一种有机电致发光二极管寿命检测仪制造技术

本发明专利技术公开了一种有机电致发光二极管寿命检测仪，包括微处理器、显示与提示电路、参数设置电路、数据存储电路、时基电路、温度测量电路、通信接口电路、数控电压输出电路、数控恒流源电路和测量电路。数控电压输出电路向被测二极管提供电压，数控恒流源电路向被测二极管提供恒流源；测量电路与被测二极管连接以测量被测二极管的电压和发光强度。本发明专利技术不仅提供可调的电压，同时也提供了在设定电压下的恒流输出特性，通过外部键盘设置电压值和恒流值，并通过检测电路进行测量和调整，提供了稳定的测试电压和电流，提高了测量的准确性。另外本发明专利技术可以测量被测样品的环境温度，这样在要求高精度测量的情况下，可以利用温度对亮度测量结果进行校正。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于有机电致发光二极管检测领域，涉及一种检测仪，尤其是一种对有机 电致发光二极管进行寿命检测的检测仪。
技术介绍
0LED显示器件是一种响应速度快、无视角的发光器件，但同时它也是一种有机物， 存在着老化及使用寿命等问题，因此使用寿命成为制约0LED的关键因素。在0LED显示器 件的研制过程中，对其寿命的测量是表征器件性能的重要指标。目前，用于0LED寿命测量 的仪器种类很少，实验室、工厂使用的操作也十分不便，还没有一种功能比较完整的对有机 电致发光器件的寿命进行自动测试的装置。现有技术中种类很少的0LED寿命测量仪器，可 以对被测量器件提供测量电压，或者只能提供固定的恒流输出。
技术实现思路
本专利技术的目的在于克服上述现有技术的缺点，提供一种有机电致发光二极管寿命 检测仪，该检测仪可以按照测试的不同要求，即可调整施加到被测器件两端的电压，又可以 在特定电压下提供可调的恒流输出，并且该检测仪还可以测量环境温度，能够满足适合于 对不同器件的测量要求。本专利技术是通过以下技术方案来解决的这种有机电致发光二极管寿命检测仪，包 括微处理器、显示与提示电路、参数设置电路、数据存储电路、时基电路、温度测量电路、通 信接口电路、数控电压输出电路、数控恒流源电路和测量电路，所述微处理器分别与显示与 提示电路、参数设置电路、数据存储电路、时基电路、温度测量电路和通信接口电路连接，所 述数控电压输出电路和数控恒流源电路分别通过D/A转换电路与微处理器连接，所述测量 电路通过A/D转换电路与微处理器连接，所述数控恒流源电路还与测量电路连接；所述数 控电压输出电路向被测二极管提供电压，数控恒流源电路向被测二极管提供恒流源；所述 测量电路与被测二极管连接以测量被测二极管的电压和发光强度。上述微处理器是LM3S1138。进一步的，以上所述LM3S1138中的数据存储器作为数据存储电路；以LM3S1138中 自带的内部温度传感器作为温度测量电路。上述显示与提示电路包括IXD液晶显示器和红色发光二极管；所述IXD液晶显示 器的型号为LM12864。上述数控电压输出电路包括第一数模转换器、第一至六电阻、第一、二运算放大 器、第二、三电解电容和第一三极管；第一数模转换器为DAC7513，其Vd端同时连接到第二、 三电解电容的一端，输出端Vout接连接到第一、四电阻，所述第四电阻的另一端接地，第一 电阻的另一端接第一运算放大器的同相输入端，第一运算放大器的反相输入端连接第五电阻后接地，第一运算放大器的反相输入端同时经第六电阻与第一运算放大器的输出端相 连，第一运算放大器的输出端经第二电阻接入第二运算放大器的同相输入端，电源电压从 第一三极管的集电极输入，由第一三极管的发射极输出后经第三电阻接第二运算放大器的 反相输入端，第二运算放大器的输出端接第一三极管的基极。上述数控恒流源电路包括第二数模转换器、第七、九、十电阻、第三运算放大器、第 四、五电解电容和第二三极管；所述第二数模转换器为DAC7513，其Vd端接第四、五电解电 容，第二数模转换器的输出端Vout接第十电阻，第十电阻的另一端接地，第二数模转换器 的输出端Vout还连接第三运算放大器的同相输入端，第三运算放大器的反相输入端连接 第二三极管的源极后经第九电阻接地，第三运算放大器的输出端经第七电阻接入第二三极 管的栅极，第二三极管的漏极连接被测0LED元件；所述第二三极管是IRLZ24N。