晶振振动测试夹具制造技术

本发明专利技术的晶振振动测试夹具，涉及电子通信领域，旨在解决目前对晶振进行振动实验极为困难、批量振动实验效率低、成本高等技术问题。本发明专利技术的晶振振动测试夹具，由定位板（１）、压板（２）、垫板（３）和连接件构成，被测晶振（４）排布在设于上部的定位板（１）和设于下部的垫板（３）之间，垫板（３）下方设有压板（２）；前述定位板（１）、压板（２）、垫板（３）由数组连接件固定连接，每组连接件由螺钉（５）和螺母（６）构成，螺钉（５）穿过定位板（１）、压板（２）、垫板（３）上相应开孔，与螺母（６）在定位板（１）上相连接；定位板（１）上设有与被测晶振（４）的晶振引脚（７）相配合的开孔。本发明专利技术适用于晶振振动测试。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子通信领域，特别是一种用于晶振检测的晶振振动测试夹具。
技术介绍
晶体振荡器(简称晶振)种类很多，多为专业厂家生产。目前国内生产厂家不多， 电子行业使用的晶振大都是进口，因此价值昂贵。针对价值昂贵的晶振，其质量是否满足产 品需要，需要对其进行验证。许多电子产品都要进行振动试验，验证在运输和生产使用过程 中能否稳定可靠。在工作实践中，经常会发生产品振动试验后晶振不工作的现象。对于较 复杂的产品，一旦质量较差的晶振装在机器上出现故障，更换是较为困难的。目前，生产电子产品的企业有上规模的例行实验室的不多，产品振动试验台一般 都用于整机振动试验，其夹具都是自行设计。一般企业没有例行实验室，许多试验都只能进 行外协。一只一只的进行振动试验将大大增加成本，且外协厂家也不可能有合适的夹具供 企业使用。独立的晶振要进行振动试验是很困难的，原因是它很小、重量轻，没有专用的夹 具来夹持无法操作，有夹持工具也只能同时夹持几个进行试验。针对这个问题，我们根据振动台的大小，为省时、省电、省成本，设计了可以一次性 振动30只，安全可靠的晶振振动测试夹具。但目前在市场上倘无能对晶振进行振动实验的工具，因此无法在生产前剔除有故 障晶振，亦无法测试其能否满足产品需要条件。
技术实现思路
本专利技术旨在解决目前对晶振进行振动实验极为困难、批量振动实验效率低、成本 高等技术问题，以提供一种效率高、一次可进行数十只晶振振动实验、安全可靠的晶振振动 测试夹具。本专利技术的目的是通过以下技术方案实现的。本专利技术的晶振振动测试夹具，由定位板1、压板2、垫板3和连接件构成，被测晶振 4排布在设于上部的定位板1和设于下部的垫板3之间，垫板3下方设有压板2 ；前述定位 板1、压板2、垫板3由数组连接件固定连接，每组连接件由螺钉5和螺母6构成，螺钉5穿 过定位板1、压板2、垫板3上相应开孔，与螺母6在定位板1上相连接；定位板1上设有与 被测晶振4的晶振引脚7相配合的开孔。本专利技术的晶振振动测试夹具，其中所述的被测晶振4为30只，按横向5只、纵向6 只的方式排布于定位板1和垫板3之间，每只被测晶振4引脚数为4，分别穿过定位板1上 的相应开孔，孔的直径比引脚直径大0. 2 0. 4mm。本专利技术的晶振振动测试夹具，其中所述的压板2为金属板，其与定位板1大小和重 量均相同。本专利技术的晶振振动测试夹具，其中所述的垫板3为防静电的柔性材料。本专利技术的晶振振动测试夹具，其中所述的连接件为五组，分别设于定位板1的四角和中心位置。本专利技术的晶振振动测试夹具，其中所述螺钉5与压板2之间设有弹垫和平垫。本专利技术晶振振动测试夹具的有益效果1.可以一次性对数十只晶振同时进行振动实验；2.省时、省电、省成本；3.安全可靠。附图说明图1本专利技术的结构原理2本专利技术的定位板示意3本专利技术的压板示意4本专利技术的垫板示意中标号说明1定位板、2压板、3垫板、4被测晶振、5螺钉、6螺母、7晶振引脚 具体实施例方式本专利技术详细结构、应用原理、作用与功效，参照附图1-4，通过如下实施方式予以说 明。参阅图1-4所示，本专利技术的晶振振动测试夹具，由定位板1、压板2、垫板3和连接 件构成，30只被测晶振4按横向5只、纵向6只的方式排布在设于上部的定位板1和设于下 部的垫板3之间，每只被测晶振4引脚数为4，分别穿过定位板1上的相应开孔。垫板3下 方设有压板2 ；前述定位板1、压板2、垫板3由五组连接件固定连接，连接件分别设于定位 板1的四角和中心位置，每组连接件由螺钉5和螺母6构成，螺钉5穿过定位板1、压板2、 垫板3上相应开孔，与螺母6在定位板1上相连接，螺钉5与压板2之间设有弹垫和平垫； 定位板1上设有与被测晶振4的晶振引脚7相配合的开孔。