【技术实现步骤摘要】
本申请涉及芯片测试领域，尤其涉及一种测试电路板和测试装置。
技术介绍
1、随着电子产品的普及，固态硬盘(solid state drives，ssd)的应用越来越广泛。ssd作为一种存储设备，它的性能对于整个系统的性能有着重要的影响。为了确保ssd的性能和质量，需要对ssd存储芯片进行测试。在测试过程中，需要使用ssd测试治具来进行芯片测试。
2、现有的ssd测试治具存在着一些问题。首先，不同厂家生产的测试座子(socket)型号不同，因此需要不同的测试治具进行适配后测试。其次，不同的socket结构可能采用不同的测试治具，导致测试结果存在偏差，兼容性差，准确性下降。同时，市场上的测试治具通常只能适用于某一种特定的socket类型，这导致了设备成本的增加和测试效率的降低。因此，开发一种兼容多个socket的ssd测试治具是非常有必要的。
技术实现思路
1、本申请的目的是提供一种兼容性强、测试效率高、可扩展性好的测试电路板和测试装置。
2、本申请公开了一种测试电路板，用于测试存储芯片，所述测试电路板包括第一区域和第二区域，所述第二区域围绕所述第一区域设置，所述第二区域内设有外围测试电路，所述第一区域设置有至少两种不同类型的测试座固定结构，所述测试座固定结构与测试座子可拆卸固定，所述测试座子上放置被测试的存储芯片；其中，不同类型的测试座固定结构与不同类型的测试座子可拆卸固定，所述存储芯片通过测试座子与所述外围测试电路实现电连接。
3、可选的，每个所述
4、可选的，两种不同类型的测试座固定结构的结构孔对应两个不同类型的测试座子，所述测试座子可拆卸固定在所述结构孔内；不同类型的测试座固定结构内的结构孔间隔设置。
5、可选的，所述第一区域内设有四种不同类型的测试座固定结构，每个测试座固定结构包括的所述结构孔与其他三个测试座固定结构包括的结构孔的类型不同，四组不同类型的结构孔对应四个不同类型的测试座子进行可拆卸固定。
6、可选的，所述外围测试电路至少设有二个，每个外围测试电路对应一种类型的测试座子实现电连接。
7、可选的，所述第二区域包回形区域和矩形区域，所述回形区域围绕所述第一区域设置，所述矩形区域与所述第一区域并列设置，多个外围测试电路并列设置在所述矩形区域内。
8、可选的，四种不同类型的测试座固定结构分别为第一测试座固定结构、第二测试座固定结构、第三测试座固定结构和第四测试座固定结构；所述第一测试座固定结构包括设置在第一区域四角的四个第一空环以及中间位置的两个第一结构孔；所述第二测试座固定结构包括设置在第一区域四角的四个第二空环以及中间位置的两个第二结构孔；所述第三测试座固定结构包括设置在第一区域四角的四对第三结构孔以及中间位置的两个第四结构孔；所述第四测试座固定结构包括设置在第一区域四角的四个定位销孔、以及第一区域四角的四个第五结构孔以及中间位置的两个第六结构孔。
9、可选的，所述第一测试固定结构中的四个第一空环的内径为2.2mm、外径为4.0mm，两个第一孔环圆心水平间距为18mm，垂直间距为33mm；中间位置的两个第一结构孔的直径为1.53mm，两个第一结构孔之间的水平间距为7mm，垂直间距为26.6mm；所述第二测试固定结构中的四个第二空环的内径为2.2mm、外径为4.0mm，两个第二孔环圆心水平间距为25mm，垂直间距为33mm；中间位置的两个第二结构孔的直径为1.53mm，两个第二结构孔之间的水平间距为7mm，垂直间距为26.6mm；所述第三测试固定结构中的四对第三结构孔，其中两对第三结构孔的直径为2.2mm，另外两对第三结构孔的直径为1.55mm，直径1.55mm的第三结构孔圆心水平间距为22.4mm,垂直间距为26mm，直径2.2mm的第三结构孔圆心水平间距26.8mm,垂直间距2.9mm；中间位置的两个第四结构孔的直径为2.2mm，水平间距为25mm；所述第四测试固定结构中的四个定位销孔，定位销孔的直径为1.55mm，两个定位销孔圆心水平间距为27.8mm,垂直间距为25.6mm；第一区域四角的四个第五结构孔，所述第五结构的直径为2.2mm，两个第五结构孔圆心水平间距为25mm,垂直间距为41mm；上下部分各有一对直径2.2mm的结构孔，上部分结构孔圆心水平间距16mm,下部分结构孔圆心水平间距24mm，两者垂直间距33.5mm；中间位置的两个第六结构孔的直径为2.2mm，水平间距24.86mm。
10、可选的，所述测试电路板包括外围接口以及电源芯片，所述电源芯片根据所述外围接口接入的电压生成不同大小的电压值至所述测试座子，给所述测试座子上的存储芯片进行供电测试。
11、本申请还公开了一种测试装置，所述测试装置包括测试座子和测试电路板，所述测试座子设置在测试电路板上，与所述测试电路板电连接，所述测试座子上放置被存储芯片；所述测试电路板上包括至少两种不同类型的测试座固定结构，不同类型的测试座固定结构与不同类型的测试座子可拆卸固定，所述存储芯片通过测试座子与所述外围测试电路实现电连接。
