本申请公开了一种晶体谱仪准直方法及晶体谱仪，属于光学仪器准直技术领域。所述晶体谱仪准直方法包括：获得模拟光束；安装弯晶组件至安装基板，并基于所述模拟光束配合准直组件对所述弯晶组件进行准直；安装光阑组件至安装基板，并基于所述模拟光束配合所述准直组件对所述光阑组件进行准直。通过直接在安装基板设置准直组件，以方便配合模拟光束实现对弯晶组件和光阑组件的准直，从而实现了只需要在装配晶体谱仪时进行准直，避免了后续使用晶体谱仪时对弯晶组件和光阑组件的准直，提高使用便利性的同时保证了复现精度。
【技术实现步骤摘要】
本申请属于光学仪器准直，尤其涉及一种晶体谱仪准直方法及晶体谱仪。
技术介绍
1、晶体谱仪是使用晶体对x射线进行衍射分光、从而实现对x射线谱进行测量的一种设备。然而，由于晶体的高能谱分辨特性，轻微的角度变化都将会造成其工作能量的漂移。目前往往需要在每次使用晶体谱仪前都对其内部各部件进行准直，导致使用繁琐且难以保证复现精度。
技术实现思路
1、本申请旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本申请提出一种晶体谱仪准直方法及晶体谱仪，通过直接在安装基板设置准直组件，以方便配合模拟光束实现对弯晶组件和光阑组件的准直，从而实现了只需要在装配晶体谱仪时进行准直，避免了后续使用晶体谱仪时对弯晶组件和光阑组件的准直，提高使用便利性的同时保证了复现精度。
2、第一方面，本申请提供了一种晶体谱仪准直方法，包括：
3、根据本申请的晶体谱仪准直方法，通过直接在安装基板设置准直组件，以方便配合模拟光束实现对光阑组件的准直，从而实现了只需要在装配晶体谱仪时进行准直，避免了后续使用晶体谱仪时对弯晶组件和光阑组件的准直，提高使用便利性的同时保证了复现精度。
4、根据本申请的一个实施例，获得模拟光束；
5、安装弯晶组件至安装基板，并基于所述模拟光束配合准直组件对所述弯晶组件进行准直；
6、安装光阑组件至安装基板，并基于所述模拟光束配合所述准直组件对所述光阑组件进行准直。
7、根据本申请的一个实施例，所述获得模拟光束之前，包括：
>8、设置安装基板、水准仪以及第一经纬仪；9、根据所述水准仪调整所述安装基板至水平，并获得预设高度；
10、所述获得模拟光束，包括：
11、将第一准直狭缝和第二准直狭缝分别安装于所述安装基板对应的第一销孔和第二销孔处；
12、调整所述第一经纬仪，以使所述第一经纬仪发出的初始光束依次穿过所述第二准直狭缝和所述第一准直狭缝；
13、调整所述第一经纬仪，以使所述初始光束的高度与所述预设高度一致；
14、将当前所述第一经纬仪发出的初始光束作为模拟光束。
15、根据本申请的一个实施例，所述安装弯晶组件至安装基板，并基于所述模拟光束配合准直组件对所述弯晶组件进行准直，包括：
16、安装所述弯晶组件至所述安装基板；
17、获得所述模拟光束的入射光斑和经所述弯晶组件反射后的反射光斑；
18、调整所述弯晶组件的位姿，直至所述入射光斑和所述反射光斑相重合。
19、根据本申请的一个实施例，所述安装光阑组件至安装基板，并基于所述模拟光束配合所述准直组件对所述光阑组件进行准直，包括：
20、安装所述光阑组件以及光阑调节工装至安装基板；
21、通过所述光阑调节工装调整所述光阑组件的光阑开口大小，以使所述开口沿所述模拟光束对称设置。
22、根据本申请的一个实施例，所述安装光阑组件至安装基板，并基于所述模拟光束配合所述准直组件对所述光阑组件进行准直，之后还包括：
23、依次安装第一准直部和第二准直部至所述安装基板；
24、分别调整所述第一准直部和所述第二准直部，以使所述模拟光束能依次穿过所述第二准直部的第二准直孔以及所述第一准直部的第一准直孔。
25、第二方面，本申请提供了一种晶体谱仪，基于上述的晶体谱仪准直方法所得，该晶体谱仪包括：
26、安装基板：
27、弯晶组件，安装于所述安装基板，用于半透半反模拟光束；
28、光阑组件，安装于所述安装基板，用于过滤掉所述模拟光束中的杂散光；
29、准直组件，安装于所述安装基板，至少用于基于模拟光束实现对所述弯晶组件和所述光阑组件的准直。
