System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 薄膜压力传感器测试系统技术方案_技高网

薄膜压力传感器测试系统技术方案

技术编号:40418105 阅读:13 留言:0更新日期:2024-02-20 22:36
本发明专利技术公开了一种薄膜压力传感器测试系统,包括:压力机,所述压力机用于对薄膜压力传感器施加压力;压力采集器,压力采集器用于采集薄膜压力传感器的采样值;上位机,上位机根据用户选择与所述压力机和所述压力采集器连接,并显示当前连接的所述压力采集器的压力分布图像,并可根据用户选择的预设的测试模式和输入参数,调用其数据处理模块执行所述预设的测试模式对应的测试统计流程和输入参数控制所述压力机的施压压力,以及控制所述压力采集器同时进行压力采样。本发明专利技术的薄膜压力传感器测试系统设有多种不同的测试模式,解决了现有技术测试模式单一的技术问题,且本申请可根据不同模式导出相应的测试报告,便于大量收集测试数据。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及传感器自动化测试系统领域,特别是涉及一种薄膜压力传感器测试系统


技术介绍

1、薄膜压力传感器是一种广泛应用于各种压力测量场景的传感器,如航空航天、汽车、医疗设备等领域。其工作原理是通过在基片上形成一层压阻效应的薄膜,当受到压力作用时,薄膜产生形变,从而改变其电阻值。因此,通过测量薄膜电阻的变化,可以实现对压力的精确测量,以及测量和监测压力水平。确保薄膜压力传感器的准确性和可靠性对其能否成功应用至关重要。现有的测试系统往往功能比较单一缺乏全面的功能,或者以人工测试为主,比较耗费人力且无法收集到足够的数据,不能有效地分析和解释传感器数据。


技术实现思路

1、本专利技术为了解决上述现有技术测试系统功能单一的技术问题,提出一种薄膜压力传感器测试系统。

2、本专利技术采用的技术方案是:

3、本专利技术提出了一种薄膜压力传感器测试系统,包括:

4、压力机,所述压力机用于对薄膜压力传感器施加压力;

5、压力采集器,所述压力采集器用于采集薄膜压力传感器的采样值;

6、上位机,所述上位机根据用户选择与所述压力机和所述压力采集器连接,并显示当前连接的所述压力采集器的压力分布图像,并可根据用户选择的预设的测试模式和输入参数,调用其数据处理模块执行所述预设的测试模式对应的测试统计流程和输入参数控制所述压力机的施压压力,以及控制所述压力采集器同时进行压力采样。

7、进一步地,所述上位机通过报告导出模块在运行完当前的测试模式后将当前的测试模式对应的测试报告导出。

8、进一步地,所述测试模式包括:线性度测试、重复性测试、一致性测试、均匀性测试、压力漂移测试和量程测试;

9、线性度测试的测试统计流程为:控制所述压力机对所述薄膜压力传感器施加输入参数对应的逐渐变大或逐渐变小的压力,控制所述压力采集器在所述压力机施压中至施压完成之间的时间段内按预设时间间隔对所述薄膜压力传感器的采样值进行采集,测试完成后对所述压力采集器采集到的采样值进行统计;

10、重复性测试的测试统计流程为:控制所述压力机对所述薄膜压力传感器多次施加输入参数相同的压力,控制所述压力采集器在所述压力机每施加一次与输入参数相同的压力后,都对所述薄膜压力传感器的采样值进行一次采集,测试完成后对所述压力采集器采集到的采样值进行统计;

11、一致性测试的测试统计流程为:控制所述压力机分别对多个所述薄膜压力传感器施加输入参数对应相同的压力,控制所述压力采集器在所述压力机每对一个薄膜压力传感器施压与输入参数对应相同的压力后,都对所述薄膜压力传感器的采样值进行采集,测试完成后对所述压力采集器采集到的采样值进行统计;