在上述测量电路上连接被测0LED元件，所述测量电路包括光电池、第八、十一、 十三电阻、第四、五、六运算放大器、第六、七电容和可变变阻器，所述光电池置于被测二极 管附近，光电池的一端接地，另一端连接到第六运算放大器的反相输入端，第六运算放大器 的同相输入端接地，第六运算放大器的反相输入端和输出端之间分别接第十三电阻和第七 电容，所述第六运算放大器的输出端连接第十二电阻后接到第五运算放大器的反相输入 端，第五、六运算放大器的同相输入端均接地，第五运算放大器的反相输入端和输出端之间 分别连接第六电容和可变电阻，所述可变电阻还串联有第十一电阻，第五运算放大器的输 出端接微处理器；所述被测0LED元件的一端连电源和第一电容后接地，另一端通过第八电 阻接第四运算放大器的同相输入端，第四运算放大器的反相输入端和输出端相连后接入微 处理器的ADC0端。进一步，以上所述第一、二运算放大器、第三运算放大器、第四、五、六运算放大器 均为LM324。本专利技术具有以下有益效果本专利技术的电路不仅提供了可调的电压，同时也提供了 在设定电压下的恒流输出特性，通过外部键盘设置电压值和恒流值，并通过检测电路进行 测量和调整，提供了稳定的测试电压和电流，提高了测量的准确性。另外本专利技术可以测量被 测样品的环境温度，这样在要求高精度测量的情况下，可以利用温度对亮度测量结果进行 校正。附图说明图1为本专利技术的原理框图；图2为本专利技术涉及数控电压输出电路1、数控恒流源电 路2和测量电路3的电路图；图3为本专利技术的显示与提示电路；图4为本专利技术的参数设置电路。具体实施例方式下面结合附图对本专利技术做进一步详细描述图1是本专利技术的有机电致发光二极管 寿命检测仪的各部分连接框图，如图中所示该检测仪包括微处理器、显示与提示电路、参 数设置电路、数据存储电路、时基电路、温度测量电路、通信接口电路、数控电压输出电路1、 数控恒流源电路2和测量电路3。其中微处理器分别与显示与提示电路、参数设置电路、数 据存储电路、时基电路、温度测量电路和通信接口电路连接。数控电压输出电路1和数控恒流源电路2分别通过D/A转换电路与微处理器连接。测量电路3通过A/D转换电路与微处 理器连接，数控恒流源电路2还与测量电路3连接。本专利技术的微处理器用于数据采集、数据计算、信号控制、信号传送、温度测量、数模 转换等功能。数控电压输出电路1向被测二极管提供电压，数控恒流源电路2向被测二极 管提供恒流源。测量电路3与被测二极管连接以测量被测二极管的电压和发光强度。数据 存储电路用于对所测量的数据进行暂时的存储，再通过通信接口电路传送到上位机。本发 明的温度测量电路主要功能是测量0°C 100°C的环境温度。通信接口电路主要用于微处 理器向PC机传送测量数据，通过MAX485接口实现。以下结合图2对图1本专利技术中具有创新之处的三部分电路的连接关系做进一步详 细描述数控电压输出电路1 数控电压输出电路1包括第一数模转换器U1、第一至六电阻 R1-R6、第一、二运算放大器U2A、U2B、第二、三电解电容C2、C3和第一三极管Q1 ；第一数模转 换器U1为DAC7513，其Vd端同时连接到第二、三电解电容C2、C3的一端，输出端Vout接连 接到第一、四电阻Rl、R4，所述第四电阻R4的另一端接地，第一电阻R1的另一端接第一运 算放大器U2A的同相输入端，第一运算放大器U2A的反相输入端连接第五电阻R5后接地， 第一运算放大器U2A的反相输入端同时经第六电阻R6与第一运算放大器U2A的输出端相 连，第一运算放大器U2A的输出端经第二电阻R2接入第二运算放大器U2B的同相输入端， 电源电压从第一三极管Q1的集电极输入，由第一三极管Q1的发射极输出后经第三电阻R3 接第二运算放大器U2B的反相输入端，第二运算本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种有机电致发光二极管寿命检测仪，包括微处理器、显示与提示电路、参数设置电路、数据存储电路、时基电路、温度测量电路和通信接口电路，其特征在于：还包括有数控电压输出电路（１）、数控恒流源电路（２）和测量电路（３），所述微处理器分别与显示与提示电路、参数设置电路、数据存储电路、时基电路、温度测量电路和通信接口电路连接，所述数控电压输出电路（１）和数控恒流源电路（２）分别通过Ｄ／Ａ转换电路与微处理器连接，所述测量电路（３）通过Ａ／Ｄ转换电路与微处理器连接，所述数控恒流源电路（２）还与测量电路（３）连接；所述数控电压输出电路（１）向被测二极管提供电压，数控恒流源电路（２）向被测二极管提供恒流源；所述测量电路（３）与被测二极管连接以测量被测二极管的电压和发光强度。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：党宏社，张芳，张震强，张方辉，
申请(专利权)人：陕西科技大学，
类型：发明
国别省市：87[中国|西安]