【技术实现步骤摘要】
本技术大体涉及智能制造装备产业，具体涉及一种用于轮廓仪的导轨组件。
技术介绍
1、轮廓仪是一种测量工件表面轮廓的真实形貌的仪器。在轮廓仪测量工件时，根据测针是否与工件相接触，可将轮廓仪分为接触式轮廓仪和非接触式轮廓仪。接触式轮廓仪可以提供高精度的测量结果，尤其适用于需要测量复杂形状和轮廓的工件，所以得到较广泛的应用。
2、接触式轮廓仪的测量原理为：驱动测针沿着工件的表面滑动，测针可以感触被测表面的几何形状变化，并由此使测针产生位移，同时轮廓仪通过传感器和计算机系统分别对测针的位移变化进行信号采集和分析，获得测针与工件表面接触的一系列离散点的坐标，并将离散点的坐标近似取代原截面曲线，以获得被测工件的表面轮廓参数，并对进行被测工件的表面轮廓分析。在实际操作中，轮廓仪包括导轨组件，并且测针设置在导轨组件的滑块上，滑块在沿着导轨滑动过程中，带动测针在工件的表面滑动。
3、一般情况下，由于滑块具有一定的重力，滑块与导轨会产生接触，由此当滑块在导轨上滑动时，滑块会与导轨之间产生摩擦力，随着轮廓仪使用时间的增加，滑块与导轨之间的摩擦力会逐渐导致导轨与滑块接触的表面被磨损，从而会造成导轨的几何精度和导向精度变差，另外滑块对导轨施加的压力会使导轨产生受力表形，也会造成导轨的几何精度和导向精度变差，从而影响测针在工件的表面滑动时产生的位移的准确度和精度，进而影响轮廓仪的测量准确度和精度，另外滑块与导轨之间的摩擦过程会导致振动，同样也影响轮廓仪的测量准确度和精度。
技术实现思路
2、为此，本技术提供一种用于轮廓仪的导轨组件，是导引所述轮廓仪的测量组件移动的导轨组件，所述导轨组件包括沿第一方向设置的第一导轨以及可沿所述第一导轨滑动的第一滑块，所述第一滑块与所述第一导轨之间设置有磁体部件，所述磁体部件向所述第一滑块施加沿与重力方向相反的第二方向的作用力。
3、在本技术中，在沿与重力方向相反的第二方向的作用力的作用下，能够减轻第一滑块的重力对第一导轨的影响，进而能够减少第一滑块施加在第一导轨上的第一压力。一方面能够减少第一滑块在第一导轨上滑动时的第一摩擦力，从而能够减缓第一滑块与第一导轨的磨损，有利于提高导轨组件的使用寿命；另一方面，能够减小第一导轨受到第一滑块的作用力而产生的受力变形，有利于提高导轨组件的几何精度和导向精度；另外也能够减缓导轨组件由于摩擦而产生的振动；由此，能够提高导轨组件使用寿命，并且能够提高轮廓仪的测量准确度和测量精度。
4、另外，在本技术所涉及的导轨组件中，可选地，所述磁体部件包括设置于所述第一滑块的至少一个第一磁体部件。在这种情况下，由于第一磁体部件能够受到第一导轨的吸引力，进而第一滑块能够受到沿第二方向的作用力，从而能够减小第一滑块对第一导轨施加的第一压力，进而能够减少第一摩擦力。
5、另外，在本技术所涉及的导轨组件中，可选地，所述第一导轨包括导引所述第一滑块的第一功能面和与所述第一功能面相对的第一辅助面，所述第一滑块套设于所述第一导轨并包括靠近所述第一辅助面的第四辅助面，所述第一磁体部件设置于所述第四辅助面，其中，所述第一功能面所在的平面正交于所述第二方向。在这种情况下，第一功能面所在的平面正交于第二方向，能够使得第一功能面与第一滑块受到重力接触并形成顺畅的第一移动副，从而能够使得第一滑块更加顺畅地在第一导轨上滑动，另外第一磁体部件能够向第一滑块施加沿第二方向的作用力，由此能够减小第一摩擦力。
6、另外，在本技术所涉及的导轨组件中，可选地，所述第一磁体部件的数量为多个，多个所述第一磁体部件以所述第四辅助面的几何中心为对称中心对称分布于所述第四辅助面。由此，能够使得第一滑块的受力更加均衡。
