【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及同轴度检测，特别是涉及检测装置及同轴度检测方法。
技术介绍
1、同轴度检测，主要应用于旋转体，类似轴类轴承类零件居多，一般为精密结构件，对于检测面并未有明确外观要求（如检测过程引入的划痕，线纹等是可接受的），因此绝大部分检测同轴度方式均为接触式测量，其结构简单，应用场景广泛且具有通用性。
2、对于光学产品的反射区域的检测，需要采用激光检测这种非接触式方式，采用点光源多次折射进行分光，从而进行单面非接触式弧度同轴度检测，可有效避免产品划伤等问题。分光法激光测量，可进行单面弧度同轴度检测，但无法反馈相邻旋转面之间与旋转轴心间的同轴关系；同时，由于多次折射，折射透镜的精度影响测量精度，与实测数据存在偏差可能。
技术实现思路
1、基于此，有必要针对现有技术中分光法激光测量对于反射区域的同轴度的检测存在偏差较大的技术问题，提供一种检测装置及同轴度检测方法。
2、一种同轴度检测方法，所述同轴度检测方法包括如下步骤：
3、将待检测工件固定于检测装置上；
4、转动所述待检测工件以使所述检测装置上的光源发出的光束照射至所述待检测工件上的待检测区域，所述光源设于所述检测装置的测量面；
5、利用所述测量面读取所述光源与所述光束经所述待检测区域反射至所述测量面上形成的光斑之间的距离；
6、根据所述距离计算所述待检测区域所在的轴线与所述待检测工件的基准轴线之间的偏差值，作为所述待检测区域的同轴度；
7、其中，所
8、在其中一个实施例中，所述根据所述距离计算所述待检测区域所在轴线与所述待检测工件的基准轴线之间偏差值，采用如下公式：
9、
10、其中，λ表示所述待检测区域所在轴线与所述待检测工件的基准轴线之间的偏差值；
11、l表示工件中待检测区域沿所述待检测工件的基准轴线的高度；
12、d表示所述测量面与所述待检测工件的基准轴线之间的距离；
13、s表示光源与所述光束经所述待检测区域反射至所述测量面上形成的光斑之间的距离。
14、一种检测装置，所述检测装置包括：
15、检测平台，构造有测量面；
16、旋转平台，可转动地连接于所述检测平台，并与所述测量面相间隔；
17、光源，设于所述测量面；
18、其中，待检测工件可拆卸地固定于所述旋转平台上，所述光源发出的光束能够照射至所述待检测工件上，所述待检测工件的待检测区域能够将所述光束反射至所述测量面上并形成光斑；
19、所述测量面用于检测所述光源与所述光斑之间的距离。
20、在其中一个实施例中，所述检测平台包括：
21、测量部，所述测量面设置于所述测量部朝向所述旋转平台的一侧；
22、连接部，一端与所述测量部固定连接；
23、支撑部，与所述连接部的另一端固定连接，所述支撑部、连接部及所述测量部之间围合限定出避让凹槽，所述旋转平台可转动地连接于所述支撑部。
24、在其中一个实施例中，所述待检测工件安装于所述旋转平台上时，所述待检测工件的最高点在所述测量面所在的平面内的投影位于所述测量面内。
25、在其中一个实施例中，所述测量面上设置有测量刻度。
26、在其中一个实施例中，所述检测装置还包括旋转筒夹，所述旋转筒夹的一端固定于所述旋转平台上的安装孔内，所述待检测工件通过所述旋转筒夹的另一端锁紧。
27、在其中一个实施例中，所述安装孔上设置有内螺纹；所述旋转筒夹的一端设置有外螺纹，以与所述螺纹孔螺纹配合；
28、所述旋转筒夹的另一端设置有可变径的锁孔，当所述待检测工件的端部插入至所述锁孔内时，通过所述外螺纹与所述内螺纹的配合以使所述锁孔的孔径缩小，并锁紧所述待检测工件。
29、在其中一个实施例中，所述旋转平台被构造为回转体结构，所述旋转平台的周面上设置有角度测量刻度。
30、在其中一个实施例中，所述检测装置还包括轴承，所述旋转平台与所述检测平台通过所述轴承可转动连接。
31、本专利技术的有益效果：
32、本专利技术提供了一种同轴度检测方法，主要用于检测激光雷达用的转镜的同轴度。通过将待检测工件固定在检测装置的旋转平台上，以使得旋转平台相对检测平台转动时，待检测工件就能相对检测平台转动，这样就能通过一次装夹对待检测工件的不同位置的同轴度进行检测。利用待检测工件能够将光束返回至测量面并在测量面上形成光斑，从而通过检测光源与光斑之间的距离，然后通过计算便可得到待检测工件的待检测位置与基准轴线之间的偏差，从而得到待检测工件的同轴度。通过如上的方法，使得在检测待检测工件的同轴度时，采用非接触式的单点光源反射方案，未对镜面反射面造成接触性磨损，能够有效进行无损检测。
