一种激光粒度仪的检测仓制造技术

本技术提供了一种激光粒度仪的检测仓，属于激光粒度仪技术领域。本技术为检测仓设计了可调节的预热组件，并为载物台设计了调节机构。在构造层面，本技术将检测空间设置于仓体内，分隔区位于检测空间旁侧，风道将分隔区和检测空间相分离，分隔区分为内分隔区和外分隔区，电热器设置于内分隔区中，在内分隔区中设置有窗体，穿线孔位于外分隔区中，热辐射头位于检测空间内部，热辐射头包括基座，支撑架，凹槽，炉丝，接线柱，基座位于支撑架上，支撑架位于检测空间内，凹槽位于基座上，在凹槽内设置有炉丝，接线柱位于炉丝端部。本技术使预热环节可调节，而且更加均一稳定，具有突出的技术优势。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及激光粒度仪，具体涉及一种激光粒度仪的检测仓。

技术介绍

1、激光粒度仪又称为激光粒度分析仪，是测量分析物理颗粒丰度的仪器，依据分散系统分为湿法测试仪器，干法测试仪器，干湿一体测试仪器其原理是光在传播中，波前受到与波长尺度相当的隙孔或颗粒的限制，以受限波前处各元波为源的发射在空间干涉而产生衍射和散射，衍射和散射的光能的空间分布与光波波长和隙孔或颗粒的尺度有关。用激光做光源，光为波长一定的单色光后，衍射和散射的光能的空间分布就只与粒径有关。对颗粒群的衍射，各颗粒级的多少决定着对应各特定角处获得的光能量的大小，各特定角光能量在总光能量中的比例，应反映着各颗粒级的分布丰度。按照这一思路可建立表征粒度级丰度与各特定角处获取的光能量的数学物理模型，进而研制仪器，测量光能，由特定角度测得的光能与总光能的比较推出颗粒群相应粒径级的丰度比例量。在激光粒度仪的运行中，需要对样品进行预热，而常规预热结构沿检测仓仓壁环绕式排布，其热量分布不均匀，而且难以调节作用位点。

技术实现思路

1、本技术旨在针对现有技术的技术缺陷，提供一种激光粒度仪的检测仓，以解决普通检测仓预热结构难以调节作用位点的技术问题。

2、为实现以上技术目的，本技术采用以下技术方案：

3、一种激光粒度仪的检测仓，包括仓体，检测空间，分隔区，风道，内分隔区，外分隔区，电热器，窗体，穿线孔，热辐射头；检测空间位于仓体内，分隔区位于检测空间旁侧，风道将分隔区和检测空间相分离，分隔区分为内分隔区和外分隔区，电热器设置于内分隔区中，在内分隔区中设置有窗体，穿线孔位于外分隔区中，热辐射头位于检测空间内部，热辐射头包括基座，支撑架，凹槽，炉丝，接线柱，基座位于支撑架上，支撑架位于检测空间内，凹槽位于基座上，在凹槽内设置有炉丝，接线柱位于炉丝端部。

4、优选的，在检测空间中设置有固定板，滑轨位于固定板上，举升架的一端与固定板转动连接，在举升架的另一端具有滑块，在滑块端部具有插头，插头与滑轨相配合，托架位于举升架上。

5、优选的，在托架上具有若干通孔。

6、优选的，托架的顶面与检测空间的顶壁相互平行。

7、优选的，在凹槽中设有卡槽，接线柱卡固在所述卡槽中。

8、优选的，在支撑架端部设有卡爪，基座卡固在所述卡爪上。

9、优选的，窗体为百叶窗结构。

10、本技术提供了一种激光粒度仪的检测仓，属于激光粒度仪
本技术为检测仓设计了可调节的预热组件，并为载物台设计了调节机构。在构造层面，本技术将检测空间设置于仓体内，分隔区位于检测空间旁侧，风道将分隔区和检测空间相分离，分隔区分为内分隔区和外分隔区，电热器设置于内分隔区中，在内分隔区中设置有窗体，穿线孔位于外分隔区中，热辐射头位于检测空间内部，热辐射头包括基座，支撑架，凹槽，炉丝，接线柱，基座位于支撑架上，支撑架位于检测空间内，凹槽位于基座上，在凹槽内设置有炉丝，接线柱位于炉丝端部。本技术使预热环节可调节，而且更加均一稳定，具有突出的技术优势。