7、另外，在本技术所涉及的导轨组件中，可选地，所述磁体部件包括设置于所述第一滑块的至少一个第一磁体部件和设置于所述第一导轨且与所述第一磁体部件相匹配的至少一个第二磁体部件。在这种情况下，能够根据设计需要，灵活地在第一滑块和第一导轨上设置磁体部件，并通过设置第一磁体部件和第二磁体部件，使第一磁体部件受到第二磁体部件施加的沿第二方向的作用力，由此，能够减小第一摩擦力。
8、另外，在本技术所涉及的导轨组件中，可选地，所述第一导轨包括导引所述第一滑块的第一功能面和与所述第一功能面相对的第一辅助面，所述第一滑块包括靠近所述第一辅助面的第四辅助面，所述第一磁体部件设置于所述第四辅助面，所述第二磁体部件设置于所述第一辅助面，所述第一磁体部件面向所述第二磁体部件的磁极与所述第二磁体部件面向所述第一磁体部件的磁极相异。在这种情况下，由于磁体部件具有“同性相斥和异性相吸”的特性，第一磁体部件能够受到第二磁体部件的吸引力，从而第一磁体部件能够向滑块施加沿第二方向的作用力，由此，能够减小第一滑块对第一导轨施加的第一压力，进而能够减小第一摩擦力。
9、另外，在本技术所涉及的导轨组件中，可选地，所述第一导轨包括导引所述第一滑块的第一功能面，所述第一滑块包括靠近所述第一功能面的第二功能面，所述第一磁体部件设置于所述第二功能面，所述第二磁体部件设置于所述第一功能面，所述第一磁体部件面向所述第二磁体部件的磁极与所述第二磁体部件面向所述第一磁体部件的磁极相同。在这种情况下，由于磁体部件具有“同性相斥和异性相吸”的特性，从而第一磁体部件能够受到第二磁体部件的排斥力，由此，能够减小第一滑块对第一导轨施加的第一压力，进而能够减小第一摩擦力。
10、另外，在本技术所涉及的导轨组件中，可选地，令正交于所述第一方向的平面为基准平面，令所述第一磁体部件在所述基准平面的投影的长度为第一长度，令所述第二磁体部件在所述基准平面的投影的长度为第二长度，令所述第一长度和所述第二长度的较小值为比较值，所述第一长度与所述第二长度之差的绝对值不大于所述比较值。在这种情况下，能够使第一磁体部件与第一导轨之间的吸引力或第二磁体部件与第一滑块之间的吸引力始终不大于第一磁体部件与第二磁体部件之间的排斥力，由此，能够使第一导轨与第一滑块之间的排斥力始终不小于吸引力，进而能够减小第一滑块对第一导轨施加的第一压力。
11、另外，在本技术所涉及的导轨组件中，可选地，所述磁体部件施加的所述作用力的合力矩为零。在这种情况下，能够使得第一滑块处于平衡状态，由此，能够提高第一滑块在第一导轨上滑动的稳定性。
12、另外，在本技术所涉及的导轨组件中，可选地，所述测量组件设置于所述第一滑块，所述磁体部件施加的所述作用力不大于所述第一滑块与所述测量组件的合重力。在这种情况下，能够使得第一滑动与第一导轨贴合，由此，能够提高第一滑块在第一导轨上滑动的稳定性。
13、根据本技术，能够提高导轨组件的使用寿命，以及提高轮廓仪的测量准确度和测量精度。
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1.一种用于轮廓仪的导轨组件，是导引所述轮廓仪的测量组件移动的导轨组件，其特征在于，所述导轨组件包括沿第一方向设置的第一导轨以及可沿所述第一导轨滑动的第一滑块，所述第一滑块与所述第一导轨之间设置有磁体部件，所述磁体部件向所述第一滑块施加沿与重力方向相反的第二方向的作用力。
2.根据权利要求1所述的导轨组件，其特征在于，所述磁体部件包括设置于所述第一滑块的至少一个第一磁体部件。
3.根据权利要求2所述的导轨组件，其特征在于，所述第一导轨包括导引所述第一滑块的第一功能面和与所述第一功能面相对的第一辅助面，所述第一滑块套设于所述第一导轨并包括靠近所述第一辅助面的第四辅助面，所述第一磁体部件设置于所述第四辅助面，其中，所述第一功能面所在的平面正交于所述第二方向。
