【技术实现步骤摘要】
本技术涉及晶振测试，尤其是涉及一种晶振测试系统及电子设备。
技术介绍
1、晶振作为电路工作时钟频率源发生器件，可以应用于各种设备中，例如北斗导航设备，由于北斗导航设备需要瞬发短报文，所以会在一定时间内释放一定的热量，而晶振输出的频率要求稳定，且晶振输出的频率的稳定性与温度密切相关，所以这个热量就会导致晶振输出的频率发生较大波动，在该波动超出北斗导航设备工作系统的频率要求时，就会导致短报文接收失败，因此需要对晶振进行温度稳定性测试。
2、在相关技术中，通常会将被测晶振放入变温箱中，然后再利用频率计采集被测晶振的频率，但该方式无法准确测试输出北斗导航设备瞬发短报文时温度环境变化对被测晶振的影响。
技术实现思路
1、有鉴于此，本技术的目的在于提供一种晶振测试系统及电子设备。
2、第一方面，本技术实施例提供了一种晶振测试系统，包括：测试板、频率计和上位机；加热测试板、频率计和上位机依次连接，上位机和加热测试板连接；加热测试板用于为被测晶振的测试提供温度环境，将温度环境的当前温度发送至上位机；频率计用于确定被测晶振的频率波动数据，将频率波动数据发送至上位机；上位机用于向加热测试板发送第一测试命令，确定被测晶振的测试结果。
3、在本技术较佳的实施例中，加热测试板包括：测试控制区和温度调整区，上位机、测试控制区、温度调整区和频率计依次连接，频率计和上位机连接；测试控制区用于接收上位机发送的第一测试命令，基于第一测试命令控制温度调整区调整温度，温度调整区用于调整
4、在本技术较佳的实施例中，测试控制区包括：控制器和测试开关，上位机、控制器、测试开关、温度调整区和频率计依次连接，频率计和上位机连接；控制器用于接收上位机发送的第一测试命令以及基于第一测试命令向测试开关发送驱动指令，测试开关用于基于控制器发送的驱动指令驱动温度调整区调整温度。
5、在本技术较佳的实施例中，温度调整区包括：发热功率mos管和测试夹具，发热功率mos管与测试开关连接，测试夹具与频率计连接；发热功率mos管用于基于测试开关的驱动调整温度，测试夹具用于安装被测晶振，将被测晶振的频率波动数据发送至频率计。
6、在本技术较佳的实施例中，温度调整区还包括：温度传感器，温度传感器与控制器连接；控制器用于获取温度调整区的温度以供上位机读取温度。
7、在本技术较佳的实施例中，测试控制区还包括：本地控制按钮，本地控制按钮与控制器连接；本地控制按钮用于向控制器发送第二测试命令。
8、在本技术较佳的实施例中，温度调整区还包括：屏蔽罩，发热功率mos管、测试夹具和温度传感器位于屏蔽罩中。
9、第二方面，本技术实施例还提供一种电子设备，包括上述第一方面的晶振测试系统。
10、本技术实施例带来了以下有益效果：
11、本技术实施例提供了一种晶振测试系统及电子设备，通过上位机向加热测试板发送第一测试命令，使得加热测试板基于第一测试命令对被测晶振的温度环境进行调整，并将温度环境的当前温度发送至上位机，再通过频率计对被测晶振的温度环境调整后产生的频率波动数据进行采集，并将该频率波动数据发送至上位机，最后由上位机确定被测晶振的测试结果，可以准确测试温度变化对被测晶振造成的影响，解决了被测晶振温度稳定性测试中，无法精确测试被测晶振在瞬时温变下性能的问题。
12、本公开的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，或者，部分特征和优点可以从说明书推知或毫无疑义地确定，或者通过实施本公开的上述技术即可得知。
13、为使本公开的上述目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举较佳实施例，并配合所附附图，作详细说明如下。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种晶振测试系统，其特征在于，所述系统包括：加热测试板、频率计和上位机；所述加热测试板、所述频率计和所述上位机依次连接，所述上位机和所述加热测试板连接；
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述加热测试板包括：测试控制区和温度调整区，所述上位机、所述测试控制区、所述温度调整区和所述频率计依次连接，所述频率计和所述上位机连接；
3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述测试控制区包括：控制器和测试开关，所述上位机、所述控制器、所述测试开关、所述温度调整区和所述频率计依次连接，所述频率计和所述上位机连接；
4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述温度调整区包括：发热功率MOS管和测试夹具，所述发热功率MOS管与所述测试开关连接，所述测试夹具与所述频率计连接；
5.根据权利要求4所述的系统，其特征在于，所述温度调整区还包括：温度传感器，所述温度传感器与所述控制器连接；
6.根据权利要求5所述的系统，其特征在于，所述测试控制区还包括：本地控制按钮，所述本地控制按钮与所述控制器连接；
7.根据权利要
8.一种电子设备，其特征在于，包括权利要求1-7任一项所述的晶振测试系统。
...【技术特征摘要】
1.一种晶振测试系统，其特征在于，所述系统包括：加热测试板、频率计和上位机；所述加热测试板、所述频率计和所述上位机依次连接，所述上位机和所述加热测试板连接；
2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述加热测试板包括：测试控制区和温度调整区，所述上位机、所述测试控制区、所述温度调整区和所述频率计依次连接，所述频率计和所述上位机连接；
3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述测试控制区包括：控制器和测试开关，所述上位机、所述控制器、所述测试开关、所述温度调整区和所述频率计依次连接，所述频率计和所述上位机连接；
4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：唐立，
申请(专利权)人：成都恒晶科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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