【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及压电晶体成品检测，尤其涉及基于数据分析的mems微镜压电晶体成品检测系统。
技术介绍
1、压电晶体，是指非中心对称晶体，在机械力作用下，产生形变，使带电质点发生相对位移，从而在晶体表面出现正、负束缚电荷，这样的晶体称为压电晶体。压电晶体极轴两端产生电势差的性质称为压电性。
2、现有技术中，在对压电晶体进行检测过程中，通常基于压电晶体的形状以及压电晶体极轴两端产生电势差的产生对压电晶体进行判断，导致压电晶体检测不准确，不能够基于对压电晶体信息的获取，对压电晶体进行综合分析判断，因此本专利技术提出了基于数据分析的mems微镜压电晶体成品检测系统。
技术实现思路
1、针对现有技术存在的不足，本专利技术目的是提供基于数据分析的mems微镜压电晶体成品检测系统，本专利技术在压电晶体检测过程中，对压电晶体图片信息对压电晶体的形状进行判断，基于压电晶体的特性对压电晶体进行检测，同时对合格产品与生产的产品进行对比判断差异性，对压电晶体进行多项检测，提高压电晶体检测的准确性。
2、为解决上述技术问题，本专利技术提供一种基于数据分析的mems微镜压电晶体成品检测系统，包括：
3、形状判断模块，对生成的压电晶体图片进行排序，根据压电晶体图片的排序结果判定压电晶体形状是否规则，具体地，所述形状判断模块包括摄像机、图片生成单元、以及图片判断单元；所述摄像机采集待检测压电晶体的录像视频资料，由图片生成单元将录像视频转换多张压电晶体图片，根据压电晶体图片的排序结
4、压电晶体检测设备，对不同形状的压电晶体进行检测；
5、压电晶体处理模块，对检测结果为合格的压电晶体进行分析处理，针对压电晶体形状是否规则，选择不同的方法获取压电晶体的体积，根据获取的压电晶体体积和压电晶体重量计算获得压电晶体的体积密度值，与合格产品的密度值进行比较得到密度差异值，通过与合格产品进行比较得到规格差异值，对密度差异值和规格差异值综合分析得到压电晶体差异数据；
6、分析模块，根据压电晶体差异数据对压电晶体进行检测区间划分，对划分后的区间进行判断，对压电晶体进行判定，得到合格的压电晶体；
7、以及
8、控制器。
9、进一步，压电晶体图片生成的具体过程如下：
10、在压电晶体放置面呈多个角度对其进行录像，对同一时间段录像产生的照片进行获取，得到压电晶体图片；
11、对由压电晶体顶部的图片进行获取，根据获取的图片对压电晶体的棱角线进行获取，获取棱角线的数目，根据棱角线的数目在其侧边获取对应张数的图片，在获取过程中根据棱角线对应的角度，选择对应的图片，在对侧边录像过程中，录像距离均相同，获取多张侧边图片，对多张侧边图片进行比较，若图片相同，则验证合格，判断该压电晶体为规则图形，若图片不同，则验证不合格，判断该压电晶体为不规则图形。
12、进一步，对压电晶体图片排序的具体过程如下：
13、首先对顶部图片进行排序，按照顺时针的顺序对图片进行录像，根据录像的先后时间获取对应的图片；
14、对顶部图片标记为1，其他获取的照片按照获取顺序逐渐进行排列；
15、若图像最大标记号为奇数，则对排列的偶数序列或奇数序列进行统一计较，若比较之后图片相同则判断为规则图形，比较之后图片不同则判断为不规则图形；
16、若最大标记号为偶数，则直接对标记2和标记3进行比较，若比较之后图片相同则判断为规则图形，若比较之后图片不同则判断为不规则图形。
17、进一步，所述压电晶体检测设备对不同形状的压电晶体进行检测的具体过程如下：
18、所述压电晶体检测设备包括施力仪器；根据压电晶体的形状是否规则，选择施力面，由施力仪器对压电晶体的施力面进行施力，在施力过程中对施加压力以及表面电荷进行获取，由此获得多个施加压力以及表面电荷，获取施加压力为f，表面电荷为q，设定压电系数为d，则由公式q=df判断获取的数据是否成正比关系；
19、对成正比的压电晶体施加y轴方向的力，同时对压电晶体的长和厚进行获取，得到长度a和厚度b，获取y轴方向的力为δy、电荷为qy，设定压电系数为dy，将获取的待检测压电晶体的上述数据代入如下公式：
20、qy=（dy×δy×b）/a
21、若y轴方向的力δy和电荷qy成正比，则判断待测压电晶体合格，反之，则为不合格。
22、进一步，所述控制器对合格晶体的厚度、长度、宽度以及密度进行获取，得到合格厚度值hh、合格长度值hc、合格宽度值hk以及合格密度值hm，压电晶体处理模块包括称量单元、测量单元以及体积获取单元，称量单元对压电晶体的重量进行获取得到实际重量值，测量单元对压电晶体的厚度、长度和宽度进行测量，得到实际厚度值sh、实际长度值sc以及实际宽度值sk，通过体积获取单元对压电晶体的体积进行获取，得到体积数值。
23、进一步，对压电晶体体积进行获取的具体过程如下：
24、首先对压电晶体的形状进行判断，若压电晶体为规则图形，根据判断的形状获取对应的边长，根据获取的边长结合判断形状的体积计算公式对压电晶体的体积进行获取；
