【技术实现步骤摘要】
本申请涉及半导体测试领域，尤其是涉及一种高温高湿反偏测试方法、系统、设备及存储介质。
技术介绍
1、高温高湿反偏试验是用于功率半导体器件的环境老化试验。在现有的反偏试验中还存在以下问题：进行反偏试验之前的温度和湿度数据采集时，由于数据采集不精准，从而导致数据性能欠佳反偏数据不稳定。
2、因此，如何在半导体反偏测试中规避错误数据成为了一个亟待解决的技术问题。
技术实现思路
1、为了实现在半导体反偏测试中规避错误数据，本申请提供一种高温高湿反偏测试方法、系统、设备及存储介质。
2、第一方面，本申请提供的一种高温高湿反偏测试方法采用如下的技术方案：
3、一种高温高湿反偏测试方法，包括：
4、在接收到测试指令时，获取所述测试指令中的目标产品的目标产品信息；
5、根据所述目标产品信息生成测试限制条件；
6、根据所述测试指令和所述测试限制条件生成测试策略；
7、获取当前测试区域的区域环境信息，并在所述区域环境信息中获取温度因子和湿度因子；
8、根据所述温度因子确定温度权重策略，同时根据所述湿度因子确定湿度权重策略；
9、根据所述温度权重策略、所述湿度权重策略以及所述测试策略生成目标测试策略；
10、根据所述目标测试策略对所述目标产品进行测试并获取测试结果；
11、在判定所述测试结果异常时，根据所述测试结果生成测试异常报告并发送至预设端口。
12、可选的
13、获取所述目标产品信息中的材料属性和使用属性；
14、根据所述材料属性生成材料测试限制条件；
15、根据所述使用属性生成使用测试限制条件；
16、根据所述材料测试限制条件和所述使用测试限制条件生成测试限制条件。
17、可选的，所述根据所述材料测试限制条件和所述使用测试限制条件生成测试限制条件的步骤，包括：
18、根据所述材料测试限制条件和所述使用测试限制条件判断是否存在矛盾条件；
19、若是，则根据所述矛盾条件确定矛盾因素集合；
20、根据所述矛盾因素集合确定矛盾调试策略并根据所述矛盾调试策略确定测试限制条件；
21、若否，则将所述材料测试限制条件和所述使用测试限制条件进行合并以生成测试限制条件。
22、可选的，所述根据所述测试指令和所述测试限制条件生成测试策略的步骤，包括：
23、在所述测试指令中确定测试详情信息；
24、根据所述测试详情信息在预设测试选项表中确定目标测试集合；
25、根据所述目标测试集合和所述测试限制条件生成测试策略。
26、可选的，所述根据所述温度因子确定温度权重策略，同时根据所述湿度因子确定湿度权重策略的步骤，包括：
27、获取预设标准系数，所述预设标准系数包括温度标准系数和湿度标准系数；
28、根据所述温度因子结合所述温度标准系数确定温度偏差情况，所述温度偏差情况包括温度偏差方向和温度偏差数值；
29、根据所述温度偏差方向和所述温度偏差数值确定温度权重策略；
30、根据所述湿度因子结合所述湿度标准系数确定湿度偏差情况，所述湿度偏差情况包括湿度偏差方向和湿度偏差数值；
31、根据所述湿度偏差方向和所述湿度偏差数值确定湿度权重策略。
32、可选的，所述根据所述温度权重策略、所述湿度权重策略以及所述测试策略生成目标测试策略的步骤，包括：
33、根据所述温度权重策略和所述湿度权重策略生成综合调整策略；
34、根据所述综合调整策略在所述测试策略中进行更新，并获取更新后的测试策略；
35、判断当前所述测试策略是否满足所述当前测试区域对应的测试设备功能；
36、若是，则将当前所述测试策略作为目标测试策略；
37、若否，则结合所述当前测试区域对应的测试设备功能生成目标测试策略。
38、可选的，所述在判定所述测试结果异常时，根据所述测试结果生成测试异常报告并发送至预设端口的步骤之前，还包括：
39、根据所述测试结果以曲线的形式生成结果坐标系；
40、获取预设测试评估标准并对所述结果坐标系进行评估以生成评估结果；
41、根据所述评估结果确定测试结果。
42、第二方面，本申请提供一种高温高湿反偏测试系统，所述高温高湿反偏测试系统包括：
43、信息获取模块，用于在接收到测试指令时，获取所述测试指令中的目标产品的目标产品信息；
44、测试限制条件模块，用于根据所述目标产品信息生成测试限制条件；
45、测试策略模块，用于根据所述测试指令和所述测试限制条件生成测试策略；
46、因子获取模块，用于获取当前测试区域的区域环境信息，并在所述区域环境信息中获取温度因子和湿度因子；