12、相对于现有的测试电路板或测试装置来说，本申请涉及一种兼容多个测试座子结构的测试电路板，该测试电路板具有兼容性强、测试效率高、可扩展性好等优点，该测试电路板可兼容多个不同结构的测试座子，用于测试固态硬盘芯片即存储芯片；通过将至少两个测试座子对应的测试座固定结构整合到一个测试电路板上，不需要单独设一个测试电路板对应一个测试座子对存储芯片进行测试，如此可以降低设备成本，提高测试效率，并适应多种ssd芯片的测试需求。
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1.一种测试电路板，用于测试存储芯片，其特征在于，所述测试电路板包括第一区域和第二区域，所述第二区域围绕所述第一区域设置，所述第二区域内设有外围测试电路，所述第一区域设置有至少两种不同类型的测试座固定结构，所述测试座固定结构与测试座子可拆卸固定，所述测试座子上放置被测试的存储芯片；
2.如权利要求1所述的测试电路板，其特征在于，每个所述测试座固定结构包括至少两个结构孔，两个所述结构孔贯穿所述测试电路板的第一区域。
3.如权利要求2所述的测试电路板，其特征在于，两种不同类型的测试座固定结构的结构孔对应两个不同类型的测试座子，所述测试座子可拆卸固定在所述结构孔内；不同类型的测试座固定结构内的结构孔间隔设置。
4.如权利要求2所述的测试电路板，其特征在于，所述第一区域内设有四种不同类型的测试座固定结构，每个测试座固定结构包括的结构孔与其他三个测试座固定结构包括的结构孔的类型不同，四组不同类型的结构孔对应四个不同类型的测试座子进行可拆卸固定。
5.如权利要求1-4任意一项所述的测试电路板，其特征在于，所述外围测试电路至少设有二个，每个外围测
6.如权利要求5所述的测试电路板，其特征在于，所述第二区域包回形区域和矩形区域，所述回形区域围绕所述第一区域设置，所述矩形区域与所述第一区域并列设置，多个外围测试电路并列设置在所述矩形区域内。
7.如权利要求4所述的测试电路板，其特征在于，四种不同类型的测试座固定结构分别为第一测试座固定结构、第二测试座固定结构、第三测试座固定结构和第四测试座固定结构；
8.如权利要求7所述的测试电路板，其特征在于，所述第一测试座固定结构中的四个第一空环的内径为2.2mm、外径为4.0mm，两个第一孔环圆心水平间距为18mm，垂直间距为33mm；中间位置的两个第一结构孔的直径为1.53mm，两个第一结构孔之间的水平间距为7mm，垂直间距为26.6mm；
9.如权利要求5所述的测试电路板，其特征在于，所述测试电路板包括外围接口以及电源芯片，所述电源芯片根据所述外围接口接入的电压生成不同大小的电压值至所述测试座子，给所述测试座子上的存储芯片进行供电测试。
10.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括测试座子和测试电路板，所述测试座子设置在测试电路板上，与所述测试电路板电连接，所述测试座子上放置被存储芯片；所述测试电路板上包括至少两种不同类型的测试座固定结构，不同类型的测试座固定结构与不同类型的测试座子可拆卸固定，所述存储芯片通过测试座子与所述测试电路板上的外围测试电路实现电连接。
...【技术特征摘要】
1.一种测试电路板，用于测试存储芯片，其特征在于，所述测试电路板包括第一区域和第二区域，所述第二区域围绕所述第一区域设置，所述第二区域内设有外围测试电路，所述第一区域设置有至少两种不同类型的测试座固定结构，所述测试座固定结构与测试座子可拆卸固定，所述测试座子上放置被测试的存储芯片；
2.如权利要求1所述的测试电路板，其特征在于，每个所述测试座固定结构包括至少两个结构孔，两个所述结构孔贯穿所述测试电路板的第一区域。
3.如权利要求2所述的测试电路板，其特征在于，两种不同类型的测试座固定结构的结构孔对应两个不同类型的测试座子，所述测试座子可拆卸固定在所述结构孔内；不同类型的测试座固定结构内的结构孔间隔设置。
4.如权利要求2所述的测试电路板，其特征在于，所述第一区域内设有四种不同类型的测试座固定结构，每个测试座固定结构包括的结构孔与其他三个测试座固定结构包括的结构孔的类型不同，四组不同类型的结构孔对应四个不同类型的测试座子进行可拆卸固定。
5.如权利要求1-4任意一项所述的测试电路板，其特征在于，所述外围测试电路至少设有二个，每个外围测试电路对应一种类型的测试座子实现电连接。
6.如权利要求5所述的测试电路板，其特征在于，所述第二区域包回形区域和矩形区域，所述回形区...
【专利技术属性】
技术研发人员：俞文全，张杰波，
申请(专利权)人：深圳市时创意电子有限公司，
类型：新型
国别省市：
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