System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种光电跟踪仪复合光轴调试方法技术_技高网

一种光电跟踪仪复合光轴调试方法技术

技术编号:40468206 阅读:9 留言:0更新日期:2024-02-22 23:23
本发明专利技术提出一种光电跟踪仪复合光轴调试方法,以出光孔径最小的探测器为基准探测器,其余探测器为待调节探测器,将待调节探测器以出光孔径升序排列,分别将一个待调节探测器与基准探测器组成调节对,对于每组调节对,分别进行水平方向和竖直方向的调节,水平调节用于使待调节探测器视场中心与基准探测器视场中心的横坐标重合,竖直调节用于使待调节探测器视场中心与基准探测器视场中心的纵坐标重合。本发明专利技术使光电跟踪仪在外场试验场地等不具备调试条件的情况下,也能校正光轴问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种光电跟踪仪复合光轴调试方法,属于伺服控制领域。


技术介绍

1、目前,光电跟踪仪内多采用激光测距机、可见光探测单元、红外探测器、激光炫目器等多种探测器复合成像的测距方式,多光轴调试就成为调试过程的难点。最常用的复合光轴调试方法为:分别调试多种探测器的安装钉的位置,使多光轴平行。

2、然而,现有技术存在以下缺陷:

3、1、调试位置多,每光有四个安装钉,以四光轴为例,为16个安装钉,调试过程中每光四个安装钉均要进行调试,且相互配合才能完成调试,这样调试位置为16个安装钉;

4、2、调试时间长;

5、3、调试方法反复;

6、4、配套调试工装为:平行光管,该设备体积大,安装要求严格;

7、5、调试安装要求严格:调试过程中,要将产品置于平行光管前端固定位置,同时满足固定的高度要求;

8、6、只能在实验室进行光轴调试,不能在外场试验场地进行光轴调试。

9、这样,光电跟踪仪就需要一种能够在外场试验场地进行光轴调试的方法。该方法,在不具备实验室调试光轴的情况下,通过调整光电跟踪仪内部零部件的方式将光轴调至平行,从而满足光电跟踪仪的使用要求。


技术实现思路

1、有鉴于此,本专利技术基于光电跟踪仪光轴平行的工作原理,提出一种光电跟踪仪复合光轴调试方法。本专利技术使光电跟踪仪在外场试验场地等不具备调试条件的情况下,也能校正光轴问题。

2、具体技术方案如下:

3、一种光电跟踪仪复合光轴调试方法,以出光孔径最小的探测器为基准探测器,其余探测器为待调节探测器,将待调节探测器以出光孔径升序排列,分别将一个待调节探测器与基准探测器组成调节对,对于每组调节对,分别进行水平方向和竖直方向的调节,水平调节用于使待调节探测器视场中心与基准探测器视场中心的横坐标重合,竖直调节用于使待调节探测器视场中心与基准探测器视场中心的纵坐标重合。

4、进一步的,模拟目标板为正方形板。

5、进一步的,水平方向的调节方法为:将基准探测器固定于安装板上,待调节探测器通过调节板置于安装板上,通过调节板调节,改变与安装板的相对位置,模拟目标板用于模拟目标;从一侧水平移动安装板,当基准探测器首次探测到模拟目标板时,停止移动,调节调节板,使待调节探测器的视场纵向中轴线与模拟目标板左侧边缘重合;接下来,继续同向水平移动安装板,当基准探测器丢失目标后,向反方向水平移动安装板,直至基准探测器再次探测到模拟目标板时,停止移动,此时,调节调节板,使待调节探测器的视场纵向中轴线与模拟目标板右侧边缘重合,完成水平方向的调节。

6、进一步的,竖直方向的调节方法为:将基准探测器固定于安装板上,待调节探测器通过调节板置于安装板上,通过调节板调节,改变与安装板的相对位置,模拟目标板用于模拟目标;从一侧竖直移动安装板,当基准探测器首次探测到模拟目标板时,停止移动,调节调节板,使待调节探测器的视场纵向中轴线与模拟目标板上边缘重合;接下来,继续同向竖直移动安装板,当基准探测器丢失目标后,向反方向竖直移动安装板,直至基准探测器再次探测到模拟目标板时,停止移动,此时,调节调节板,使待调节探测器的视场纵向中轴线与模拟目标板下边缘重合,完成水平方向的调节。

7、进一步的,验证调节结果,若未通过验证则继续调节,具体的,分别将安装板从左至右移动靠近模拟目标板至激光测距为b米,安装板从右至左移动靠近模拟目标板至激光测距为b米,此时,若待调节探测器视场中心偏离模拟目标板中心的距离相等,则认为待调节探测器与基准探测器中心重合,如果一侧偏离较多,则微调调节板使距离相同。