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【技术保护点】

1.一种激光粒度仪的检测仓，其特征在于，包括仓体(1)，检测空间(2)，分隔区(3)，风道(4)，内分隔区(5)，外分隔区(6)，电热器(7)，窗体(8)，穿线孔(9)，热辐射头(10)；检测空间(2)位于仓体(1)内，分隔区(3)位于检测空间(2)旁侧，风道(4)将分隔区(3)和检测空间(2)相分离，分隔区(3)分为内分隔区(5)和外分隔区(6)，电热器(7)设置于内分隔区(5)中，在内分隔区(5)中设置有窗体(8)，穿线孔(9)位于外分隔区(6)中，热辐射头(10)位于检测空间(2)内部，热辐射头(10)包括基座(11)，支撑架(12)，凹槽(13)，炉丝(14)，接线柱(15)，基座(11)位于支撑架(12)上，支撑架(12)位于检测空间(2)内，凹槽(13)位于基座(11)上，在凹槽(13)内设置有炉丝(14)，接线柱(15)位于炉丝(14)端部。

2.根据权利要求1所述的一种激光粒度仪的检测仓，其特征在于，在检测空间(2)中设置有固定板(16)，滑轨(17)位于固定板(16)上，举升架(18)的一端与固定板(16)转动连接，在举升架(18)的另一端具有滑块(19)，在滑块(19)端部具有插头(20)，插头(20)与滑轨(17)相配合，托架(21)位于举升架(18)上。

3.根据权利要求1所述的一种激光粒度仪的检测仓，其特征在于，在托架(21)上具有若干通孔。

4.根据权利要求1所述的一种激光粒度仪的检测仓，其特征在于，托架(21)的顶面与检测空间(2)的顶壁相互平行。

5.根据权利要求1所述的一种激光粒度仪的检测仓，其特征在于，在凹槽(13)中设有卡槽，接线柱(15)卡固在所述卡槽中。

6.根据权利要求1所述的一种激光粒度仪的检测仓，其特征在于，在支撑架(12)端部设有卡爪，基座(11)卡固在所述卡爪上。

7.根据权利要求1所述的一种激光粒度仪的检测仓，其特征在于，窗体(8)为百叶窗结构。

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【技术特征摘要】

1.一种激光粒度仪的检测仓，其特征在于，包括仓体(1)，检测空间(2)，分隔区(3)，风道(4)，内分隔区(5)，外分隔区(6)，电热器(7)，窗体(8)，穿线孔(9)，热辐射头(10)；检测空间(2)位于仓体(1)内，分隔区(3)位于检测空间(2)旁侧，风道(4)将分隔区(3)和检测空间(2)相分离，分隔区(3)分为内分隔区(5)和外分隔区(6)，电热器(7)设置于内分隔区(5)中，在内分隔区(5)中设置有窗体(8)，穿线孔(9)位于外分隔区(6)中，热辐射头(10)位于检测空间(2)内部，热辐射头(10)包括基座(11)，支撑架(12)，凹槽(13)，炉丝(14)，接线柱(15)，基座(11)位于支撑架(12)上，支撑架(12)位于检测空间(2)内，凹槽(13)位于基座(11)上，在凹槽(13)内设置有炉丝(14)，接线柱(15)位于炉丝(14)端部。

2.根据权利要求1所述的一种激光粒度仪的检测仓，其特征在于，在检测空间...

【专利技术属性】
技术研发人员：王成亮，
申请(专利权)人：山东耐克特分析仪器有限公司，
类型：新型
国别省市：