【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电连接器，具体为考虑插孔收口量与镀金层厚度的电连接器接触件评估方法。
技术介绍
1、电连接器是航天型号系统中承担电路连接及电信号传输等功能的重要电子元器件，而接触件作为实现电连接器电信号传递功能的关键组件，其可靠性水平将直接影响电连接器的整体可靠性。在各组件中，接触件作为影响电连接器可靠性的关键组件之一，其接触性能好坏能够直接影响电连接器的总体可靠性水平。
2、传统的研究方法通常是对电连接器整体进行多方面性能考察，但随着科技的不断发展，电连接器的型号规格逐渐增多，若要通过试验完成对每一型号电连接器的可靠性评估需要耗费大量的人力、物力与财力，且耗费的时间周期较长，试验难以做到全部覆盖。
3、由于不同镀金层厚度与不同收口量对接触件接触性能退化或其贮存寿命的影响程度不同，故为深入探究这两项设计参数对电连接器接触件贮存寿命的影响规律，有必要从失效机理角度，揭示收口量与镀金层厚度在贮存条件下对接触件接触性能退化的影响机理，建立考虑收口量与镀金层厚度的接触性能退化模型，评估不同收口量与镀层厚度水平下的接触件贮存寿命，为电连接器接触件的贮存寿命评估提供理论基础数据。
技术实现思路
1、(一)解决的技术问题
2、针对现有技术的不足，本专利技术提供了考虑插孔收口量与镀金层厚度的电连接器接触件评估方法，解决了上述
技术介绍
中提出的问题。
3、(二)技术方案
4、为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：考虑插孔收口量与镀
5、s101：建立考虑收口量及镀金层厚度的接触件贮存可靠性模型，具体如下：
6、优选的，接触力学模型：
7、插拔力fc满足下列关系式
8、
9、式中，n为插孔的簧片数；μ为标准针(为测试插孔的插拔力而制作的外径尺寸及表面粗糙度满足要求的测试光针)与插孔之间的摩擦系数；e表示插孔簧片材料的弹性模量；表示插孔各簧片的平均收口量；如图2，r1为簧片根部内径即簧片收口前的内壁半径；r2为插针表面半径；如图3，r3、r4分别表示簧片外、内半径；l为簧片悬臂端总长度；rk为简化后插孔簧片圆角在接触区的曲率半径。
10、优选的，退化轨迹模型：
11、接触件在t时刻下接触性能的退化轨迹模型，可表示为:
12、r＝r0+αctβ
13、式中，r0，β为与温度应力无关的模型参数；ac表示接触性能退化率；
14、优选的，接触件接触性能加速退化方程：
15、退化率αc的对数正态均值表达式如下
16、
17、式中，e(·)表示数学期望；z1＝lna，a为与镀金层厚度、收口量和温度均无关的常数；z2＝-βδe/k；c＝2β；
18、优选的，贮存可靠性统计模型：
19、记首次超过失效阈值的时间为接触件在相应应力水平下的寿命。设接触件寿命值为te，接触电阻的失效阈值为d，在t时刻下，接触件的可靠度函数为；
20、
21、式中，φ{·}表示标准正态分布函数；其中μα表示退化率αc的对数正态均值，σα表示退化率αc的对数正态标准差。
22、s102：制定电连接器接触件加速试验方案：
23、确认研究对象的基体材料、镀金层厚度和收口后插孔插拔力；试验加速因子，将温度作为加速因子，在失效机理不变的前提下，通过升高温度以加速接触件接触性能退化速率；确认试验应力水平，取应力水平数大于等于4，分别取最低应力水平，最高温度应力水平和中间应力水平；确认试验样本量，取试验样本量大于等于10只；确认测量时间间隔，根据10℃法则确定各温度应力水平下的测量时间间隔；确认测试参数及其失效判据，接触件测试状态为插头和接触件，当接触电阻大于某个值时，即认为接触件发生了接触失效；按照实验要求在实验开展前完成准备；采用“开尔文四线法”测量接触件接触电阻为试验测试方法；基于正交试验法制作正交表作为试验组合方式，以收口式接触件为试验对象，根据接触件的读层厚度和插拔力标定值初步制定加速试验方案。
24、s103：接触件贮存寿命评估：
25、优选的，各收口量组别下的接触可靠度寿命函数：
26、tr＝exp{[σαφ-1(1-re,i)+ln(d-r0)-μα,i]/β}
27、分别代入参数计算不同收口量下不同镀层厚度接触件在贮存温度下的可靠性寿命估计值。
28、(三)有益效果
29、本专利技术提供了考虑插孔收口量与镀金层厚度的电连接器接触件评估方法。
30、具备以下有益效果：
31、1、本方案以开槽收口式接触件为研究对象，为其在贮存条件下的寿命评估提供参考方法和参考依据，从失效机理角度，揭示收口量与镀金层厚度在贮存条件下对接触件接触性能退化的影响机理，建立考虑收口量与镀金层厚度的接触性能退化模型，评估不同收口量与镀层厚度水平下的接触件贮存寿命，为电连接器接触件的贮存寿命评估提供理论基础数据。
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1.考虑插孔收口量与镀金层厚度的电连接器接触件评估方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的考虑插孔收口量与镀金层厚度的电连接器接触件评估方法，其特征在于，所述S101具体包括：
3.根据权利要求1所述的考虑插孔收口量与镀金层厚度的电连接器接触件评估方法，其特征在于，所述S101具体包括：
4.根据权利要求1所述的考虑插孔收口量与镀金层厚度的电连接器接触件评估方法，其特征在于，所述S101具体包括：
5.根据权利要求1所述的考虑插孔收口量与镀金层厚度的电连接器接触件评估方法，其特征在于，所述S102具体包括：
6.根据权利要求5所述的考虑插孔收口量与镀金层厚度的电连接器接触件评估方法，其特征在于，所述S1027具体包括：
7.根据权利要求1所述的考虑插孔收口量与镀金层厚度的电连接器接触件评估方法，其特征在于，所述S103具体包括：
【技术特征摘要】
1.考虑插孔收口量与镀金层厚度的电连接器接触件评估方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的考虑插孔收口量与镀金层厚度的电连接器接触件评估方法，其特征在于，所述s101具体包括：
3.根据权利要求1所述的考虑插孔收口量与镀金层厚度的电连接器接触件评估方法，其特征在于，所述s101具体包括：
4.根据权利要求1所述的考虑插孔收口量与镀金层厚度的电连接器接触件评估方法...
【专利技术属性】
技术研发人员：涂天颖，钱萍，陈文华，张国泰，施佳煜，章健，
申请(专利权)人：浙江理工大学，
类型：发明
国别省市：
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