【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光电芯片测试，尤其涉及一种波分复用器件测试系统。
技术介绍
1、波分复用器，应用于光纤通讯系统中时，用于将不同波长的光载波信号在发送端经合波器汇合后沿同一根光纤传输，并在接收端经分波器进行分离，因此波分复用器的性能直接影响通讯效果的好坏。
2、为解决工艺制作对波分复用器的影响，如图1所示，本领域技术人员在mux芯片中引入相移器和光电探测器对波长偏移进行补偿，此种方式多用于粗波分复用，即在mzi的其中一个输出端加入光电探测器监测该mzi的信道偏离状态，并在mzi的非对称臂上加入相移器调整该mzi的信道状态。
3、目前主要采用点测法对mux芯片进行测试，所使用的测试系统主要包含一个或者多个激光器光源、双通道直流源表、直流探针、光功率计等。由于mux芯片有多个入光口以及多个mzi和光电探测器，完成一个mux芯片的性能评测往往需要多次改变入光口及对应mzi的扎针情况，而目前测试系统主要依赖人工操作进行切换，费时费力，导致测量效率较低，且流程复杂易出错，影响测量的精准性，仅适用于研发评估阶段。
技术实现思路
1、为解决上述技术问题，本专利技术提供一种波分复用器件测试系统。为了对披露的实施例的一些方面有一个基本的理解，下面给出了简单的概括。该概括部分不是泛泛评述，也不是要确定关键/重要组成元素或描绘这些实施例的保护范围。其唯一目的是用简单的形式呈现一些概念，以此作为后面的详细说明的序言。
2、本专利技术采用如下技术方案：
3、本专利
4、保偏光开关，用于切换光源与待测光芯片之间的光路；
5、输入侧光纤阵列，用于将所述保偏光开关的各路输出连接至所述待测光芯片的入光口；
6、输出侧单模光纤，用于将所述待测光芯片的输出连接至光功率监控模块；
7、双侧六轴位移台，用于承载并控制所述输入侧光纤阵列及所述输出侧单模光纤与所述待测光芯片的输入输出端面进行端面耦合；
8、载片台，用于吸附固定所述待测光芯片。
9、进一步的，所述的一种波分复用器件测试系统，还包括：分路器，用于将所述光源输出的特定波长激光分为两路，一路光输入至所述保偏光开关，另一路光作为监控光输入至所述光功率监控模块。
10、进一步的，所述的一种波分复用器件测试系统，还包括：源测量单元以及配套针卡，所述源测量单元通过所述配套针卡为所述待测光芯片的多通道加电并读取参数。
11、进一步的，所述光功率监控模块为光功率计，用于读取所述待测光芯片的出射光光功率值以及所述分路器输出的监控光的光功率值。
12、进一步的，所述的一种波分复用器件测试系统，还包括：计算机，用于下发控制信号至所述光源、所述保偏光开关、所述源测量单元以及所述光功率计。
13、进一步的，所述保偏光开关具有四路输出，对应于由四根保偏光纤构成的所述输入侧光纤阵列，以使得所述输入侧光纤阵列形成四个通道，分别为ch1通道、ch2通道、ch3通道、ch4通道；
14、所述计算机包括：mzi1最佳工作点测试模块；所述mzi1最佳工作点测试模块包括：
15、第一波长电流曲线测量单元，用于控制所述保偏光开关切换至ch1通道，控制所述光源扫描波长，控制所述源测量单元为用于监控mzi1的光电探测器pd1施加1v电压并读取pd1的光电流，以得到mzi1的波长电流曲线；
16、ch1通道电压电流曲线测量单元，用于控制所述保偏光开关切换至ch1通道，控制所述光源输出波长为1311nm的激光，控制所述源测量单元以0.01v的步长扫描mzi1电压0～5v并读取pd1的电流，以得到pd1的ch1通道电压电流曲线；
17、ch2通道电压电流曲线测量单元，用于控制所述保偏光开关切换至ch2通道，控制所述光源输出波长为1271nm的激光，控制所述源测量单元以0.01v的步长扫描mzi1电压0～5v并读取pd1的电流，以得到pd1的ch2通道电压电流曲线；
18、第一计算单元，用于将pd1的ch1通道电压电流曲线与pd1的ch2通道电压电流曲线相加，并将两曲线相加后所形成的曲线中的光电流最低点所对应的mzi1的相移器电压记为mzi1的最佳工作点。
19、进一步的，，所述计算机还包括：mzi2最佳工作点测试模块；所述mzi2最佳工作点测试模块包括：
20、第二波长电流曲线测量单元，用于控制所述保偏光开关切换至ch3通道，控制所述光源扫描波长，控制所述源测量单元为用于监控mzi2的光电探测器pd2施加1v电压并读取pd2的光电流，以得到mzi2的波长电流曲线；
21、ch3通道电压电流曲线测量单元，用于控制所述保偏光开关切换至ch3通道，控制所述光源输出波长为1331nm的激光，控制所述源测量单元以0.01v的步长扫描mzi2电压0～5v并读取pd2的电流，以得到pd2的ch3通道电压电流曲线；
