【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
提出一种用于检查发光二极管组件的测量装置和一种用于检查发光二极管组件的方法。
技术介绍
1、本申请要求德国专利申请102021117268.3的优先权，其公开内容通过参引的方式并入本文。
2、发光二极管组件例如包括至少一个发光二极管，英文为light emitting diode，缩写为led，和具有电流调节电路的集成电路。电流调节电路可以作为电流阱或电流源实现。发光二极管与电流调节电路串联地设置。包括发光二极管和电流调节电路的串联电路将供给输入端与电势端子连接。集成电路具有电路供给输入端和至少一个信号端子。因为在发光二极管组件中，发光二极管的端子与集成电路中的电流调节电路的端子固定连接，并且所述端子通常不能从外部触及，所以各个发光二极管的检查变得困难。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于，提出一种用于检查发光二极管组件的测量装置和一种用于检查发光二极管组件的方法，利用所述测量装置和所述方法能够探测发光二极管组件的漏电流。
2、所述目的通过根据独立权利要求的主题的用于检查发光二极管组件的测量装置和用于检查发光二极管组件的方法来实现。用于检查发光二极管组件的测量装置或方法的其他设计方案是从属权利要求的主题。
3、在至少一个实施方式中，用于检查发光二极管组件的测量装置包括第一供给端子和第二供给端子、至少一个信号输出端、参考电势端子、电压源、源测量单元和控制装置。电压源设置在第一供给端子与参考电势端子之间。源测量单元设置在第二供给端子与参考电势端子
4、有利地，可以由电压源经由第一供给端子提供要检查的发光二极管组件的供给电压。此外，通过控制装置可以经由至少一个信号输出端将控制信号传送给发光二极管组件。可以将测量电流通过源测量单元经由第二供给端子传送给发光二极管组件。源测量单元在第二供给端子处截取测量电压并将其数字化。可以评估所述测量电压。测量电压的非常小的值表明高的漏电流。
5、在测量装置的至少一个实施方式中，控制装置设计为，将控制信号输出给至少一个信号输出端，使得发光二极管组件的第一数量n的电流调节电路中的一个电流调节电路被激活。第一数量n的电流调节电路中的电流调节电路可作为电流阱或电流源实现。有利地，借助于控制信号可以将第一数量n的电流调节电路中的一个电流调节电路从非导通的或阻断的运行状态切换到导通的运行状态中。因此，可以表征发光二极管组件的路径。第一数量n例如为1。例如，控制信号将电流调节电路设定为高电流值、如最大电流值。因此，电流调节电路被设定为低欧姆的。因此有利地，能够良好地探测发光二极管的漏电流。
6、在一个示例中，第一数量n大于1。控制信号引起，第一数量n的电流调节电路中的其他电流调节电路处于非导通的或阻断的运行状态中。
7、在测量装置的至少一个实施方式中，源测量单元设计为，在第一供给端子处提供测量电流并且测量可在第一供给端子与参考电势端子之间截取的测量电压。因此，施加测量电流并且测量由测量电流产生的电压降作为测量电压。
8、在一个示例中，测量电流被选择成，使得至少一个发光二极管在导通方向上运行。测量电流规定成，使得所预期的测量电压小于至少一个发光二极管的截止电压或阈值电压。有利地，在所述区域中，至少一个发光二极管是高欧姆的。同时，电流调节电路设定为低欧姆的。可能的漏电流平行于理想发光二极管流动，并且流过电流调节电路。因此，可能的漏电流导致测量电压的良好可见的降低。
9、在测量装置的至少一个实施方式中，控制装置设计为，将测量电压与第一参考值进行比较，并且如果测量电压小于第一参考值，则提供发光二极管组件无法正常工作的信息。小的测量电压表明漏电流或短路。
10、在测量装置的至少一个实施方式中，控制装置设计为，在测量装置的数据输出端处提供所述信息，或者将所述信息存储在测量装置的存储器中。
11、在测量装置的至少一个实施方式中，控制装置设计为，将测量电压与第二参考值进行比较，并且如果测量电压大于第二参考值，则提供发光二极管组件无法正常工作的信息。第一参考值小于第二参考值。从高的测量电压中能够推断出缺少连接或其他故障。第二参考值例如小于发光二极管的截止电压或阈值电压。
