【技术实现步骤摘要】
本申请实施例涉及芯片设计，具体涉及一种芯片设计验证方法、装置、电子设备及存储介质。
技术介绍
1、芯片设计与验证是芯片制造过程中的环节之一。芯片设计会得到芯片的设计代码，进而对芯片的设计代码也就是芯片设计进行验证时，可以基于芯片的设计代码构建大量的测试用例，从而利用各个测试用例的回归测试，来实现芯片设计的验证，确定芯片设计是否正常。因此，测试用例的回归测试效率影响芯片设计的验证效率。在此背景下，如何提供技术方案，提高测试用例的测试灵活性，以实现测试用例的智能化测试，提高芯片设计的验证效率，成为了本领域技术人员亟需解决的技术问题。
技术实现思路
1、有鉴于此，本专利技术实施例提供一种芯片设计验证方法、装置、电子设备及存储介质，提高测试用例的测试灵活性，以实现测试用例的智能化测试，提高芯片设计的验证效率。
2、为实现上述目的，本专利技术实施例提供如下技术方案。
3、第一方面，本专利技术实施例提供一种芯片设计验证方法，包括：
4、确定芯片设计的回归任务，以根据回归任务进行至少一次回归测试；
5、在第一次回归测试中，利用随机分发的方式对第一次回归测试使用的各个测试用例进行分发；在第n次回归测试中，根据第n-1次回归测试的回归结果确定第n次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序，其中，所述第n-1次回归测试的回归结果至少基于第n-1次回归测试使用的各个测试用例的实际输出结果确定，n为大于等于2；并利用所确定的第n次回归测试使用的各个测试用例的分发
6、对分发的测试用例进行回归测试，得到每一次回归测试使用的各个测试用例的实际输出结果。
7、第二方面，本专利技术实施例提供一种芯片设计验证装置，包括：
8、回归任务确定模块，用于确定芯片设计的回归任务，以根据回归任务进行至少一次回归测试；
9、分发方式确定模块，用于在第一次回归测试中，确定随机分发的方式对第一次回归测试使用的各个测试用例进行分发；在第n次回归测试中，根据第n-1次回归测试的回归结果确定第n次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序，其中，所述第n-1次回归测试的回归结果至少基于第n-1次回归测试使用的各个测试用例的实际输出结果确定，n为大于等于2；
10、分发模块，用于在第一次回归测试中，利用随机分发的方式对第一次回归测试使用的各个测试用例进行分发，以及，在第n次回归测试中，利用所确定的第n次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序分发各个测试用例；
11、回归测试模块，用于对分发的测试用例进行回归测试，得到每一次回归测试使用的各个测试用例的实际输出结果。
12、第三方面，本专利技术实施例提供一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有程序，所述处理器调用所述存储器中存储的程序，执行如第一方面所述的芯片设计验证方法。
13、第四方面，本专利技术实施例提供一种存储介质，所述存储介质存储有程序，所述程序被执行时实现如第一方面所述的芯片设计验证方法。
14、本专利技术实施例提供的一种芯片设计验证方法，在进行芯片设计的验证时，首先确定芯片设计的回归任务，以根据回归任务进行至少一次回归测试；其中，在第一次回归测试中，利用随机分发的方式对第一次回归测试使用的各个测试用例进行分发；在第n次回归测试中，根据第n-1次回归测试的回归结果确定第n次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序，其中，所述第n-1次回归测试的回归结果至少基于第n-1次回归测试使用的各个测试用例的实际输出结果确定，n大于等于2；并利用所确定的第n次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序分发各个测试用例；对分发的测试用例进行回归测试，得到每一次回归测试使用的各个测试用例的实际输出结果。可以看出，本专利技术实施例所提供的芯片设计验证方法，可以在第二次以后的回归测试中，为每一次的回归测试自动确定每次回归测试使用的各个测试用例对应的分发顺序，且第一次的回归测试采用非人工干预的随机分发的方式分发，从而可以避免测试人员手动为每一次的回归测试确定对应的分发方式来分发测试用例，减少回归测试中测试人员的工作量；同时每一次的回归测试中所确定的分发方式，除了第一次的回归测试为随机分发的方式外，对于大于等于2的第n次的回归测试中，均至少基于第n-1次的回归结果确定第n次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序，并且第n-1次的回归测试的回归结果为至少基于第n-1次回归测试使用的各个测试用例的实际输出结果确定的，由于在回归测试的测试特性中，为确保当前次回归测试能够快速收敛，符合预期的回归测试的收敛时间，需要人工分析上一次的回归测试使用的各个测试用例的实际输出结果，确定当前次的回归测试使用的各个测试用例的分发顺序的安排，因此本专利技术实施例中在确定第n次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序时，至少基于第n-1次回归测试的实际输出结果自动的确定第n-1次回归测试的回归结果，结合第n-1次回归测试的实际输出结果作为确定第n次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序的参考依据，符合回归测试的测试特性，使得第n次回归测试的分发顺序能够符合预期的回归测试的收敛时间，加快回归测试的收敛；从而在对各个测试用例进行回归测试时，按照第n次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序进行回归测试，得到每次回归测试的实际输出结果的时间，能够满足回归测试的测试特性，加快得到芯片设计的验证结果(第n次回归测试的实际输出结果)的速度；可以提高测试用例的分发和测试的灵活性，实现测试用例的智能化测试，提高芯片设计的验证效率。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种芯片设计验证方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的芯片设计验证方法，其特征在于，所述根据第N-1次回归测试的回归结果确定第N次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序，包括：
3.如权利要求2所述的芯片设计验证方法，其特征在于，所述根据第N-1次回归测试的回归结果中，第N-1次回归测试使用的各个测试用例对应的第N-1次回归测试的回归验证耗时和第N-1次回归测试的回归验证结果，确定第N次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序，包括：
