【技术实现步骤摘要】
本专利技术公开了一种基于axi总线的芯片总线检测与调试方法，涉及芯片设计与调试。
技术介绍
1、目前芯片流片之后的验证是业界难点之一，尤其是大规模高性能的芯片。由于芯片接口有限，测试手段有限等限制，芯片内部的具体错误和特定的性能统计难以实现。
2、现有技术中，常见的总线性能检测是把一个总线接口某一段时间内的所有传输进行统计，常见的总线错误测试是检测读写通道上有无错误回复，这些方法难以进行后期深度调试，例如，上游的模块访问了某段时间内不应该访问的地址。
技术实现思路
1、本专利技术所要解决的技术问题是：针对现有技术的缺陷，提供一种基于axi总线的芯片总线检测与调试方法，用以克服现有芯片流片后总线性能测试与错误调试的问题。本专利技术的检测与调试方法实现了多种形式的性能检测，并实现多种形式的错误调试，能够及时保存错误指令的信息，达到方便流片后芯片总线性能测试与错误调试的目的。
2、本专利技术为解决上述技术问题采用以下技术方案：
3、一种基于axi总线的芯片总线检测与调试方法所述方法包括：
4、步骤一、对检测与调试模块进行初始化设置，在工作之前预先选择当前需要使用的检测与调试方法。
5、步骤二、将芯片axi总线指令输入检测与调试模块，检测与调试模块开始执行性能检测和错误调试；
6、步骤二还包括，在模块开始工作前，cpu或其他master通过apb配置模块内部寄存器。
7、步骤三、检测与调试模块完成性能检测或
8、所述步骤三中，模块的性能检测根据预先设置，选择检测axi读指令，或者选择axi写指令，或者两种同时检测；
9、模块的性能检测时间段选择预先设定的计数器，或者选择预先设定的指令数量，或者选择特定的两个地址之间；
10、模块的错误调试根据预先设置，选择检查axi读指令或axi写指令，或者两种同时检查；
11、模块的错误调试根据预先设置，其预设条件选择指令的回复为错误，或者指令为特定地址，或者指令为特定地址段之外的地址；
12、模块的错误调试达到预设条件之后，将预存地址保存到内部sram。
13、步骤四、检测与调试模块选择触发中断或阻止芯片总线传输；
14、模块性能检测时间满足之后或错误调试满足预设条件之后，检测与调试模块根据预先设定的中断形式，进行触发中断；
15、模块错误调试满足预设条件之后，检测与调试模块选择阻止芯片总线传输。
16、步骤五、cpu收到中断或者轮询到特定状态，查询并处理模块相应寄存器；清除中断和内部状态，并重新设置模块。
17、本专利技术采用以上技术方案与现有技术相比，具有以下技术效果：本专利技术所公开的方法及设计，通过多种形式的性能检测，和多种形式的错误调试，降低了芯片流片后验证的难度。
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1.一种基于AXI总线的芯片总线检测与调试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的一种基于AXI总线的芯片总线检测与调试方法，其特征在于：所述步骤二还包括，在模块开始工作前，CPU或其他master通过APB配置模块内部寄存器。
3.如权利要求1所述的一种基于AXI总线的芯片总线检测与调试方法，其特征在于：所述步骤三中，模块的性能检测根据预先设置，选择检测AXI读指令，或者选择AXI写指令，或者两种同时检测。
4.如权利要求1所述的一种基于AXI总线的芯片总线检测与调试方法，其特征在于：所述步骤三中，模块的性能检测根据预先设置，选择统计读写通道内特定地址段的指令。
5.如权利要求1所述的一种基于AXI总线的芯片总线检测与调试方法，其特征在于：所述步骤三中，模块的性能检测时间段选择预先设定的计数器，或者选择预先设定的指令数量，或者选择特定的两个地址之间。
6.如权利要求1所述的一种基于AXI总线的芯片总线检测与调试方法，其特征在于：所述步骤三中，模块的错误调试根据预先设置，选择检查AXI读指令或AXI写指令
7.如权利要求1所述的一种基于AXI总线的芯片总线检测与调试方法，其特征在于：所述步骤三中，模块的错误调试根据预先设置，其预设条件选择指令的回复为错误，或者指令为特定地址，或者指令为特定地址段之外的地址。
8.如权利要求1所述的一种基于AXI总线的芯片总线检测与调试方法，其特征在于：所述步骤三中，模块的错误调试达到预设条件之后，将预存地址保存到内部SRAM。
9.如权利要求1所述的一种基于AXI总线的芯片总线检测与调试方法，其特征在于：所述步骤四中，模块性能检测时间满足之后或错误调试满足预设条件之后，检测与调试模块根据预先设定的中断形式，进行触发中断。
10.如权利要求1所述的一种基于AXI总线的芯片总线检测与调试方法，其特征在于：所述步骤四中，模块错误调试满足预设条件之后，检测与调试模块选择阻止芯片总线传输。
...【技术特征摘要】
1.一种基于axi总线的芯片总线检测与调试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的一种基于axi总线的芯片总线检测与调试方法，其特征在于：所述步骤二还包括，在模块开始工作前，cpu或其他master通过apb配置模块内部寄存器。
3.如权利要求1所述的一种基于axi总线的芯片总线检测与调试方法，其特征在于：所述步骤三中，模块的性能检测根据预先设置，选择检测axi读指令，或者选择axi写指令，或者两种同时检测。
4.如权利要求1所述的一种基于axi总线的芯片总线检测与调试方法，其特征在于：所述步骤三中，模块的性能检测根据预先设置，选择统计读写通道内特定地址段的指令。
5.如权利要求1所述的一种基于axi总线的芯片总线检测与调试方法，其特征在于：所述步骤三中，模块的性能检测时间段选择预先设定的计数器，或者选择预先设定的指令数量，或者选择特定的两个地址之间。
6.如权利要求1所述的一种基于axi总线的芯片总线检...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈希恒，李力游，小约翰·罗伯特·罗兰，
申请(专利权)人：南京蓝洋智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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