12、在一个示例中，控制装置设计为，将测量电压与第一参考值vref1和第二参考值vref2进行比较，并且如果测量电压vled处于以下范围内，则提供发光二极管组件可正常工作的信息：
13、vref1≤vled≤vref2
14、因此，如果发光二极管组件是可正常工作的，则测量电压处于第一参考值与第二参考值之间的范围中。如果发光二极管组件是无法正常工作的，则测量电压处于所述范围以外。
15、在测量装置的不同实施方式中，控制装置设计成，
16、-将测量电压与第一参考值进行比较，并且如果测量电压小于第一参考值，则提供发光二极管组件无法正常工作的信息，或者
17、-将测量电压与第二参考值进行比较，并且如果测量电压大于第二参考值，则提供发光二极管组件无法正常工作的信息，或者
18、-将测量电压与第一参考值和第二参考值进行比较，并且如果测量电压小于第一参考值或大于第二参考值，则提供发光二极管组件无法正常工作的信息。
19、在至少一个实施方式中，控制装置设计为，将控制信号的第一数量n的不同的值连续地输出给至少一个信号输出端，使得发光二极管组件的第一数量n的电流调节电路中的电流调节电路被顺序地激活。第一数量n大于1。控制信号将第一数量n的电流调节电路中的其他电流调节电路置于非导通的或阻断的运行状态中。
20、在测量装置的至少一个实施方式中，控制装置设计为，如果在顺序地输出控制信号的第一数量n的不同的值的情况下第一数量n的测量电压中的至少一个测量电压小于第一参考值，则提供发光二极管组件无法正常工作的信息。
21、在测量装置的至少一个实施方式中，测量装置设计为，如果在顺序地输出控制信号的第一数量n的不同的值的情况下第一数量n的测量电压中的至少一个测量电压大于第二参考值，则提供发光二极管组件无法正常工作的信息。
22、在测量装置的至少一个实施方式中，发光二极管组件包括集成电路以及至少一个发光二极管。集成电路包括第一数量n的电流调节电路。第一数量n的串联电路中的一个串联电路各自包括第一数量n的电流调节电路中的一个电流调节电路以及至少一个发光二极管。
23、在一个示例中，第一数量n等于3。第一数量n的串联电路中的第一串联电路包括在绿色光谱范围中发射的发光二极管。第一数量n的串联电路中的第二串联电路包括在红色光谱范围中发射的发光二极管。第一数量n的串联电路中的第三串联电路包括在蓝色光谱范围中发射的发光二极管。
24、在至少一个实施方式中，用于检查发光二极管组本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种用于检查发光二极管组件(10)的测量装置(30)，所述测量装置包括：
2.根据权利要求1所述的测量装置(30)，
3.根据权利要求1或2所述的测量装置(30)，
4.根据权利要求3所述的测量装置(30)，
5.根据权利要求3或4所述的测量装置(30)，
6.根据权利要求1至5中任一项所述的测量装置(30)，
7.根据权利要求6所述的测量装置(30)，
8.根据权利要求6或7所述的测量装置(30)，
9.根据权利要求1至8中任一项所述的测量装置(30)，
10.一种用于检查发光二极管组件(10)的方法，所述方法包括
11.根据权利要求10所述的方法，
12.根据权利要求10或11所述的方法，
13.根据权利要求12所述的方法，
14.根据权利要求12或13所述的方法，
15.根据权利要求10至14中任一项所述的方法，
16.根据权利要求10至15中任一项所述的方法，
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种用于检查发光二极管组件(10)的测量装置(30)，所述测量装置包括：
2.根据权利要求1所述的测量装置(30)，
3.根据权利要求1或2所述的测量装置(30)，
4.根据权利要求3所述的测量装置(30)，
5.根据权利要求3或4所述的测量装置(30)，
6.根据权利要求1至5中任一项所述的测量装置(30)，
7.根据权利要求6所述的测量装置(30)，
8.根据权利要求6或7所述的测量装置...
【专利技术属性】
技术研发人员：斯特凡·科舍尔，
申请(专利权)人：艾迈斯欧司朗国际有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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