25、若压电晶体为不规则图形，则选取带有刻度的敞口容器，在敞口容器内倒入一定体积的溶液，对敞口容器内液体体积进行观察得到体积值v1，将压电晶体放入敞口容器内，对敞口容器放入待检测的压电晶体，此时对敞口容器内液体变化后的高度进行观察，得到体积值v2，设定体积值为v，通过v=v2-v1对压电晶体的体积进行获取。
26、进一步，通过压电晶体的实际重量值与体积值对压电晶体的体积密度值进行获取，对体积密度值进行获取的具体过程如下：
27、通过合格厚度值、合格长度值、合格宽度值结合实际厚度值、实际长度值、实际宽度值对规格差异值进行获取；
28、通过体积密度值与合格密度值对密度差异值进行获取，通过密度差异值和规格差异值对压电晶体差异值yy进行获取；
29、根据检测的多个压电晶体获取多个压电晶体差异值，将多个压电晶体差异值定义为压电晶体差异数据，将压电晶体差异数据输送至分析模块。
30、进一步，所述分析模块接收压电晶体差异数据，将压电晶体差异数据中的压电晶体差异值按照从小到大的顺序进行排列，设定压电晶体差异值求取的取值区间在[0,2]范围内，若取值区间在[0，0.5]则为第一检测区间，若取值区间在(0.5，2]则为第二检测区间，判定压电晶体求取的压电晶体差异值在第一检测区间内的为合格压电晶体，判定压电晶体求取的压电晶体差异值在第二检测区间内的为不合格压电晶体。
31、本专利技术所达到的有益技术效果：
32、1.本专利技术在压电晶体检测过程中，对压电晶体图片信息对压电晶体的形状进行判断，基于压电晶体的特性对压电晶体进行检测，同时对合格产品与生产的产品进行对比判断差本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.基于数据分析的MEMS微镜压电晶体成品检测系统，其特征在于包括：
2.根据权利要求1所述的基于数据分析的MEMS微镜压电晶体成品检测系统，其特征在于，压电晶体图片生成的具体过程如下：
3.根据权利要求1所述的基于数据分析的MEMS微镜压电晶体成品检测系统，其特征在于，对压电晶体图片排序的具体过程如下：
4.根据权利要求1所述的基于数据分析的MEMS微镜压电晶体成品检测系统，其特征在于，所述压电晶体检测设备对不同形状的压电晶体进行检测的具体过程如下：
5.根据权利要求1所述的基于数据分析的MEMS微镜压电晶体成品检测系统，其特征在于，所述控制器对合格晶体的厚度、长度、宽度以及密度进行获取，得到合格厚度值hh、合格长度值hc、合格宽度值hk以及合格密度值hm，压电晶体处理模块包括称量单元、测量单元以及体积获取单元，称量单元对压电晶体的重量进行获取得到实际重量值，测量单元对压电晶体的厚度、长度和宽度进行测量，得到实际厚度值sh、实际长度值sc以及实际宽度值sk，通过体积获取单元对压电晶体的体积进行获取，得到体积数值。
6.
7.根据权利要求5所述的基于数据分析的MEMS微镜压电晶体成品检测系统，其特征在于，通过压电晶体的实际重量值与体积值对压电晶体的体积密度值进行获取，对体积密度值进行获取的具体过程如下：
8.根据权利要求7所述的基于数据分析的MEMS微镜压电晶体成品检测系统，其特征在于，所述分析模块接收压电晶体差异数据，将压电晶体差异数据中的压电晶体差异值按照从小到大的顺序进行排列，设定压电晶体差异值求取的取值区间在[0,2]范围内，若取值区间在[0，0.5]则为第一检测区间，若取值区间在(0.5，2]则为第二检测区间，判定压电晶体求取的压电晶体差异值在第一检测区间内的为合格压电晶体，判定压电晶体求取的压电晶体差异值在第二检测区间内的为不合格压电晶体。
...【技术特征摘要】
1.基于数据分析的mems微镜压电晶体成品检测系统，其特征在于包括：
2.根据权利要求1所述的基于数据分析的mems微镜压电晶体成品检测系统，其特征在于，压电晶体图片生成的具体过程如下：
3.根据权利要求1所述的基于数据分析的mems微镜压电晶体成品检测系统，其特征在于，对压电晶体图片排序的具体过程如下：
4.根据权利要求1所述的基于数据分析的mems微镜压电晶体成品检测系统，其特征在于，所述压电晶体检测设备对不同形状的压电晶体进行检测的具体过程如下：
5.根据权利要求1所述的基于数据分析的mems微镜压电晶体成品检测系统，其特征在于，所述控制器对合格晶体的厚度、长度、宽度以及密度进行获取，得到合格厚度值hh、合格长度值hc、合格宽度值hk以及合格密度值hm，压电晶体处理模块包括称量单元、测量单元以及体积获取单元，称量单元对压电晶体的重量进行获取得到实际重量值，测量单元对压电晶体的厚度、长度和宽度进行测量，得到实际厚度值sh、实际...
【专利技术属性】
技术研发人员：王立军，
申请(专利权)人：浙江数瞳智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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