一种确定失效原因的方法及装置制造方法及图纸

技术编号：40419902 阅读：3 留言：0更新日期：2024-02-20 22:38

本申请涉及用于确定失效原因的方法、装置、设备、存储介质和程序产品。在确定失效原因的方法中，获得根因分析模型。该根因分析模型被配置为基于分别与待分析元件的多个部分的失效有关的多个量化表示，来标识待分析元件失效的根本原因。如果接收到一组输入样本，获取与根因分析模型的历史训练有关的一组特征样本。每个样本包括分别与参考元件的多个参考部分的失效有关的多个参考量化表示和参考元件失效的根本原因。接下来，基于参考元件失效的根本原因和多个参考量化表示，更新根因分析模型。以此方式，可以实现根因分析模型的持续学习，使根因分析模型对不同设计和工艺具有稳定表现，提供高准确性的根因确定结果。

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【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

技术介绍

技术实现思路

【技术保护点】

PCT国内申请，权利要求书已公开。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

pct国内申请，权...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄鑫，秦旻，黄宇，许若圣，丁智浩，
申请(专利权)人：华为技术有限公司，
类型：发明
国别省市：

全部详细技术资料下载我是这个专利的主人