System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 磁感应断层成像设备制造技术_技高网

磁感应断层成像设备制造技术

技术编号:40430608 阅读:11 留言:0更新日期:2024-02-20 22:52
本申请涉及一种磁感应断层成像设备,其中,发射线圈模块,包括第一发射线圈组和第二发射线圈组;激励模块,用于激励发射线圈模块生成施加到成像目标的主激励场;测量线圈模块,用于基于成像目标的次级磁场,生成测量信号;次级磁场为成像目标基于主激励场生成;处理电路,用于将测量信号传输至成像模块;成像模块,用于根据测量信号,生成成像目标的磁感应断层图像。采用本申请的磁感应断层成像设备对成像目标进行测量成像。由于主激励场平行于测量线圈所在平面,很大程度上削弱了主激励场对次级磁场的测量产生影响,从而提高了测量和成像的准确性。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及医学图像,特别是涉及一种磁感应断层成像设备


技术介绍

1、磁感应断层成像(magnetic induction tomography, mit)为非侵入式无接触成像技术,其应用于工业成像和医疗成像中。与其它电成像技术不同, mit 并不需要传感器直接接触相关物体来成像。它不使用电极,通过交变磁场作为媒介,利用激励线圈和测量线圈,在不接触被测目标的情况下,检测目标的电导率分布或其变化,并以图像显示。

2、现有技术中,通过分布在被测目标周围的多个线圈进行磁感应断层成像,多个线圈包含激励线圈和测量线圈。通过切换激励线圈方式,在各个方位上施加磁场激励,然后在剩余方位用测量线圈检测目标物因电磁感应而引起的磁通量的变化(检测信号),通过重建算法,就可以重建出被测物电导率分布的断面图像。

3、然而,由于测量线圈测量的磁通量同时包含激励线圈产生的主磁场和目标物感应出的次级磁场,且感应磁场强度要远弱于主磁场。因此,采用现有技术的线圈排布方式时测量精度较低,存在成像准确性差的问题。

4、另外,现有技术能够获得的测量数据个数,是由激励线圈个数×测量线圈个数确定的,如果要增加必须改变系统的结构。所以不方便灵活调节测量数据个数。


技术实现思路

1、基于此,有必要针对上述技术问题,提供一种能够提高成像准确性的磁感应断层成像设备。

2、本申请提供了一种磁感应断层成像设备,包括发射线圈模块、与发射线圈模块相连的激励模块、测量线圈模块、与所述测量线圈模块相连的处理电路以及成像模块;其中,

3、所述发射线圈模块,包括第一发射线圈组和第二发射线圈组;

4、所述激励模块,用于激励所述发射线圈模块生成施加到成像目标的主激励场;

5、所述测量线圈模块,包括预设数量个测量线圈;各测量线圈处于同一预设平面,所述预设平面垂直于所述第一发射线圈中心所处的平面和所述第一发射线圈中心所处的平面;用于基于所述成像目标的次级磁场,生成测量信号;所述次级磁场为所述成像目标基于所述主激励场生成;

6、所述处理电路,用于将所述测量信号传输至所述成像模块;

7、所述成像模块,用于根据所述测量信号,生成所述成像目标的磁感应断层图像。

8、在其中一个实施例中,所述第一发射线圈组包括第一发射线圈以及第二发射线圈;

9、所述第一发射线圈的法向量与所述第二发射线圈的法向量相互平行。

10、在其中一个实施例中,所述第二发射线圈组包括第三发射线圈以及第四发射线圈;

11、所述第三发射线圈的法向量与所述第四发射线圈的法向量相互平行。

12、在其中一个实施例中,所述第一发射线圈所在平面与所述第三发射线圈所在平面相互垂直;

