【技术实现步骤摘要】
本技术属于电子元件检测设备，特别是涉及一种新型导通仪。
技术介绍
1、如图4所示为现有技术中待检测的电子元件的结构示意图，该电子元件9包括电子元件主体91与底座92，且在底座92的底面上设置有一个公共电节点93与若干个电节点94，目前，在检测该电子元件是否通电正常时，通常是在一个带有电源的检测件上电连接小灯泡，并在检测件上通过电线电连接两个检测头，在检测的过程中，将其中一个检测头与公共电节点93接触，然后再将另一个检测头分别与电节点94接触进行多次检测，当小灯泡每次均亮时，电子元件9为合格品；当小灯泡其中一次不亮时，电子元件9则为次品，而采用上述检测方式，操作较为麻烦，检测效率低，因此，现有技术中仍存在缺点和不足之处。
技术实现思路
1、本技术的目的是为了提供一种新型导通仪，以解决上述
技术介绍
中所提出的问题。
2、为了解决上述问题本技术所采取的技术方案：
3、一种新型导通仪，包括具有空腔结构的盒体，所述盒体内安装有电源，盒体的顶面上安装有检测台与若干个信号灯，每个信号灯与电源之间均通过电线电连接，所述检测台的顶面上竖直安装有第一导电柱与若干个第二导电柱，所述第二导电柱的数量与信号灯数量相等，且若干个第二导电柱与若干个信号灯之间分别通过电线一一电连接，所述第一导电柱与电源之间通过电线电连接。
4、进一步的，所述检测台的顶面上开设有限位凹槽，所述第一导电柱与第二导电柱均位于限位凹槽内。
5、进一步的，所述检测台与盒体之间通过若干个竖直分布
6、进一步的，所述盒体的顶面上竖直开设有与检测台位置相对的安装口。
7、进一步的，所述盒体的正面开口，且盒体的正面开口位置设置有封盖，所述封盖与盒体之间通过若干个连接螺栓相连接。
8、进一步的，所述盒体底面的四角内均镶嵌有磁铁。
9、采用上述技术方案，本技术的有益效果：
10、本技术第二导电柱的数量、信号灯的数量与电子元件上电节点的数量相等，且第二导电柱的位置分别与电子元件上电节点的位置相对，第一导电柱的位置与电子元件上公共电节点的位置相对；通过设置电源、第一导电柱、若干个信号灯及若干个与信号灯数量相等的第二导电柱，在使用时，电源、第一导电柱、每个第二导电柱及与第二导电柱一一电连接的信号灯之间能够分别形成检测电路，在对电子元件进行检测时，将电子元件的底座放在检测台上，并使第一导电柱与公共电节点对准接触、使第二导电柱分别与电节点对准接触，当所有信号灯全亮时，电子元件为合格品；当其中一个信号灯不亮时，电子元件为次品，与现有技术相比，本技术在使用时一次便可检测出电子元件是否为合格品，操作简单，较为省时省力，从而能够提高对电子元件的检测效率。
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1.一种新型导通仪，其特征在于：包括具有空腔结构的盒体，所述盒体内安装有电源，盒体的顶面上安装有检测台与若干个信号灯，每个信号灯与电源之间均通过电线电连接，所述检测台的顶面上竖直安装有第一导电柱与若干个第二导电柱，所述第二导电柱的数量与信号灯数量相等，且若干个第二导电柱与若干个信号灯之间分别通过电线一一电连接，所述第一导电柱与电源之间通过电线电连接。
2.根据权利要求1所述的一种新型导通仪，其特征在于：所述检测台的顶面上开设有限位凹槽，所述第一导电柱与第二导电柱均位于限位凹槽内。
3.根据权利要求2所述的一种新型导通仪，其特征在于：所述检测台与盒体之间通过若干个竖直分布的沉头螺钉相连接。
4.根据权利要求3所述的一种新型导通仪，其特征在于：所述盒体的顶面上竖直开设有与检测台位置相对的安装口。
5.根据权利要求1所述的一种新型导通仪，其特征在于：所述盒体的正面开口，且盒体的正面开口位置设置有封盖，所述封盖与盒体之间通过若干个连接螺栓相连接。
6.根据权利要求1所述的一种新型导通仪，其特征在于：所述盒体底面的四角内均镶嵌有磁
...【技术特征摘要】
1.一种新型导通仪，其特征在于：包括具有空腔结构的盒体，所述盒体内安装有电源，盒体的顶面上安装有检测台与若干个信号灯，每个信号灯与电源之间均通过电线电连接，所述检测台的顶面上竖直安装有第一导电柱与若干个第二导电柱，所述第二导电柱的数量与信号灯数量相等，且若干个第二导电柱与若干个信号灯之间分别通过电线一一电连接，所述第一导电柱与电源之间通过电线电连接。
2.根据权利要求1所述的一种新型导通仪，其特征在于：所述检测台的顶面上开设有限位凹槽，所述第一导电柱与第二导电柱均位于限位凹槽内。
【专利技术属性】
技术研发人员：张长明，郭金惠楠，
申请(专利权)人：河南亿元密封科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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