【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及图像处理领域，尤其涉及一种x射线能谱探测器能级测定方法与装置。
技术介绍
1、由于x射线具有较强的穿透性，常用于医疗诊断和工业无损检测领域。双能x射线平板探测器可通过上层x射线传感器获得低能图像，x射线经滤过层后通过下层x射线传感器获得高能图像，因两层平板同时成像，所以可消除两次曝光法中的运动伪影现象，同时也能降低对病人的辐射剂量、降低对x射线系统的要求。
2、在现有技术中，确认高低能平均能级的方式主要是通过多次迭代不同能级下的物质分解系数，计算得到不同能级下的物质分解图像，并通过一些算法手段评估物质分解图像的好坏，最终确认高低能的平均能级。该方法不但因迭代次数较多导致效率较低，且通过算法评估的最优分解效果可能与实际的最优分解效果偏差较大，导致最终确认的高低能平均能级与实际不符，且无法再次重新确认高低能平均能级。
技术实现思路
1、本专利技术所要解决的技术问题是，提供一种x射线能谱探测器能级测定方法与装置，快速确定双层x射线能谱探测器高能与低能的平均能级。
2、本专利技术实施例一方面提供了一种x射线能谱探测器能级测定方法，包括：
3、向能级计算模体照射x射线，分别得到双层x射线能谱探测器上层输出的所述能级计算模体的第一图像和下层输出的所述计算模体的第二图像；
4、根据预设的初始物质分解系数，对所述第一图像和所述第二图像进行物质分解计算，得到物质分解图像；
5、根据所述物质分解图像的图像参数确定目标物质分解系数
6、根据所述目标物质分解系数和预设的物质分解系数和能级的对应关系，确认双层x射线能谱探测器的上层和下层的平均能级。
7、本专利技术实施例另一方面提供了一种x射线能谱探测器能级测定装置，包括：
8、图像获取模块，用于向能级计算模体照射x射线，分别得到双层x射线能谱探测器上层输出的所述能级计算模体的第一图像和下层输出的所述计算模体的第二图像；
9、物质分解模块，用于根据预设的初始物质分解系数，对所述和所述第二图像进行物质分解计算，得到物质分解图像；
10、系数确定模块，用于根据所述物质分解图像的图像参数确定目标物质分解系数；
11、能级确定模块，用于根据所述目标物质分解系数和预设的物质分解系数和能级的对应关系，确认双层x射线能谱探测器的上层和下层的平均能级。
12、本专利技术提供的各实施例，通过向能级计算模体照射x射线，分别得到双层x射线能谱探测器上层输出的能级计算模体的第一图像和下层输出的计算模体的第二图像，根据预设的初始物质分解系数，对第一图像和第二图像进行物质分解计算，得到物质分解图像，根据物质分解图像的图像参数确定目标物质分解系数，以及，根据预设的物质分解系数和能级的对应关系，确认双层x射线能谱探测器的上层和下层的平均能级，可以实现快捷高效确定双层x射线能谱探测器的平均能级，方便后续双层x射线能谱探测器的物质分解应用，无需再进行额外的实验来确认双层x射线能谱探测器的平均能级，节约成本和时间。
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1.一种双层X射线能谱探测器能级测定方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述能级计算模体包括两种能级物质；
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述物质分解图像的图像参数确定目标物质分解系数包括：
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述计算所述软组织图像的平滑度包括：
5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述向能级计算模体照射X射线之前包括：
6.一种双层X射线能谱探测器能级测定装置，其特征在于，包括：
7.如权利要求6所述的装置，其特征在于，所述能级计算模体包括两种能级物质；
8.如权利要求7所述的装置，其特征在于，所述系数确定模块，还用于计算所述软组织物质图像的平滑度，并确定所述平滑度最大值对应的物质分解系数为所述目标物质分解系数。
9.如权利要求8所述的装置，其特征在于，所述系数确定模块，还用于提取所述软组织图像的强边沿图像；
10.如权利要求9所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：
【技术特征摘要】
1.一种双层x射线能谱探测器能级测定方法，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述能级计算模体包括两种能级物质；
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述物质分解图像的图像参数确定目标物质分解系数包括：
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述计算所述软组织图像的平滑度包括：
5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述向能级计算模体照射x射线之前包括：
6.一种双层x射线能谱探...
【专利技术属性】
技术研发人员：童泽京，叶超，郑晗，
申请(专利权)人：深圳市安健科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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