本发明专利技术提出一种激光器测试系统，包括光谱分析仪，用于测试激光器输出激光的光谱特性；多个工位，工位用于放置被测试的激光器；光开关，光开关与工位通过第一光纤耦合，光开关与光谱分析仪通过第二光纤耦合，光开关用于分时地将工位与光谱分析仪光路连通。本发明专利技术的激光器测试系统，通过光开关将多个工位与光谱分析仪光路连通，进而将被测试激光器输出的激光传输到光谱分析仪中，光谱分析仪测试不同工位的激光光谱特性，实现单台光谱分析仪分时测试多个工位上的激光器，从而大大提高了高价值的光谱分析仪的使用率，节约了生产成本，有利于实现激光测试的自动化。本发明专利技术还提出一种激光器测试方法。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及激光器测试，尤其涉及一种激光器测试系统及测试方法。
技术介绍
1、在工业应用中，光纤激光器的需求数量越来越多，激光器的单纤输出功率越来越高，目前已经达到10kw量级。随着激光功率的增加，光纤中的非线性效应，如受激拉曼散射(srs)、受激布里渊散射(sbs)、四波混频(fwm)等，也越来越强，非线性效应已经成为限制激光输出功率的一个主要因素。在高功率激光器产品生产过程中，需要测试输出激光的光谱特性，确保光纤激光器中拉曼光、残余泵浦光的光谱能够满足要求，确保不会影响应用效果。
2、现有技术中，如图1所示，光纤激光器生产过程中，为了测试激光的输出光谱特性，需要采用激光器测试系统。现有的激光器测试系统是在每个生产工位200配备一台光谱分析仪100，或者若干个激光生产工位共用一台光谱分析仪，生产工位200和光谱分析仪100之间连接一根光纤300，该光纤能够将测试激光器的散射或反射光耦合到光谱分析仪中。光谱分析仪100进而直接测试光纤耦合输入的激光信号，并最终得到激光器的光谱特性。
3、在实现本专利技术过程中，专利技术人发现现有技术中至少存在以下问题：高精度的光谱分析仪等测试设备价格昂贵，生产需求的增加，如果每一个生产工位配备一个光谱分析仪，导致光谱分析仪的数量增加，增加了激光器的制造成本。如果多个生产工位共用一个光谱分析仪，需要将光谱分析仪在每个工位来回移动，这会导致操作人员来回移动设备，增加生产工时，也会使生产成本增加，不便于实现自动化。
技术实现思路
>1、本专利技术旨至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。2、为此，本专利技术的目的在于提出一种效率较高地激光器测试系统及测试方法,实现单台光谱分析仪分时测试多个生产工位的激光器。
3、为达到上述目的，本专利技术第一方面提出一种激光器测试系统，包括：
4、光谱分析仪，用于测试激光器输出激光的光谱特性；
5、多个工位，所述工位用于放置被测试的激光器；
6、光开关，所述光开关与所述工位通过第一光纤耦合，所述光开关与所述光谱分析仪通过第二光纤耦合，所述光开关用于分时地将所述工位与所述光谱分析仪光路连通。
7、根据本专利技术的激光器测试系统，通过光开关分时地将多个工位与光谱分析仪光路连通，进而将被测试激光器输出的激光传输到光谱分析仪中，光谱分析仪分时地测试不同工位的激光光谱特性，实现单台光谱分析仪分时测试多个工位上的激光器，从而大大提高了高价值的光谱分析仪的使用率，节约了生产成本，有利于实现激光测试的自动化。
8、根据本专利技术的一个实施例，所述光开关与所述工位通过控制信号线通信连接，所述工位用于发出与所述光谱分析仪光路连通的请求，所述光开关用于接收所述光路连通的请求，在满足预定条件的情况下分时地将所述工位与光谱分析仪光路连通，返给所述工位连接成功的信号。
9、根据本专利技术的一个实施例，所述工位与所述光谱分析仪通过信号传输线通信连接，所述工位用于接收到所述连接成功的信号后，向所述光谱分析仪发送测试指令。
10、根据本专利技术的一个实施例，所述光开关用于根据自身工作状态判断是否满足预定条件，若自身处于非执行任务状态则满足预定条件，反之则不满足预定条件。
11、根据本专利技术的一个实施例，所述光开关用于比较当前激光器的测试时长是否达到预设时长，若测试时长达到预设时长，则满足预定条件，反之，则不满足预定条件。
12、根据本专利技术的一个实施例，所述光谱分析仪还用于接收到所述测试指令后，测试所述工位上的激光器输出激光的光谱特性，并将测试结果返给所述工位。
13、本专利技术的第二方面提出一种激光器测试方法，包括：
14、光开关分时地将工位与光谱分析仪的光路连通，光谱分析仪对连接成功的工位上被测试的激光器输出的激光进行测试，其中工位的数量为多个，工位用于放置被测试的激光器。
15、根据本专利技术的激光器测试方法，通过光开关分时地将多个工位与光谱分析仪光路连通，进而将被测试激光器输出的激光传输到光谱分析仪中，光谱分析仪分时地测试不同工位的激光光谱特性，实现单台光谱分析仪分时测试多个工位上的激光器，从而大大提高了高价值的光谱分析仪的使用率，节约了生产成本，有利于实现激光测试的自动化。