47、权重策略模块，用于根据所述温度因子确定温度权重策略，同时根据所述湿度因子确定湿度权重策略；
48、目标测试策略模块，用于根据所述温度权重策略、所述湿度权重策略以及所述测试策略生成目标测试策略；
49、测试结果模块，用于根据所述目标测试策略对所述目标产品进行测试并获取测试结果；
50、异常报告模块，用于在判定所述测试结果异常时，根据所述测试结果生成测试异常报告并发送至预设端口。
51、第三方面，本申请提供一种计算机设备，所述设备包括：存储器、处理器，所述处理器在运行所述存储器存储的计算机指令时，执行如上文所述的方法。
52、第四方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，包括指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机执行如上文所述的方法。
53、综上描述，本申请包括以下有益技术效果：
54、本申请在接收到测试指令时，获取目标产品信息；根据目标产品信息生成测试限制条件并结合测试指令生成测试策略；获取当前测试区域的区域环境信息，在区域环境信息中确定温度因子和湿度因子；根据温度因子确定温度权重策略，根据湿度因子确定湿度权重策略；根据温度权重策略、湿度权重策略以及测试策略生成目标测试策略；根据目标测试策略对目标产品进行测试获取测试结果；在测试结果异常时，根据测试结果生成异常报告并发送至预设端口。获取测试区域的温度因子和湿度因子以实现对测试策略的调整，最终生成的目标测试策略结合了当前环境信息中的偏差信息，提升了半导体在测试过程中的精确性，实现了规避错误数据的技术效果。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种高温高湿反偏测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的高温高湿反偏测试方法，其特征在于，所述根据所述目标产品信息生成测试限制条件的步骤，包括：
3.根据权利要求2所述的高温高湿反偏测试方法，其特征在于，所述根据所述材料测试限制条件和所述使用测试限制条件生成测试限制条件的步骤，包括：
4.根据权利要求1所述的高温高湿反偏测试方法，其特征在于，所述根据所述测试指令和所述测试限制条件生成测试策略的步骤，包括：
5.根据权利要求1所述的高温高湿反偏测试方法，其特征在于，所述根据所述温度因子确定温度权重策略，同时根据所述湿度因子确定湿度权重策略的步骤，包括：
6.根据权利要求1所述的高温高湿反偏测试方法，其特征在于，所述根据所述温度权重策略、所述湿度权重策略以及所述测试策略生成目标测试策略的步骤，包括：
7.根据权利要求1所述的高温高湿反偏测试方法，其特征在于，所述在判定所述测试结果异常时，根据所述测试结果生成测试异常报告并发送至预设端口的步骤之前，还包括：
8.一种高温高湿反偏测试系统
9.一种计算机设备，其特征在于，所述设备包括：存储器、处理器，所述处理器在运行所述存储器存储的计算机指令时，执行如权利要求1至7中任一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，包括指令，当所述指令在计算机上运行时，使得计算机执行如权利要求1至7中任一项所述的方法。
...【技术特征摘要】
1.一种高温高湿反偏测试方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的高温高湿反偏测试方法，其特征在于，所述根据所述目标产品信息生成测试限制条件的步骤，包括：
3.根据权利要求2所述的高温高湿反偏测试方法，其特征在于，所述根据所述材料测试限制条件和所述使用测试限制条件生成测试限制条件的步骤，包括：
4.根据权利要求1所述的高温高湿反偏测试方法，其特征在于，所述根据所述测试指令和所述测试限制条件生成测试策略的步骤，包括：
5.根据权利要求1所述的高温高湿反偏测试方法，其特征在于，所述根据所述温度因子确定温度权重策略，同时根据所述湿度因子确定湿度权重策略的步骤，包括：
6.根据权利要求1所述的高温高湿反偏...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡久恒，黄昭，
申请(专利权)人：杭州高坤电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。