【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及光通信，具体而言，涉及一种光组件抗反射测试装置、方法、系统及存储介质。
技术介绍
1、在数字光纤通信系统中，可能出现由于光组件匹配不良或光信号发生散射等原因导致部分光信号沿着正常传输路径的反方向反射回到光组件上，从而造成该光组件在正常传输路径上的损耗。可理解的，该反射回到光组件的反射光，会在光组件上形成光反馈，使光失谐增加，从而影响光组件的输出功率。同时还会改变光组件的谐振条件，进而影响波长，破坏光组件的输出光谱，在传输系统中产生大量不可控的误码率。
2、为隔离反射光对传输系统的干扰，常在高速率、长距传输系统的光组件中加入光隔离器。其中，光隔离器又称光单向器，是一种光非互易传输的光纤无源器件。该光隔离器可以用于隔离反射光对传输系统的干扰。然而，随着传输系统的发展，为了降低成本，越来越多的光通信企业选择在不影响传输性能的情况下将光隔离器去掉。
3、在去除光隔离器后，光通信企业通常会重新设计光组件的光路，例如在激光二极管前增加光波导、改变激光二极管的发光角度、改变激光二极管的贴片位置或是改变滤波片的位置等等，以便对反射光进行一定程度上的抑制。若想要验证抑制反射光后的光组件是否满足传输设定，还需要进行光组件的抗反射测试。
4、现有技术中，进行光组件的抗反射测试时，光模块厂商需要与设备厂商紧密配合。例如将光组件焊接到光猫上或设置到光路线终端（optical line terminal，olt）中。此种方式不仅需要光模块厂商配合，还需要设备厂商配合，因而需要花费大量的协调时间，从而造成资源
5、基于此，整个测试过程需要耗费大量的时间与精力，导致无法快速判断当前优化设计的光路是否满足抗反射要求。
6、因此，急需一种评估装置可以快速评估去除隔离器后的光组件对反射光的抵抗能力。
技术实现思路
1、本专利技术的目的包括，提供了一种光组件抗反射测试装置、方法、系统及存储介质，可以快速评估去除隔离器后的光组件对反射光的抵抗能力，并在不依赖光模块的基础上，能真实模拟出光传输链路的实际情况，以便于观测者更为准确地评估去除隔离器后的光组件对反射光的抵抗能力，并基于评估结果调整抗反射能力。
2、本专利技术的实施例可以这样实现：
3、第一方面，本专利技术提供一种光组件抗反射测试装置，包括：反射控制单元以及射频检测单元；
4、被测光组件分别与所述反射控制单元、所述射频检测单元构成光回路；
5、所述被测光组件，用于接收第一电信号，在预设工作温度下将所述第一电信号转换为第一光信号，并将所述第一光信号反馈给所述反射控制单元以及所述射频检测单元；
6、所述反射控制单元，用于调节所述第一光信号的光功率以及偏转方向，以得到第二光信号，并将所述第二光信号反射给所述被测光组件；其中，所述第二光信号为预设光功率，预设偏转方向的光信号；
7、所述被测光组件，还用于接收所述第二光信号，以所述第二光信号为干扰信号调节所述第一光信号，得到第三光信号；并将所述第三光信号反馈给所述射频检测单元；其中，所述第三光信号与预设光信号间的眼图余量最小；
8、所述射频检测单元，用于检测所述第一光信号、所述第三光信号的射频参数，并依据所述射频参数确定所述被测光组件的抗反射值。
9、进一步地，所述射频参数包括灵敏度；所述射频检测单元，用于分别检测所述第一光信号、所述第三光信号的灵敏度，并将所述第一光信号的灵敏度与所述第三光信号的灵敏度的差值作为所述被测光组件的抗反射值。
10、进一步地，所述光组件抗反射测试装置还包括光组件控温单元，所述光组件控温单元与所述被测光组件通信连接，以通过所述光组件控温单元调节所述被测光组件的工作温度。
11、进一步地，所述光组件抗反射测试装置还包括：信号发射单元；所述信号发射单元用于向所述被测光组件发送预设传输速率的第一电信号。
12、进一步地，所述反射控制单元包括依次设置的偏振调节器、第一衰减器以及全反射镜；
13、所述偏振调节器，用于在预设工作温度下调节所述第一光信号的偏转方向，得到预设工作温度下预设偏振方向的偏振信号；
14、所述第一衰减器，用于调节所述偏振信号的光功率，以得到预设光功率的第二光信号；
15、所述全反射镜，用于将所述第二光信号反射回被测光组件。
16、进一步地，所述光组件抗反射测试装置还包括：分光器；所述分光器包括第一通道以及第二通道；
17、所述分光器，用于均分所述第一光信号，并分别通过所述第一通道、所述第二通道将均分后的第一光信号分别反馈给所述反射控制单元、所述射频检测单元；
18、所述分光器，还用于通过所述第一通道将所述第二光信号反射回所述被测光组件；还用于通过所述第一通道将所述第三光信号通过反馈给所述射频检测单元。
19、进一步地，所述光组件抗反射测试装置还包括：功率计；所述功率计用于检测所述第一光信号与所述第二光信号的光功率。
20、进一步地，所述光组件抗反射测试装置还包括：隔离器，所述隔离器设置在所述第一通道的输出端，以隔离所述射频检测单元反射回所述被测光组件的第三光信号。
21、进一步地，所述射频检测单元包括：长纤筒、波形检测器以及电信号检测器；所述被测光组件分别与所述波形检测器、所述长纤筒、所述电信号检测器光学连接；所述长纤筒还与所述电信号检测器光学连接；其中，
22、所述波形检测器，用于获取所述第一光信号的眼图、所述第三光信号的眼图；并获取所述第三光信号与预设光信号间的眼图余量；
23、所述电信号检测器，用于检测所述第三光信号的灵敏度；其中，所述第三光信号的灵敏度包括所述第三光信号通过所述长纤筒的第一灵敏度以及未通过所述长纤筒的第二灵敏度；
24、所述电信号检测器，还用于检测所述第一光信号通过所述长纤筒的第三灵敏度；
25、所述电信号检测器，还用于在第二灵敏度满足预设灵敏度时，依据所述第三灵敏度与第一灵敏度的差值确定所述被测光组件的抗反射值。
26、进一步地，所述射频检测单元还包括：第二衰减器；所述第二衰减器与所述长纤筒、所述电信号检测器连接；
27、所述第二衰减器，用于调节通过所述长纤筒的第三光信号的光功率；
28、所述电信号检测器，用于检测通过所述第二衰减器调节后的第三光信号的误码率以及通过所述第二衰减器调节后的第三光信号的光功率；
29、所述电信号检测器，还用于在所述误码率满足预设误码率后，将通过所述第二衰减器调节后的第三光信号的光功率值作为第一灵敏度值。