30、根据本申请的晶体谱仪，通过直接在安装基板设置准直组件，以方便配合模拟光束实现对弯晶组件和光阑组件的准直，从而实现了只需要在装配晶体谱仪时进行准直，避免了后续使用晶体谱仪时对弯晶组件和光阑组件的准直，提高使用便利性的同时保证了复现精度。
31、根据本申请的一个实施例，所述安装基板上沿长度方向间隔设置有第一销孔和第二销孔，所述准直组件包括：
32、第一准直狭缝，安装于所述第一销孔处；
33、第二准直狭缝，安装于所述第二销孔处，所述光阑组件位于所述第一准直狭缝和所述第二准直狭缝之间，所述弯晶组件位于所述第一准直狭缝远离所述光阑组件的一侧；其中：所述模拟光束依次经过所述第二准直狭缝和所述第一准直狭缝后射出。
34、根据本申请的一个实施例，所述准直组件还包括：
35、第一准直部，所述第一准直部具有第一准直孔，所述弯晶组件位于所述第一准直部和所述第一准直部之间；
36、第二准直部，所述第二准直部具有第二准直孔，所述第二准直狭缝位于所述第二准直部和所述光阑组件之间；其中：
37、所述模拟光束依次穿过所述第二准直孔、第二准直狭缝、第一狭缝和所述第一准直孔后射出。
38、根据本申请的一个实施例，所述准直组件还包括：
39、光阑调节工装，设置在所述光阑组件和所述第二准直狭缝之间，用于调整所述光阑组件的光阑开口大小。
40、根据本申请的一个实施例，还包括：
41、探测器，用于接收并分析从所述弯晶组件射出的所述模拟光束进行以获得能谱图。
42、本申请的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本申请的实践了解到。
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【技术保护点】
1.一种晶体谱仪准直方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的晶体谱仪准直方法，其特征在于，所述获得模拟光束之前，包括：
3.根据权利要求2所述的晶体谱仪准直方法，其特征在于，所述安装弯晶组件至安装基板，并基于所述模拟光束配合准直组件对所述弯晶组件进行准直，包括：
4.根据权利要求1至3任一项所述的晶体谱仪准直方法，其特征在于，所述安装光阑组件至安装基板，并基于所述模拟光束配合所述准直组件对所述光阑组件进行准直，包括：
5.根据权利要求1至3任一项所述的晶体谱仪准直方法，其特征在于，所述安装光阑组件至安装基板，并基于所述模拟光束配合所述准直组件对所述光阑组件进行准直，之后还包括：
6.一种晶体谱仪，基于权利要求1至5任一项所述的晶体谱仪准直方法所得，其特征在于，包括：
7.根据权利要求6所述的晶体谱仪，其特征在于，所述安装基板上沿长度方向间隔设置有第一销孔和第二销孔，所述准直组件包括：
8.根据权利要求7所述的晶体谱仪，其特征在于，所述准直组件还包括：
9.根据权利要求7所述的晶体谱仪，其特征在于，所述准直组件还包括：
10.根据权利要求6至9任一项所述的晶体谱仪，其特征在于，还包括：
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【技术特征摘要】
1.一种晶体谱仪准直方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的晶体谱仪准直方法，其特征在于，所述获得模拟光束之前，包括：
3.根据权利要求2所述的晶体谱仪准直方法，其特征在于，所述安装弯晶组件至安装基板，并基于所述模拟光束配合准直组件对所述弯晶组件进行准直，包括：
4.根据权利要求1至3任一项所述的晶体谱仪准直方法，其特征在于，所述安装光阑组件至安装基板，并基于所述模拟光束配合所述准直组件对所述光阑组件进行准直，包括：
5.根据权利要求1至3任一项所述的晶体谱仪准直方法，其特征在于，所述安装光阑组...
【专利技术属性】
技术研发人员：耿继宝，邢立娜，李朝阳，
申请(专利权)人：安徽创谱仪器科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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