12、均匀性测试的测试统计流程为:控制所述压力机对所述薄膜压力传感器施加输入参数对应相同的压力,控制所述压力采集器在所述压力机对薄膜压力传感器施压与输入参数对应相同的压力后,对所述薄膜压力传感器的多个点处的采样值进行采集,测试完成后对所述压力采集器采集到的采样值进行统计;

13、压力漂移测试的测试统计流程为:控制所述压力机对所述薄膜压力传感器施加输入参数对应相同的压力,控制所述压力采集器在所述压力机对薄膜压力传感器施压与输入参数对应相同的压力后的预设时间内,多次对所述薄膜压力传感器的采样值进行采集,测试完成后对所述压力采集器采集到的采样值进行统计;

14、量程测试的测试统计流程为:控制所述压力机对所述薄膜压力传感器施加输入参数对应的逐渐变大力,控制所述压力采集器在所述薄膜压力传感器对所述压力机施压感知不变时,对所述薄膜压力传感器的采样值进行采集,测试完成后对所述压力采集器采集到的采样值进行统计;

15、进一步地,所述测试模式还包括:自动化平衡和自动化校准;

16、自动化平衡的测试统计流程为:根据压力机施加的压力与采集器采集的数据进行对比,对其差值进行补偿;

17、自动化校准的测试统计流程为:所述压力机施加的力与所述采集器记录的数据一一映射存储在上位机,所述压力机再次施加相同的力时,所述采集器采集的数据与其上位机内映射的数据相同。

18、进一步地,所述压力机为气囊型压力机或液压型压力机。

19、进一步地,所述测试模式还包括人工操作模式,所述人工操作模式根据用户的输入参数人工控制所述压力机对所述薄膜压力传感器进行施压。

20、进一步地,所述压力采集器与所述上位机通过通讯协议进行有线/无线连接。

21、进一步地,上位机可以通过modbus协议对两款压力机进行通信。

22、与现有技术比较,本专利技术的薄膜压力传感器测试系统设有多种不同的测试模式,解决了现有技术测试模式单一的技术问题,且本申请可根据不同模式导出相应的测试报告,便于大量收集测试数据。

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【技术保护点】

1.一种薄膜压力传感器测试系统,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述薄膜压力传感器测试系统,其特征在于,所述上位机通过报告导出模块在运行完当前的测试模式后将当前的测试模式对应的测试报告导出。

3.如权利要求1所述薄膜压力传感器测试系统,其特征在于,所述测试模式包括:线性度测试、重复性测试、一致性测试、均匀性测试、压力漂移测试和量程测试;

4.如权利要求3所述薄膜压力传感器测试系统,其特征在于,所述测试模式还包括:自动化平衡和自动化校准;

5.如权利要求1所述薄膜压力传感器测试系统,其特征在于,所述压力机为气囊型压力机或液压型压力机。

6.如权利要求4所述薄膜压力传感器测试系统,其特征在于,所述测试模式还包括人工操作模式,所述人工操作模式根据用户的输入参数人工控制所述压力机对所述薄膜压力传感器进行施压。

7.如权利要求1所述薄膜压力传感器测试系统,其特征在于,所述压力采集器与所述上位机通过通讯协议进行有线/无线连接。

8.如权利要求5所述薄膜压力传感器测试系统,其特征在于,上位机可以通过modbus协议对两款压力机进行通信。

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【技术特征摘要】

1.一种薄膜压力传感器测试系统,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述薄膜压力传感器测试系统,其特征在于,所述上位机通过报告导出模块在运行完当前的测试模式后将当前的测试模式对应的测试报告导出。

3.如权利要求1所述薄膜压力传感器测试系统,其特征在于,所述测试模式包括:线性度测试、重复性测试、一致性测试、均匀性测试、压力漂移测试和量程测试;

4.如权利要求3所述薄膜压力传感器测试系统,其特征在于,所述测试模式还包括:自动化平衡和自动化校准;

5.如权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员:戴金刚刘学文黄宣霖商冬海
申请(专利权)人:深圳国微感知技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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