【技术实现步骤摘要】
本技术涉及光敏感性测试，尤其是指一种探测器晶体的光源敏感性测试装置。
技术介绍
1、目前市面上的此类产品结构复杂，目前主流的设备为固定式，固定式检测设备具有下面的缺陷：
2、一、固定检测设备具有局限性，单一性，无法满足不同光源情况下各通道表示值。
3、二、固定检测设备只能对单一产品进行检测。
技术实现思路
1、为此，本技术所要解决的技术问题在于克服现有技术中对探测器晶体的光敏感性进行测试过程中，固定结构的检测设备局限性较大，难以满足多种检测条件的问题。
2、为解决上述技术问题，本技术提供了一种探测器晶体的光源敏感性测试装置，包括，测试箱体，其上设有箱门，所述箱门用于打开或者关闭测试箱体，所述测试箱体和箱门构成密闭不透光的测试箱；光源，其固定设置在测试箱体内部的顶板上，并且所述光源为待测试体提供测试光；两个对称设置的位置调整组件，其设置在测试箱体内；测试托板，其长度方向的两端和位置调整组件连接，所述测试托板位于光源的正下方，所述位置调整组件用于调整测试托板与光源的距离，所述测试托板上设有若干待测试体。
3、在本技术的一个实施例中，所述测试箱体为矩形体结构，并且测试箱体其中一个侧壁上设有矩形开口，所述箱门和测试箱体通过合页连接，并且箱门罩设在矩形开口位置处。
4、在本技术的一个实施例中，所述箱门和测试箱体之间设有门锁。
5、在本技术的一个实施例中，所述箱门上设有门把手，所述测试箱体的两个相对的侧壁上设有箱体把手。<...
【技术保护点】
1.一种探测器晶体的光源敏感性测试装置，其特征在于：包括，
2.根据权利要求1所述的探测器晶体的光源敏感性测试装置，其特征在于：所述测试箱体为矩形体结构，并且测试箱体其中一个侧壁上设有矩形开口，所述箱门和测试箱体通过合页连接，并且箱门罩设在矩形开口位置处。
3.根据权利要求2所述的探测器晶体的光源敏感性测试装置，其特征在于：所述箱门和测试箱体之间设有门锁。
4.根据权利要求1所述的探测器晶体的光源敏感性测试装置，其特征在于：所述箱门上设有门把手，所述测试箱体的两个相对的侧壁上设有箱体把手。
5.根据权利要求1所述的探测器晶体的光源敏感性测试装置，其特征在于：所述位置调整组件包括两根导杆、上滑块和下滑块，所述两根导杆沿竖直方向设置在测试箱体的底板上，所述上滑块和下滑块均套设在两根导杆上，并且上滑块和下滑块均与两根导杆滑动连接，所述上滑块位于下滑块的上方。
6.根据权利要求5所述的探测器晶体的光源敏感性测试装置，其特征在于：所述导杆上均连接有上限位卡箍和下限位卡箍，所述上限位卡箍和下限位卡箍锁止在导杆上，所述上滑块置于上限位
7.根据权利要求6所述的探测器晶体的光源敏感性测试装置，其特征在于：所述上滑块的侧壁上连接有上导轨，所述下滑块的侧壁上连接有下导轨，所述上导轨和下导轨平行。
8.根据权利要求7所述的探测器晶体的光源敏感性测试装置，其特征在于：所述测试托板上设有上滑槽和下滑槽，所述上导轨贯穿上滑槽，所述下导轨贯穿下滑槽。
9.根据权利要求8所述的探测器晶体的光源敏感性测试装置，其特征在于：所述测试托板沿竖直方向设置，并且所述测试托板竖直方向的前后面上均连接有上直角安装板和下直角安装板，所述上直角安装板上设有上滚轮，所述下直角安装板上设有下滚轮，所述上滚轮和上导轨滚动连接，所述下滚轮和下导轨滚动连接。
10.根据权利要求9所述的探测器晶体的光源敏感性测试装置，其特征在于：所述下直角安装板上设有锁紧螺钉，所述锁紧螺钉和下直角安装板螺纹连接，并且锁紧螺钉的下端部与下导轨相抵。
...【技术特征摘要】
1.一种探测器晶体的光源敏感性测试装置，其特征在于：包括，
2.根据权利要求1所述的探测器晶体的光源敏感性测试装置，其特征在于：所述测试箱体为矩形体结构，并且测试箱体其中一个侧壁上设有矩形开口，所述箱门和测试箱体通过合页连接，并且箱门罩设在矩形开口位置处。
3.根据权利要求2所述的探测器晶体的光源敏感性测试装置，其特征在于：所述箱门和测试箱体之间设有门锁。
4.根据权利要求1所述的探测器晶体的光源敏感性测试装置，其特征在于：所述箱门上设有门把手，所述测试箱体的两个相对的侧壁上设有箱体把手。
5.根据权利要求1所述的探测器晶体的光源敏感性测试装置，其特征在于：所述位置调整组件包括两根导杆、上滑块和下滑块，所述两根导杆沿竖直方向设置在测试箱体的底板上，所述上滑块和下滑块均套设在两根导杆上，并且上滑块和下滑块均与两根导杆滑动连接，所述上滑块位于下滑块的上方。
6.根据权利要求5所述的探测器晶体的光源敏感性测试装置，其特征在于：所述导杆上均连接有上限位卡箍和...
【专利技术属性】
技术研发人员：唐才峰，朱文谨，
申请(专利权)人：苏州品赛医疗科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。