振动的目的是观察被测晶振4内部结构、线路及装配质量，因此根据其结构设计 定位引脚的位置，振动时将引脚穿入定位板1相应的孔中，孔的直径比引脚直径大0. 2 0. 4mm。晶振引脚7被定位板1定位后，为避免被测晶振4滑落，即在被测晶振4背部压与 定位板1大小和重量均相同的金属压板2。晶振为金属外壳，压板2也为金属材料，两者紧密结合，再进行振动产生摩擦，会 造成晶振外观损伤或造成晶振内部损伤。因此选择有一定厚度、一定弹性和具有防静电效 果的材料(即垫板3)贴在压板上。本专利技术的具体实施步骤1.将垫板3粘贴在压板2上；2.将30只被测晶振4对应定位孔装在定位板1上；3.用压板2压住被测晶振4的顶部；4.用连接件将压板2、定位板1将被测晶振4固定紧5.准备工作完成后即可直接上振动台进行振动试验通过实验验证，使用本专利技术的晶振振动测试夹具进行振动实验后，筛选出的晶振 在产品上不再有故障出现。同时使用本专利技术的夹具避免了对晶振进行逐只振动实验的时 间、大大节约了实验测试成本，提高了工作效率。由上可见，本专利技术的晶振振动测试夹具，具有可以一次性对数十只晶振同时进行 振动实验、省时、省电、省成本和安全可靠等诸多优点。权利要求晶振振动测试夹具，其特征在于由定位板(1)、压板(2)、垫板(3)和连接件构成，被测晶振(4)排布在设于上部的定位板(1)和设于下部的垫板(3)之间，垫板(3)下方设有压板(2)；前述定位板(1)、压板(2)、垫板(3)由数组连接件固定连接，每组连接件由螺钉(5)和螺母(6)构成，螺钉(5)穿过定位板(1)、压板(2)、垫板(3)上相应开孔，与螺母(6)在定位板(1)上相连接；定位板(1)上设有与被测晶振(4)的晶振引脚(7)相配合的开孔。2.如权利要求1所述晶振振动测试夹具，其特征在于所述的被测晶振⑷为30只， 按横向5只、纵向6只的方式排布于定位板(1)和垫板(3)之间，每只被测晶振(4)引脚数 为4，分别穿过定位板(1)上的相应开孔，孔的直径比引脚直径大0. 2 0. 4mm。3.如权利要求1所述晶振振动测试夹具，其特征在于所述的压板(2)为金属板，其与 定位板(1)大小和重量均相同。4.如权利要求1所述晶振振动测试夹具，其特征在于所述的垫板(3)为防静电的柔 性材料。5.如权利要求1所述晶振振动测试夹具，其特征在于所述的连接件为五组，分别设于 定位板(1)的四角和中心位置。6.如权利要求1所述晶振振动测试夹具，其特征在于所述螺钉(5)与压板(2)之间 设有弹垫和平垫。全文摘要本专利技术的晶振振动测试夹具，涉及电子通信领域，旨在解决目前对晶振进行振动实验极为困难、批量振动实验效率低、成本高等技术问题。本专利技术的晶振振动测试夹具，由定位板(1)、压板(2)、垫板(3)和连接件构成，被测晶振(4)排布在设于上部的定位板(1)和设于下部的垫板(3)之间，垫板(3)下方设有压板(2)；前述定位板(1)、压板(2)、垫板(3)由数组连接件固定连接，每组连接件由螺钉(5)和螺母(6)构成，螺钉(5)穿过定位板(1)、压板(2)、垫板(3)上相应开孔，与螺母(6)在定位板(1)上相连接；定位板(1)上设有与被测晶振(4)的晶振引脚(7)相配合的开孔。本专利技术适用于晶振振动测试。文档编号G01M7/02GK101907509SQ20101023395公开日2010年12月8日 申请日期2010年7月22日 优先权日2010年7月22日专利技术者文胜云, 肖攀 申请人:成都九洲迪飞科技有限责任公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
晶振振动测试夹具，其特征在于：由定位板（１）、压板（２）、垫板（３）和连接件构成，被测晶振（４）排布在设于上部的定位板（１）和设于下部的垫板（３）之间，垫板（３）下方设有压板（２）；前述定位板（１）、压板（２）、垫板（３）由数组连接件固定连接，每组连接件由螺钉（５）和螺母（６）构成，螺钉（５）穿过定位板（１）、压板（２）、垫板（３）上相应开孔，与螺母（６）在定位板（１）上相连接；定位板（１）上设有与被测晶振（４）的晶振引脚（７）相配合的开孔。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：文胜云，肖攀，
申请(专利权)人：成都九洲迪飞科技有限责任公司，
类型：发明
国别省市：90[中国|成都]