13、所述第二发射线圈所在平面与所述第四发射线圈所在平面相互垂直。

14、在其中一个实施例中,所述第一发射线圈、第二发射线圈、第三发射线圈以及第四发射线圈的尺寸相同。

15、在其中一个实施例中,所述第一发射线圈和第二发射线圈构成的第一发射线圈组、第三发射线圈和第四发射线圈构成的第二发射线圈组,分别构成赫姆霍兹线圈。

16、在其中一个实施例中,所述第一发射线圈与所述第二发射线圈之间的距离,等于发射线圈的半径;

17、所述第三发射线圈与所述第四发射线圈之间的距离,等于发射线圈的半径。

18、在其中一个实施例中,所述激励模块分别与所述第一发射线圈组和第二发射线圈组连接;

19、所述激励模块向所述第一发射线圈组输入第一激励电流;

20、所述激励模块向所述第二发射线圈组输入第二激励电流;

21、通过调整第一激励电流以及第二激励电流,调整主激励场的磁场矢量方向。

22、在其中一个实施例中,预设数量个所述测量线圈在所述预设平面等间距的围成圆形。

23、在其中一个实施例中,所述预设数量为16个。

24、上述磁感应断层成像设备,包括发射线圈模块、与发射线圈模块相连的激励模块、测量线圈模块以及与测量线圈模块相连的处理电路;其中,发射线圈模块,包括第一发射线圈组和第二发射线圈组;激励模块,用于激励发射线圈模块生成施加到成像目标的主激励场;测量线圈模块,包括预设数量个测量线圈;各测量线圈处于同一预设平面,预设平面垂直于两个激励线圈组,因其分别构成两个正交的赫姆霍兹线圈,使主激励磁场近似与测量线圈所在平面平行,故主磁场在测量信号中占比很小;基于成像目标的次级磁场,因目标的不规则形状(内部电导率分布也不规则)而在三维方向都有分量,故测量线圈可以获得非平行的磁场分量引起的磁通量变化,生成测量信号;次级磁场为成像目标基于主激励场生成;处理电路,用于根据测量信号,生成成像目标的磁感应断层图像。采用本申请的磁感应断层成像设备对成像目标进行测量成像。由于主激励场平行于测量线圈所在平面,很大程度上削弱了主激励场对次级磁场的测量产生影响,从而提高了测量和成像的准确性。

25、而且,通过更改激励电流的角度,可以增大激励的个数,即使不改变测量线圈的数量,也能灵活增大总的测量数据个数。这有利于获得更好的重建图像质量。

本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种磁感应断层成像设备,其特征在于,所述磁感应断层成像设备包括发射线圈模块、与发射线圈模块相连的激励模块、测量线圈模块、与所述测量线圈模块相连的处理电路以及成像模块;其中,

2.根据权利要求1所述的磁感应断层成像设备,其特征在于,所述第一发射线圈组包括第一发射线圈以及第二发射线圈;

3.根据权利要求2所述的磁感应断层成像设备,其特征在于,所述第二发射线圈组包括第三发射线圈以及第四发射线圈;

4.根据权利要求3所述的磁感应断层成像设备,其特征在于,

5.根据权利要求4所述的磁感应断层成像设备,其特征在于,

6.根据权利要求4所述的磁感应断层成像设备,其特征在于,

7.根据权利要求5所述的磁感应断层成像设备,其特征在于,

8.根据权利要求1所述的磁感应断层成像设备,其特征在于,

9.根据权利要求1所述的设备,其特征在于,

【技术特征摘要】

1.一种磁感应断层成像设备,其特征在于,所述磁感应断层成像设备包括发射线圈模块、与发射线圈模块相连的激励模块、测量线圈模块、与所述测量线圈模块相连的处理电路以及成像模块;其中,

2.根据权利要求1所述的磁感应断层成像设备,其特征在于,所述第一发射线圈组包括第一发射线圈以及第二发射线圈;

3.根据权利要求2所述的磁感应断层成像设备,其特征在于,所述第二发射线圈组包括第三发射线圈以及第四发射...

【专利技术属性】
技术研发人员:刘锐岗宣和均陈诚尤富生
申请(专利权)人:杭州永川科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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