30、第二方面，本专利技术还提供一种光组件抗反射测试方法，应用于光组件抗反射测试装置，其中，所述光组件抗反射测试装置包括反射控制单元以及射频检测单元；所述光组件抗反射测试方本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种光组件抗反射测试装置，其特征在于，包括：反射控制单元以及射频检测单元；
2.根据权利要求1所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述射频参数包括灵敏度；所述射频检测单元，用于分别检测所述第一光信号、所述第三光信号的灵敏度，并将所述第一光信号的灵敏度与所述第三光信号的灵敏度的差值作为所述被测光组件的抗反射值。
3.根据权利要求1所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述光组件抗反射测试装置还包括光组件控温单元，所述光组件控温单元与所述被测光组件通信连接，以通过所述光组件控温单元调节所述被测光组件的工作温度。
4.根据权利要求1所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述光组件抗反射测试装置还包括：信号发射单元；所述信号发射单元用于向所述被测光组件发送预设传输速率的第一电信号。
5.根据权利要求1所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述反射控制单元包括依次设置的偏振调节器、第一衰减器以及全反射镜；
6.根据权利要求1所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述光组件抗反射测试装置还包括：分光器；所述分光器包括
7.根据权利要求6所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述光组件抗反射测试装置还包括：功率计；所述功率计用于检测所述第一光信号与所述第二光信号的光功率。
8.根据权利要求6所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述光组件抗反射测试装置还包括：隔离器，所述隔离器设置在所述第一通道的输出端，以隔离所述射频检测单元反射回所述被测光组件的第三光信号。
9.根据权利要求2所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述射频检测单元包括：长纤筒、波形检测器以及电信号检测器；所述被测光组件分别与所述波形检测器、所述长纤筒、所述电信号检测器光学连接；所述长纤筒还与所述电信号检测器光学连接；其中，
10.根据权利要求9所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述射频检测单元还包括：第二衰减器；所述第二衰减器分别与所述长纤筒、所述电信号检测器连接；
11.一种光组件抗反射测试方法，其特征在于，应用于光组件抗反射测试装置，其中，所述光组件抗反射测试装置包括反射控制单元以及射频检测单元；所述光组件抗反射测试方法包括：
12.根据权利要求11所述的光组件抗反射测试方法，其特征在于，所述射频参数包括灵敏度，所述利用射频检测单元检测所述第一光信号、所述第三光信号的射频参数，并依据所述射频参数确定所述被测光组件的抗反射值的步骤包括：
13.根据权利要求11所述的光组件抗反射测试方法，其特征在于，所述反射控制单元包括依次设置的偏振调节器、第一衰减器以及全反射镜，所述利用反射控制单元调节所述第一光信号的光功率以及偏转方向，以得到第二光信号，并将所述第二光信号反射给所述被测光组件的步骤包括：
14.一种光组件抗反射测试系统，其特征在于，包括权利要求1-10中任一项所述的光组件抗反射测试装置。
15.一种存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求11-13中任一项所述的光组件抗反射测试方法。
...【技术特征摘要】
1.一种光组件抗反射测试装置，其特征在于，包括：反射控制单元以及射频检测单元；
2.根据权利要求1所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述射频参数包括灵敏度；所述射频检测单元，用于分别检测所述第一光信号、所述第三光信号的灵敏度，并将所述第一光信号的灵敏度与所述第三光信号的灵敏度的差值作为所述被测光组件的抗反射值。
3.根据权利要求1所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述光组件抗反射测试装置还包括光组件控温单元，所述光组件控温单元与所述被测光组件通信连接，以通过所述光组件控温单元调节所述被测光组件的工作温度。
4.根据权利要求1所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述光组件抗反射测试装置还包括：信号发射单元；所述信号发射单元用于向所述被测光组件发送预设传输速率的第一电信号。
5.根据权利要求1所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述反射控制单元包括依次设置的偏振调节器、第一衰减器以及全反射镜；
6.根据权利要求1所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述光组件抗反射测试装置还包括：分光器；所述分光器包括第一通道以及第二通道；
7.根据权利要求6所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述光组件抗反射测试装置还包括：功率计；所述功率计用于检测所述第一光信号与所述第二光信号的光功率。
8.根据权利要求6所述的光组件抗反射测试装置，其特征在于，所述光组件抗反射测试装置还包括：隔离器，所述隔离器设置在所述第一通道的输出端，以隔离所述射频检测单元反射回所述被测光...
【专利技术属性】
技术研发人员：狄旭明，胡世涛，樊来泰，董超然，陶敏，
申请(专利权)人：成都电科星拓科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。