System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 光反应评价装置制造方法及图纸_技高网

光反应评价装置制造方法及图纸

技术编号:40517850 阅读:12 留言:0更新日期:2024-03-01 13:35
本发明专利技术提供一种光反应评价装置及光子数算出方法,不仅在使用产生具有特定波长的光的照射光源的情况下,而且在使用产生具有宽波长范围的光的照射光源的情况下,也能够准确地算出依存于波长的照射光子数的分布。测定光源(21)配置于利用照射光源(1)照射光的试样位置的面的背面侧,检测部(22)配置于利用照射光源(1)照射光的试样位置的面的正面侧。放射强度算出部基于第一检测强度分布、第二检测强度分布及标准光源的放射特性,算出照射光源(1)的照射光的各波长下的放射强度。照射光子数算出部基于各波长下的放射强度算出照射光源(1)的照射光的各波长下的照射光子数。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本公开涉及一种光反应评价装置


技术介绍

1、若利用激发光源对试样照射光,则会生成其他物质或荧光等。此种现象被称为光化学反应。作为光化学反应的评价指标,使用量子产率。量子产率由(通过光的照射而在试样内生成的物质的分子数)/(被试样吸收的光子数)表示。在本说明书中,将激发光源称为照射光源。

2、为了算出量子产率,需要对被试样吸收的光子数进行测定。在此情况下,利用照射光源照射至试样的光的光子数(以下,称为照射光子数)根据照射光源而不同,因此需要对照射光子数进行校正。

3、因此,提出了如下方法:使用在特定波长下对应于每一化学反应具有已知的吸收光子数的化学光量计对照射光子数进行校正。另外,提出了使用测定光能的光功率计对照射光子数进行校正的方法。例如,在专利文献1的
技术介绍
一栏中,记载了使用化学光量计或光功率计对照射光子数进行校正的方法。

4、[现有技术文献]

5、[专利文献]

6、专利文献1:日本专利特开2015-34717号公报


技术实现思路

1、[专利技术所要解决的问题]

2、然而,照射光子数根据光的波长而变化。因此,需要使用与照射光源的光的波长对应的化学光量计对照射光子数进行校正。在此情况下,由于利用化学光量计所得的吸收峰稍宽,因此,难以准确地对各波长下的照射光子数进行测定。光功率计通常无法对光能的波长分布进行测定,因此,难以对照射光子数的准确的波长分布进行校正。因此,在光化学反应中使用产生宽波长范围的光的照射光源的情况下,难以准确地对宽波长范围内的照射光子数的分布进行校正。另外,试样的形状有各种各样的形状,根据照射光源或测定装置等的配置,难以对照射光子数进行测定。

3、本专利技术提供一种光反应评价装置及光子数算出方法,考虑试样的形状而配置照射光源或测定装置等,不仅在使用产生具有特定波长的光的照射光源的情况下,而且在使用产生具有宽波长范围的光的照射光源的情况下,也能够准确地算出依存于波长的照射光子数的分布。

4、[解决问题的技术手段]

5、依据本公开的一方面的光反应评价装置是对配置于试样位置的试样的光反应进行评价的光反应评价装置,且包括:照射光源,配置成能够将光以照射光的形式对试样位置照射,并且设置成能够更换为产生白色光的标准光源;均匀照射透镜,安装于照射光源,能够对试样位置的面照射均匀强度的光;分光光度计,包括测定光源以及检测部,所述测定光源配置成能够对试样位置照射光,所述检测部配置成对来自试样位置的光的强度分布进行检测;强度分布获取部,获取在利用标准光源对不存在试样的试样位置照射光且未利用测定光源对试样位置照射光的状态下由检测部检测到的光的强度分布作为第一检测强度分布,在第一测定动作时,获取在利用照射光源对不存在试样的试样位置以照射光的形式照射光且未利用测定光源对试样位置照射光的状态下由检测部检测到的光的强度分布作为第二检测强度分布;放射强度算出部,基于由强度分布获取部获取的第一检测强度分布、由强度分布获取部获取的第二检测强度分布及标准光源的放射特性,算出照射光源的照射光的各波长下的放射强度;以及照射光子数算出部,基于由放射强度算出部算出的各波长下的放射强度,算出照射光源的照射光的各波长下的光子数作为照射光子数,测定光源配置于利用照射光源照射光的试样位置的面的背面侧,检测部配置于利用照射光源照射光的试样位置的面的正面侧。

6、[专利技术的效果]

7、根据本专利技术,不仅在使用产生具有特定波长的光的照射光源的情况下,而且在使用产生具有宽波长范围的光的照射光源的情况下,也能够准确地算出依存于波长的照射光子数的分布。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光反应评价装置,对配置于试样位置的试样的光反应进行评价,所述光反应评价装置的特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的光反应评价装置,其特征在于,

3.根据权利要求2所述的光反应评价装置,其特征在于,

4.根据权利要求2所述的光反应评价装置,其特征在于,

5.根据权利要求1至4中任一项所述的光反应评价装置,其特征在于,还包括:

6.根据权利要求5所述的光反应评价装置,其特征在于,还包括:

7.根据权利要求1至6中任一项所述的光反应评价装置,其特征在于,

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种光反应评价装置,对配置于试样位置的试样的光反应进行评价,所述光反应评价装置的特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的光反应评价装置,其特征在于,

3.根据权利要求2所述的光反应评价装置,其特征在于,

4.根据权利要求2所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:玉木隆宏
申请(专利权)人:株式会社岛津制作所
类型:发明
国别省市:

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