...
【专利技术属性】
技术研发人员：曹红海，周大雄，仲积文，王志刚，
申请(专利权)人：倍利得电子科技深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：
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