【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及计算机模拟仿真领域，尤其涉及一种集成电路单粒子效应的高效仿真方法、装置和电子设备。
技术介绍
1、航天器由于其长期运行于太空高能粒子辐射环境中，容易受到高能粒子轰击而发生单粒子效应，致使集成电路故障，严重会导致电子系统出现错误，影响航天设备在空间中的正常工作，因此，如何有效地评估单粒子效应对宇航集成电路的影响受到了广泛关注。
2、目前，计算机模拟仿真评估具有周期短、费用低、易实现等优点，可对设计阶段的芯片进行评估，因此可以借助仿真技术缩短宇航集成电路的开发周期，指导宇航集成电路抗单粒子加固。传统的仿真方式，每次只对一个节点进行故障注入仿真，并且是人工手动进行故障注入，仿真结果通过人工查看波形进行判断。
3、导致在调用的故障注入模型发生变化时，由于模型发生变化，注入时间变化，或者节点变化时，都需进入电路网表内部手动进行修改，具体的，需要手动修改注入点的模型注入形式，对于需要多次仿真的场景，则需要多次进行重复的操作，耗时耗力，流程较为繁琐，并且针对大规模电路仿真场景，其仿真数据量庞大，仿真结果文件数目上百，人工逐个查看手动统计，会导致仿真效率低下且易出错，降低工作效率，降低仿真的可靠性和稳定性。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种集成电路单粒子效应的高效仿真方法、装置和电子设备，以解决现有集成电路单粒子效应仿真效率较低的问题。
2、第一方面，本专利技术提供一种集成电路单粒子效应的高效仿真方法，包括：
3、获取包括
4、通过建立工程下的无故障注入电路仿真运行路径，确定所述电路仿真网表在无故障注入的情况下对应的标准仿真数据；
5、在故障注入模式为定点故障注入的情况下，通过指定的故障注入节点生成包含故障注入的第一电路网表和第一仿真运行文件；
6、在故障注入模式为随机故障注入的情况下，基于随机故障注入节点生成包含故障注入的第二电路网表和第二仿真运行文件；
7、基于所述第一电路网表、所述第一仿真运行文件，以及所述第二电路网表和第二仿真运行文件进行仿真数据的提取；
8、基于提取到的仿真数据，结合所述标准仿真数据进行数据分析、判断和筛选，确定目标输出仿真数据。
9、采用上述技术方案的情况下，获取包括激励设置、测试向量设置和仿真时长设置的电路仿真网表；通过建立工程下的无故障注入电路仿真运行路径，确定所述电路仿真网表在无故障注入的情况下对应的标准仿真数据；在故障注入模式为定点故障注入的情况下，通过指定的故障注入节点生成包含故障注入的第一电路网表和第一仿真运行文件；在故障注入模式为随机故障注入的情况下，基于随机故障注入节点生成包含故障注入的第二电路网表和第二仿真运行文件；基于所述第一电路网表、所述第一仿真运行文件，以及所述第二电路网表和第二仿真运行文件进行仿真数据的提取；基于提取到的仿真数据，结合所述标准仿真数据进行数据分析、判断和筛选，确定目标输出仿真数据，可以实现批量处理网表，提取仿真数据，大大提高仿真效率，可以应用于快速高效评估单粒子效应，避免手动修改电路仿真网表和建立工程的繁琐步骤，减少引入错误的可能性，易用性强，特别适用于仿真电路规模比较大，故障注入点比较多的情况。
10、在一种可能的实现方式中，在所述通过建立工程下的无故障注入电路仿真运行路径，确定所述电路仿真网表在无故障注入的情况下对应的标准仿真数据之前，还包括：
11、在故障注入模式为所述定点故障注入的情况下，通过自定义故障节点确定故障时间，或通过全遍历故障模块确定故障时间，生成故障注入的故障时间第一列表。
12、在一种可能的实现方式中，所述在故障注入模式为定点故障注入的情况下，通过指定的故障注入节点生成包含故障注入的第一电路网表和第一仿真运行文件，包括：
13、在故障注入模式为所述定点故障注入的情况下，确定指定故障注入节点；
14、基于所述故障注入的故障时间第一列表对所述指定故障注入节点进行仿真，生成包含故障注入的所述第一电路网表和所述第一仿真运行文件。
15、在一种可能的实现方式中，在所述通过建立工程下的无故障注入电路仿真运行路径，确定所述电路仿真网表在无故障注入的情况下对应的标准仿真数据之前，还包括：
16、在故障注入模式为所述随机故障注入的情况下，通过自定义故障模块确定故障时间，生成故障注入的故障时间第二列表。
17、在一种可能的实现方式中，所述在故障注入模式为随机故障注入的情况下，基于随机故障注入节点生成包含故障注入的第二电路网表和第二仿真运行文件，包括：
18、在故障注入模式为所述随机故障注入的情况下，通过确定故障注入的范围确定所述随机故障注入节点；
19、基于所述故障注入的故障时间第二列表对随机故障注入节点进行仿真，生成包含故障注入的所述第二电路网表和所述第二仿真运行文件。
20、在一种可能的实现方式中，在所述基于提取到的仿真数据，结合所述标准仿真数据进行数据分析、判断和筛选，确定目标输出仿真数据之后，还包括：