16、根据本专利技术的一个实施例，所述光开关分时地将工位与光谱分析仪的光路连通包括：
17、工位给光开关发送与光谱分析仪光路连通的请求；
18、判断是否能够达到预定条件；
19、在满足预定条件的情况下，光开关将工位与光谱分析仪的光路连通。
20、根据本专利技术的一个实施例，所述光谱分析仪对连接成功的工位上被测试的激光器输出的激光进行测试包括：
21、光开关返给工位连接成功的信号；
22、连接成功的工位向光谱分析仪发送测试指令；
23、光谱分析仪测试激光器输出激光的光谱特性并将测试结果返给工位；
24、工位判断测试结果是否合格；
25、在合格的情况下，工位给光开关发送测试结束指令。
26、根据本专利技术的一个实施例，所述判断是否能够达到预定条件包括：
27、所述光开关判断自身是否处在非执行任务状态中，如果是则满足预定条件，反之则不满足预定条件；在不满足预定条件的情况下，光开关向工位发送需要等待的指令。
28、本专利技术附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本专利技术的实践了解到。
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【技术保护点】
1.一种激光器测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的激光器测试系统，其特征在于，所述光开关(400)与所述工位(200)通过控制信号线(700)通信连接，所述工位(200)用于发出与所述光谱分析仪(100)光路连通的请求，所述光开关(400)用于接收所述光路连通的请求，在满足预定条件的情况下分时地将所述工位(200)与光谱分析仪(100)光路连通，返给所述工位(200)连接成功的信号。
3.根据权利要求2所述的激光器测试系统，其特征在于，所述工位(200)与所述光谱分析仪(100)通过信号传输线(800)通信连接，所述工位(200)用于接收到所述连接成功的信号后，向所述光谱分析仪(100)发送测试指令。
4.根据权利要求2所述的激光器测试系统，其特征在于，所述光开关(400)用于根据自身工作状态判断是否满足预定条件，若自身处于非执行任务状态则满足预定条件，反之则不满足预定条件。
5.根据权利要求2所述的激光器测试系统，其特征在于，所述光开关(400)用于比较当前激光器的测试时长是否达到预设时长，若测试时长达到预设时长，则满足预定条件，反之，则不满足预定条件。
6.根据权利要求3所述的激光器测试系统，其特征在于，所述光谱分析仪(100)还用于接收到所述测试指令后，测试所述工位(200)上的激光器输出激光的光谱特性，并将测试结果返给所述工位(200)。
7.一种激光器测试方法，其特征在于，包括：
8.根据权利要求7所述的激光器测试方法，其特征在于，所述光开关(400)分时地将工位(200)与光谱分析仪(100)的光路连通包括：
9.根据权利要求7所述的激光器测试方法，其特征在于，所述光谱分析仪(100)对连接成功的工位(200)上被测试的激光器输出的激光进行测试包括：
10.根据权利要求8所述的激光器测试方法，其特征在于，所述判断是否能够达到预定条件包括：
...
【技术特征摘要】
1.一种激光器测试系统，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的激光器测试系统，其特征在于，所述光开关(400)与所述工位(200)通过控制信号线(700)通信连接，所述工位(200)用于发出与所述光谱分析仪(100)光路连通的请求，所述光开关(400)用于接收所述光路连通的请求，在满足预定条件的情况下分时地将所述工位(200)与光谱分析仪(100)光路连通，返给所述工位(200)连接成功的信号。
3.根据权利要求2所述的激光器测试系统，其特征在于，所述工位(200)与所述光谱分析仪(100)通过信号传输线(800)通信连接，所述工位(200)用于接收到所述连接成功的信号后，向所述光谱分析仪(100)发送测试指令。
4.根据权利要求2所述的激光器测试系统，其特征在于，所述光开关(400)用于根据自身工作状态判断是否满足预定条件，若自身处于非执行任务状态则满足预定条件，反之则不满足预定条件。
【专利技术属性】
技术研发人员：段云锋，曹柏林，汤亚洲，陈晓华，
申请(专利权)人：天津凯普林光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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