【技术实现步骤摘要】
本申请涉及金属加工，特别涉及一种wic镶嵌超导线铜超比测量方法。
技术介绍
1、wic(wire in channel，镶嵌导线)镶嵌超导线是目前应用最广泛的超导体。在核磁共振成像仪(mri)、核磁共振谱仪(nmr)、大型粒子加速器及超导储能系统(smes)、磁约束核聚变装置(tokamak)等多个领域有着极其广泛的应用。
2、铜超比是wic镶嵌超导线非常重要的一项性能指标，目前测量铜超比主要采用铜溶解法，该方法存在以下缺陷：1)周期长效率低，测量一个样品需要40分钟；2)测量过程使用有污染的化学试剂hno3，wic作为主型产品测量铜超比时需使用大量的化学试剂，因此对环境会产生一定污染。
技术实现思路
1、本申请实施例提供了一种wic镶嵌超导线铜超比测量方法，用以解决现有技术中采用铜溶解法测量铜超比存在周期长和污染环境的问题。
2、一方面，本申请实施例提供了一种wic镶嵌超导线铜超比测量方法，包括：
3、获取wic镶嵌超导线的镀锡前样品和镀锡后样品；
4、将镀锡前样品中的镶嵌圆线和镶嵌铜槽线剥离；
5、测量镶嵌圆线的直径，确定镶嵌圆线的截面积；
6、测量镶嵌圆线的长度和质量，根据镶嵌圆线的截面积、长度和质量确定镶嵌圆线的铜超比；
7、测量镶嵌铜槽线的长度和质量；
8、测量镀锡后样品的长度和质量；
9、根据镶嵌圆线的铜超比、镶嵌铜槽线的长度和质量以及镀锡后样品的长度和质量确定镀
10、本申请中的一种wic镶嵌超导线铜超比测量方法，具有以下优点：
11、代替了铜溶解法进行铜超比测量，大幅度提高了测量效率，摆脱了铜超比测量对化学试剂的依赖，避免环境污染与测量员身体上的伤害。
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1.一种WIC镶嵌超导线铜超比测量方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种WIC镶嵌超导线铜超比测量方法，其特征在于，所述镶嵌圆线的质量和截面积关系如下式：
3.根据权利要求2所述的一种WIC镶嵌超导线铜超比测量方法，其特征在于，所述镀锡后样品中的无氧铜部分截面积计算如下式：
【技术特征摘要】
1.一种wic镶嵌超导线铜超比测量方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种wic镶嵌超导线铜超比测量方法，其特征在于，所述镶嵌圆线的...
【专利技术属性】
技术研发人员：王菲菲，郭强，王蒙，郭建华，董茂胜，刘彪彪，刘向宏，冯勇，
申请(专利权)人：西安聚能超导线材科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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