21、将所述目标输出仿真数据以表格的方式显示；所述目标输出仿真数据包括数据信息和文件表头信息，所述文件表头信息包括故障注入节点名称、故障注入时间和对应的所关注的仿真参数。
22、在一种可能的实现方式中，所述将所述目标输出仿真数据以表格的方式显示，包括：
23、将所述目标输出仿真数据填入统计表格中，输出正常脉宽则对应的表格处保持空白，输出发生翻转的数据用第一预设颜色标识，输出为毛刺的数据用第二预设颜色标识。
24、在一种可能的实现方式中，所述通过建立工程下的无故障注入电路仿真运行路径，确定所述电路仿真网表在无故障注入的情况下对应的标准仿真数据，包括：
25、建立工程下的无故障注入电路仿真运行路径；
26、在所述无故障注入电路仿真运行路径上进行无故障注入的电路功能仿真；
27、对所述电路功能仿真所确定的仿真数据进行提取处理，得到所述标准仿真数据。
28、第二方面，本专利技术还提供一种集成电路单粒子效应的高效仿真装置，所述装置包括：
29、获取模块，用于获取包括激励设置、测试向量设置和仿真时长设置的电路仿真网表；
30、第一确定模块，用于通过建立工程下的无故障注入电路仿真运行路径，确定所述电路仿真网表在无故障注入的情况下对应的标准仿真数据；
31、第一生成模块，用于在故障注入模式为定点故障注入的情况下，通过指定的故障注入节点生成包含故障注入的第一电路网表和第一仿真运行文件；
32、第二生成模块，用于在故障注入模式为随机故障注入的情况下，基于随机故障注入节点生成包含故障注入的第二电路网表和第二仿真运行文件；
33、提取模块，用于基于所述第一电路网表、所述第一仿真运行文件，以及所述第二电路网表和本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种集成电路单粒子效应的高效仿真方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述通过建立工程下的无故障注入电路仿真运行路径，确定所述电路仿真网表在无故障注入的情况下对应的标准仿真数据之前，还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在故障注入模式为定点故障注入的情况下，通过指定的故障注入节点生成包含故障注入的第一电路网表和第一仿真运行文件，包括：
4.根据权利1所述的方法，其特征在于，在所述通过建立工程下的无故障注入电路仿真运行路径，确定所述电路仿真网表在无故障注入的情况下对应的标准仿真数据之前，还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述在故障注入模式为随机故障注入的情况下，基于随机故障注入节点生成包含故障注入的第二电路网表和第二仿真运行文件，包括：
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述基于提取到的仿真数据，结合所述标准仿真数据进行数据分析、判断和筛选，确定目标输出仿真数据之后，还包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述
8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述通过建立工程下的无故障注入电路仿真运行路径，确定所述电路仿真网表在无故障注入的情况下对应的标准仿真数据，包括：
9.一种集成电路单粒子效应的高效仿真装置，其特征在于，所述装置包括：
10.一种电子设备，其特征在于，包括：一个或多个处理器；和其上存储有指令的一个或多个机器可读介质，当由所述一个或多个处理器执行时，使得执行权利要求1-8任一所述的集成电路单粒子效应的高效仿真方法。
...【技术特征摘要】
1.一种集成电路单粒子效应的高效仿真方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述通过建立工程下的无故障注入电路仿真运行路径，确定所述电路仿真网表在无故障注入的情况下对应的标准仿真数据之前，还包括：
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述在故障注入模式为定点故障注入的情况下，通过指定的故障注入节点生成包含故障注入的第一电路网表和第一仿真运行文件，包括：
4.根据权利1所述的方法，其特征在于，在所述通过建立工程下的无故障注入电路仿真运行路径，确定所述电路仿真网表在无故障注入的情况下对应的标准仿真数据之前，还包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述在故障注入模式为随机故障注入的情况下，基于随机故障注入节点生成包含故障注入的第二电路网表和第二仿...
【专利技术属性】
技术研发人员：郭燕萍，卜建辉，倪涛，许婷，李博，王娟娟，王春林，程磊，
申请(专利权)人：中国科学院微电子研究所，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。