4.根据权利要求3所述的导轨组件，其特征在于，所述第一磁体部件的数量为多个，多个所述第一磁体部件以所述第四辅助面的几何中心为对称中心对称分布于所述第四辅助面。
5.根据权利要求1所述的导轨组件，其特征在于，所述磁体部件包括设置于所述第一滑块的至少一个第一磁体部件和设置于所述第一导轨
6.根据权利要求5所述的导轨组件，其特征在于，所述第一导轨包括导引所述第一滑块的第一功能面和与所述第一功能面相对的第一辅助面，所述第一滑块包括靠近所述第一辅助面的第四辅助面，所述第一磁体部件设置于所述第四辅助面，所述第二磁体部件设置于所述第一辅助面，所述第一磁体部件面向所述第二磁体部件的磁极与所述第二磁体部件面向所述第一磁体部件的磁极相异。
7.根据权利要求5所述的导轨组件，其特征在于，所述第一导轨包括导引所述第一滑块的第一功能面，所述第一滑块包括靠近所述第一功能面的第二功能面，所述第一磁体部件设置于所述第二功能面，所述第二磁体部件设置于所述第一功能面，所述第一磁体部件面向所述第二磁体部件的磁极与所述第二磁体部件面向所述第一磁体部件的磁极相同。
8.根据权利要求7所述的导轨组件，其特征在于，令正交于所述第一方向的平面为基准平面，令所述第一磁体部件在所述基准平面的投影的长度为第一长度，令所述第二磁体部件在所述基准平面的投影的长度为第二长度，令所述第一长度和所述第二长度的较小值为比较值，所述第一长度与所述第二长度之差的绝对值不大于所述比较值。
9.根据权利要求1或8所述的导轨组件，其特征在于，所述磁体部件施加的所述作用力的合力矩为零。
10.根据权利要求1所述的导轨组件，其特征在于，所述测量组件设置于所述第一滑块，所述磁体部件施加的所述作用力不大于所述第一滑块与所述测量组件的合重力。
...【技术特征摘要】
1.一种用于轮廓仪的导轨组件，是导引所述轮廓仪的测量组件移动的导轨组件，其特征在于，所述导轨组件包括沿第一方向设置的第一导轨以及可沿所述第一导轨滑动的第一滑块，所述第一滑块与所述第一导轨之间设置有磁体部件，所述磁体部件向所述第一滑块施加沿与重力方向相反的第二方向的作用力。
2.根据权利要求1所述的导轨组件，其特征在于，所述磁体部件包括设置于所述第一滑块的至少一个第一磁体部件。
3.根据权利要求2所述的导轨组件，其特征在于，所述第一导轨包括导引所述第一滑块的第一功能面和与所述第一功能面相对的第一辅助面，所述第一滑块套设于所述第一导轨并包括靠近所述第一辅助面的第四辅助面，所述第一磁体部件设置于所述第四辅助面，其中，所述第一功能面所在的平面正交于所述第二方向。
4.根据权利要求3所述的导轨组件，其特征在于，所述第一磁体部件的数量为多个，多个所述第一磁体部件以所述第四辅助面的几何中心为对称中心对称分布于所述第四辅助面。
5.根据权利要求1所述的导轨组件，其特征在于，所述磁体部件包括设置于所述第一滑块的至少一个第一磁体部件和设置于所述第一导轨且与所述第一磁体部件相匹配的至少一个第二磁体部件。
6.根据权利要求5所述的导轨组件，其特征在于，所述第一导轨包括导引所述第一滑块的第一功能面和与...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨政，张鹏，
申请(专利权)人：深圳市中图仪器股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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