4.如权利要求3所述的芯片设计验证方法，其特征在于，所述根据第N-1次回归测试的回归验证结果，对第N-1次回归测试使用的各个测试用例进行分发等级的划分，包括：
5.如权利要求1-4任一项所述的芯片设计验证方法，其特征在于，所述根据第N-1次回归测试的回归结果确定第N次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序，包括：
6.如权利要求5所述的芯片设计验证方法，其特征在于，所述当N等于2时，根据第一次回归测试使用的各个测试用例对应的第一次回归测试的实际输出结果得到第一次回归测试的回归结果，包
7.如权利要求1-4任一项所述的芯片设计验证方法，其特征在于，所述根据第N-1次回归测试的回归结果确定第N次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序，包括：
8.如权利要求7所述的芯片设计验证方法，其特征在于，所述当N大于等于3时，根据第N-1次回归测试使用的各个测试用例对应的第N-1次回归测试的实际输出结果和第N-2次回归测试使用的各个测试用例对应的第N-2次回归测试的回归结果，得到第N-1次回归测试的回归结果，包括：
9.如权利要求8所述的芯片设计验证方法，其特征在于，所述将所述第N-1次回归测试的实际输出结果和所述第N-2次回归测试的回归结果进行加和平均处理得到第N-1次回归测试的回归结果，包括：
10.如权利要求9所述的芯片设计验证方法，其特征在于，在所述利用所确定的第N次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序分发各个测试用例的步骤之前还包括：
11.一种芯片设计验证装置，其特征在于，包括：
12.如权利要求11所述的芯片设计验证装置，其特征在于，所述分发顺序确定模块，用于根据第N-1次回归测试的回归结果确定第N次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序，包括：
13.如权利要求12所述的芯片设计验证装置，其特征在于，所述分发方式顺序确定模块，用于根据第N-1次回归测试的回归结果中，第N-1次回归测试使用的各个测试用例对应的第N-1次回归测试的回归验证耗时和第N-1次回归测试的回归验证结果，确定第N次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序，包括：
14.如权利要求13所述的芯片设计验证装置，其特征在于，所述分发方式顺序确定模块，用于根据第N-1次回归测试的回归验证结果，对第N-1次回归测试使用的各个测试用例进行分发等级的划分，包括：
15.如权利要求11-14任一项所述的芯片设计验证装置，其特征在于，所述分发方式顺序确定模块，用于根据第N-1次回归测试的回归结果确定第N次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序，包括：
16.如权利要求11-14任一项所述的芯片设计验证装置，其特征在于，所述分发方式顺序确定模块，用于根据第N-1次回归测试的回归结果确定第N次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序，包括：
17.如权利要求16所述的芯片设计验证装置，其特征在于，所述分发方式顺序确定模块，用于当N大于等于3时，根据第N-1次回归测试使用的各个测试用例对应的第N-1次回归测试的实际输出结果和第N-2次回归测试使用的各个测试用例对应的第N-2次回归测试的回归结果，得到第N-1次回归测试的回归结果，包括：
18.如权利要求17所述的芯片设计验证装置，其特征在于，还包括：
19.一种电子设备，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器存储有程序，所述处理器调用所述存储器中存储的程序，执行如权利要求1-10任一项所述的芯片设计验证方法。
20.一种存储介质，其特征在于，所述存储介质存储有程序，所述程序被执行时实现如权利要求1-10任一项所述的芯片设计验证方法。
...【技术特征摘要】
1.一种芯片设计验证方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的芯片设计验证方法，其特征在于，所述根据第n-1次回归测试的回归结果确定第n次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序，包括：
3.如权利要求2所述的芯片设计验证方法，其特征在于，所述根据第n-1次回归测试的回归结果中，第n-1次回归测试使用的各个测试用例对应的第n-1次回归测试的回归验证耗时和第n-1次回归测试的回归验证结果，确定第n次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序，包括：
4.如权利要求3所述的芯片设计验证方法，其特征在于，所述根据第n-1次回归测试的回归验证结果，对第n-1次回归测试使用的各个测试用例进行分发等级的划分，包括：
5.如权利要求1-4任一项所述的芯片设计验证方法，其特征在于，所述根据第n-1次回归测试的回归结果确定第n次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序，包括：
6.如权利要求5所述的芯片设计验证方法，其特征在于，所述当n等于2时，根据第一次回归测试使用的各个测试用例对应的第一次回归测试的实际输出结果得到第一次回归测试的回归结果，包括：
7.如权利要求1-4任一项所述的芯片设计验证方法，其特征在于，所述根据第n-1次回归测试的回归结果确定第n次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序，包括：
8.如权利要求7所述的芯片设计验证方法，其特征在于，所述当n大于等于3时，根据第n-1次回归测试使用的各个测试用例对应的第n-1次回归测试的实际输出结果和第n-2次回归测试使用的各个测试用例对应的第n-2次回归测试的回归结果，得到第n-1次回归测试的回归结果，包括：
9.如权利要求8所述的芯片设计验证方法，其特征在于，所述将所述第n-1次回归测试的实际输出结果和所述第n-2次回归测试的回归结果进行加和平均处理得到第n-1次回归测试的回归结果，包括：
10.如权利要求9所述的芯片设计验证方法，其特征在于，在所述利用所确定的第n次回归测试使用的各个测试用例的分发顺序分发各个测试用例的步骤之前还包括：
11....
【专利技术属性】
技术研发人员：孟晓，车胜，
申请(专利权)人：成都海光集成电路设计有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。