8、有益效果

9、1.本专利技术提高了光电跟踪仪复合光轴调试效率,避免了复合光轴调试过程中的反复调试、减少了调试位置,减少了对调试工装的依赖,简化调试安装要求,使光电跟踪仪在外场等试验场合也能够校正光轴。

10、2.本专利技术调试方法简单、工装单一,只需要一个模拟目标板作为工装,不受调试环境限制,提高调试效率,同时优化了光电跟踪仪光机电一体化设计。本专利技术中目标板距离待调节探测器的距离没有固定要求,操作方便。

11、3、本专利技术已经在光电观瞄设备中使用,并随产品通过产品性能指标测试,环境应力筛选试验、外场试验,表现优异,实测有效,可以推广使用。

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【技术保护点】

1.一种光电跟踪仪复合光轴调试方法,其特征在于:以出光孔径最小的探测器为基准探测器,其余探测器为待调节探测器,将待调节探测器以出光孔径升序排列,分别将一个待调节探测器与基准探测器组成调节对,对于每组调节对,分别进行水平方向和竖直方向的调节,水平调节用于使待调节探测器视场中心与基准探测器视场中心的横坐标重合,竖直调节用于使待调节探测器视场中心与基准探测器视场中心的纵坐标重合。

2.根据权利要求1所述的一种光电跟踪仪复合光轴调试方法,其特征在于:模拟目标板为正方形板。

3.根据权利要求1或2所述的一种光电跟踪仪复合光轴调试方法,其特征在于:验证调节结果,若未通过验证则继续调节,具体的,分别将安装板从左至右移动靠近模拟目标板至激光测距为b米,安装板从右至左移动靠近模拟目标板至激光测距为b米,此时,若待调节探测器视场中心偏离模拟目标板中心的距离相等,则认为待调节探测器与基准探测器中心重合,如果一侧偏离较多,则微调调节板使距离相同。

4.根据权利要求1或2所述的一种光电跟踪仪复合光轴调试方法,其特征在于:水平方向的调节方法为:将基准探测器固定于安装板上,待调节探测器通过调节板置于安装板上,通过调节板调节,改变与安装板的相对位置,模拟目标板用于模拟目标;从一侧水平移动安装板,当基准探测器首次探测到模拟目标板时,停止移动,调节调节板,使待调节探测器的视场纵向中轴线与模拟目标板左侧边缘重合;接下来,继续同向水平移动安装板,当基准探测器丢失目标后,向反方向水平移动安装板,直至基准探测器再次探测到模拟目标板时,停止移动,此时,调节调节板,使待调节探测器的视场纵向中轴线与模拟目标板右侧边缘重合,完成水平方向的调节。

5.根据权利要求1或2所述的一种光电跟踪仪复合光轴调试方法,其特征在于:竖直方向的调节方法为:将基准探测器固定于安装板上,待调节探测器通过调节板置于安装板上,通过调节板调节,改变与安装板的相对位置,模拟目标板用于模拟目标;从一侧竖直移动安装板,当基准探测器首次探测到模拟目标板时,停止移动,调节调节板,使待调节探测器的视场纵向中轴线与模拟目标板上边缘重合;接下来,继续同向竖直移动安装板,当基准探测器丢失目标后,向反方向竖直移动安装板,直至基准探测器再次探测到模拟目标板时,停止移动,此时,调节调节板,使待调节探测器的视场纵向中轴线与模拟目标板下边缘重合,完成水平方向的调节。

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【技术特征摘要】

1.一种光电跟踪仪复合光轴调试方法,其特征在于:以出光孔径最小的探测器为基准探测器,其余探测器为待调节探测器,将待调节探测器以出光孔径升序排列,分别将一个待调节探测器与基准探测器组成调节对,对于每组调节对,分别进行水平方向和竖直方向的调节,水平调节用于使待调节探测器视场中心与基准探测器视场中心的横坐标重合,竖直调节用于使待调节探测器视场中心与基准探测器视场中心的纵坐标重合。

2.根据权利要求1所述的一种光电跟踪仪复合光轴调试方法,其特征在于:模拟目标板为正方形板。

3.根据权利要求1或2所述的一种光电跟踪仪复合光轴调试方法,其特征在于:验证调节结果,若未通过验证则继续调节,具体的,分别将安装板从左至右移动靠近模拟目标板至激光测距为b米,安装板从右至左移动靠近模拟目标板至激光测距为b米,此时,若待调节探测器视场中心偏离模拟目标板中心的距离相等,则认为待调节探测器与基准探测器中心重合,如果一侧偏离较多,则微调调节板使距离相同。

4.根据权利要求1或2所述的一种光电跟踪仪复合光轴调试方法,其特征在于:水平方向的调节方法为:将基准探测器固定于安装板上,待调节探测器通过调节板置于安...

【专利技术属性】
技术研发人员:李玉柱崔雪兵周腊梅朱兵
申请(专利权)人:河北汉光重工有限责任公司
类型:发明
国别省市:

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