33、本专利技术还提供了一种检测装置，检测装置中的检测平台用于支撑和安装旋转平台、光源以及待检测工件。通过将旋转平台可转动地连接在检测平台上，将待检测工件与旋转平台可拆卸固定，以使得旋转平台相对检测平台转动时，待检测工件就能相对检测平台转动，这样就能通过一次装夹对待检测工件的不同位置的同轴度进行检测。通过在检测平台上设置测量面，通过将光源安装在测量面上，并且将待检测工件与待测量面设置为相间隔地形式，通过光源能够发射光束，并利用待检测工件能够将光束返回至测量面并在测量面上形成光斑，从而通过检测光源与光斑之间的距离，然后通过计算便可得到待检测工件的待检测位置与基准轴线之间的偏差，从而得到待检测工件的同轴度。通过如上的结构形式，使得在检测待检测工件的同轴度时，采用非接触式的单点光源反射方案，未对镜面反射面造成接触性磨损，能够有效进行无损检测。而通过单点光源与待检测工件的反射面之间的反射，无需引入滤光片、分光片等高精度器件，结构简单易操作，而且能够真实有效地反馈检测数据，并且通过待检测工件的转动能够有效反馈多个反射面与旋转中心之间的同轴度参数。
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1.一种同轴度检测方法，其特征在于，所述同轴度检测方法包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的同轴度检测方法，其特征在于，所述根据所述距离计算所述待检测区域所在轴线与所述待检测工件的基准轴线之间的偏差值，采用如下公式：
3.一种检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：
4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述检测平台包括：
5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述待检测工件安装于所述旋转平台上时，所述待检测工件的最高点在所述测量面所在的平面内的投影位于所述测量面内。
6.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述测量面上设置有测量刻度。
7.根据权利要求3-6中任意一项所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括旋转筒夹，所述旋转筒夹的一端固定于所述旋转平台上的安装孔内，所述待检测工件通过所述旋转筒夹的另一端锁紧。
8.根据权利要求7所述的检测装置，其特征在于，所述安装孔上设置有内螺纹；所述旋转筒夹的一端设置有外螺纹，以与所述螺纹孔螺纹配合；
9.根据权利要求
10.根据权利要求3-6中任意一项所述的检测装置，其特征在于，所述检测装置还包括轴承，所述旋转平台与所述检测平台通过所述轴承可转动连接。
...【技术特征摘要】
1.一种同轴度检测方法，其特征在于，所述同轴度检测方法包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的同轴度检测方法，其特征在于，所述根据所述距离计算所述待检测区域所在轴线与所述待检测工件的基准轴线之间的偏差值，采用如下公式：
3.一种检测装置，其特征在于，所述检测装置包括：
4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述检测平台包括：
5.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述待检测工件安装于所述旋转平台上时，所述待检测工件的最高点在所述测量面所在的平面内的投影位于所述测量面内。
6.根据权利要求4所述的检测装置，其特征在于，所述测量面上设置有测量刻度。
【专利技术属性】
技术研发人员：陈铭汉，
申请(专利权)人：佛山华智新材料有限公司，
类型：发明
国别省市：
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