22、ch4通道电压电流曲线测量单元，用于控制所述保偏光开关切换至ch4通道，控制所述光源输出波长为1291nm的激光，控制所述源测量单元以0.01v的步长扫描mzi2电压0～5v并读取pd2的电流，以得到pd2的ch4通道电压电流曲线；
23、第二计算单元，用于将pd2的ch3通道电压电流曲线与pd2的ch4通道电压电流曲线相加，并将两曲线相加后所形成的曲线中的光电流最低点所对应的mzi2的相移器电压记为mzi2的最佳工作点。
24、进一步的，所述计算机还包括：mzi3最佳工作点测试模块；所述mzi3最佳工作点测试模块包括：
25、第一曲线测量单元，用于控制所述保偏光开关切换至ch1通道，控制所述光源输出波长为1311nm的激光，控制所述源测量单元以0.01v的步长扫描mzi3电压0～5v并读取用于监控mzi3的光电探测器pd3的电流，以得到pd3的ch1通道电压电流曲线；
26、第二曲线测量单元，用于控制所述保偏光开关切换至ch2通道，控制所述光源输出波长为1271nm的激光，控制所述源测量单元以0.01v的步长扫描mzi3电压0～5v并读取pd3的电流，以得到pd3的ch2通道电压电流曲线；
27、第三曲线测量单元，用于控制所述保偏光开关切换至ch3通道，控制所述光源输出波长为1331nm的激光，控制所述源测量单元以0.01v的步长扫描mzi3电压0～5v并读取pd3的电流，以得到pd3的ch3通道电压电流曲线；
28、第四曲线测量单元，用于控制所述保偏光开关切换至ch4通道，控制所述光源输出波长为1291nm的激光，控制所述源测量单元以0.01v的步长扫描mzi3电压0～5v并读取pd3的电流，以得到pd3的ch4通道电压电流曲线；
29、第三计算单元，用于将pd3的ch1通道电压电流曲线、pd3的ch2通道电压电流曲线、pd3的ch3通道电压电流曲线、pd3的ch4本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种波分复用器件测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种波分复用器件测试系统，其特征在于，还包括：分路器，用于将所述光源输出的特定波长激光分为两路，一路光输入至所述保偏光开关，另一路光作为监控光输入至所述光功率监控模块。
3.根据权利要求2所述的一种波分复用器件测试系统，其特征在于，还包括：源测量单元以及配套针卡，所述源测量单元通过所述配套针卡为所述待测光芯片的多通道加电并读取参数。
4.根据权利要求3所述的一种波分复用器件测试系统，其特征在于，所述光功率监控模块为光功率计，用于读取所述待测光芯片的出射光光功率值以及所述分路器输出的监控光的光功率值。
5.根据权利要求4所述的一种波分复用器件测试系统，其特征在于，还包括：计算机，用于下发控制信号至所述光源、所述保偏光开关、所述源测量单元以及所述光功率计。
6.根据权利要求5所述的一种波分复用器件测试系统，其特征在于，所述保偏光开关具有四路输出，对应于由四根保偏光纤构成的所述输入侧光纤阵列，以使得所述输入侧光纤阵列形成四个通道，分别为CH1通道、CH2
7.根据权利要求6所述的一种波分复用器件测试系统，其特征在于，所述计算机还包括：MZI2最佳工作点测试模块；
8.根据权利要求7所述的一种波分复用器件测试系统，其特征在于，所述计算机还包括：MZI3最佳工作点测试模块；
9.根据权利要求8所述的一种波分复用器件测试系统，其特征在于，所述计算机还包括：滤波谱线测试模块；
...【技术特征摘要】
1.一种波分复用器件测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种波分复用器件测试系统，其特征在于，还包括：分路器，用于将所述光源输出的特定波长激光分为两路，一路光输入至所述保偏光开关，另一路光作为监控光输入至所述光功率监控模块。
3.根据权利要求2所述的一种波分复用器件测试系统，其特征在于，还包括：源测量单元以及配套针卡，所述源测量单元通过所述配套针卡为所述待测光芯片的多通道加电并读取参数。
4.根据权利要求3所述的一种波分复用器件测试系统，其特征在于，所述光功率监控模块为光功率计，用于读取所述待测光芯片的出射光光功率值以及所述分路器输出的监控光的光功率值。
5.根据权利要求4所述的一种波分复用器件测试系统，其特征在于，...
【专利技术属性】
技术研发人员：葛颖，赵远，侯广辉，蔡鹏飞，
申请(专利权)人：NANO科技北京有限公司，
类型：发明
国别省市：
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