【技术实现步骤摘要】
本专利技术一种ate探针预组装检查方法涉及半导体测试关键设备和ate探针预组装。
技术介绍
1、ate（automatic test equipment）指广义上的ic测试设备。包含了软件和硬件的结合，一般由大量的测试机能集合在一起，由电脑控制来测试半导体芯片的功能性。测试设备上需要大量的ate探针，对ate探针的生产提出了新的要求。
2、ate探针主要由针管、针头、弹簧和针尾四个部件构成，在生产过程中，需要先将该四个部件进行预组装，依次将针尾、弹簧和针头装入针管内，预组装完成后，在针管外壁打上铆坑，实现组装。
3、为提高预组装效率，通常采用治具板进行批量组装，通过在治具板上设置漏孔，漏孔的上部为扩口的喇叭状结构，便于零件的落入，由于漏孔下部的直径大于零件一端的直径，并且小于零件另一端外壁的最大直径，使零件的下端容易落入漏孔中。因此，在治具板内撒入多个零件，在进行晃动后，多数零件能够以正确的方向落入漏孔内，便于后续的批量预组装。
4、但是，由于无法保障所有的零件均能够落入漏孔，在晃动后，仍需要人工进行检查，将未落入漏孔的零件捡出，并在空的漏孔内装入零件，而人工检查的效率低，准确性差，容易产生遗漏。
技术实现思路
1、针对现有的ate探针预组装过程中，人工检查的效率低，准确性差，容易产生遗漏的技术不足，本专利技术提供了一种ate探针预组装检查台及其提示台和检查方法，相较于用人工进行回收和检查，效率和准确性更高，同时避免遗漏。
2、为实现
3、一种ate预组装检查方法，包括以下步骤：
4、步骤a，探针零件装入治具板；将若干个探针零件投入治具板中，晃动治具板，使探针零件落入治具板的漏孔中；
5、步骤b，治具板接入滑槽；将步骤a中的治具板接入基座的滑槽内；
6、步骤c，零件回收；治具板沿滑槽滑动，粘辊从治具板的上表面滚过，治具板上表面未落入漏孔的零件被粘辊粘附回收；
7、步骤d，是否装入零件信息获取；治具板沿滑槽滑动，在经过摄像头底部时，通过摄像头拍摄治具板表面照片，并根据照片获得该治具板上的漏孔是否装入零件的信息；
8、步骤e，未装入零件的漏孔提示；根据漏孔是否装入零件的信息得到未装入零件的漏孔位置信息，根据未装入零件的漏孔位置信息点亮与该漏孔对应的激光二极管，该激光二极管将激光束投射至该漏孔处；
9、步骤f，未装入零件的漏孔补装；在有激光束投射提示的漏孔内补充装入探针零件；
10、步骤g，检查完成；将治具板从基座上取下。
11、进一步地，所述的方法应用在一种ate探针预组装检查台上，所述的检查台包括：基座、滑槽、治具板、粘辊、摄像头和提示台。
12、与现有技术相比，本专利技术提供了一种ate探针预组装检查台及其提示台和检查方法，具备以下有益效果：
13、第一、本专利技术一种ate探针预组装检查台，包括：基座、滑槽、治具板、粘辊、摄像头和提示台，治具板上设置有若干个能够容纳单个探针零件的漏孔，所述基座上设置有能够容纳治具板的滑槽，所述治具板能够在滑槽内滑动，所述滑槽上方依次设置有粘辊、摄像头和提示台；由此结构，能够实现，通过将治具板放入滑槽内，治具板沿滑槽滑动，同时粘辊在治具板的表面滚过，未落入漏孔内的零件被粘辊粘附在其表面并回收；而后在治具板经过摄像头时，摄像头拍摄治具板表面，得到该治具板的漏孔内是否装入探针零件的信息，最后在治具板滑动至滑槽末端后，提示台对该治具板上未装入零件的漏孔进行提示，最后在被提示的漏孔内补充放入针筒零件。通过粘辊能够方便快捷的回收未落入漏孔内的零件，同时避免遗漏；通过摄像头和提示台对未装入探针零件的漏孔进行提示，便于对漏装零件进行补充，相较于用人工进行回收和检查，效率和准确性更高，同时避免遗漏。
14、第二、本专利技术一种ate探针预组检查台的提示台，包括：提示台架和激光二极管，所述提示台架的下端固定连接在基座上，提示台架的上端设置有一向滑槽上方延伸的平台，该平台的底部设置有若干个激光二极管，若干个所述的激光二极管分别与治具板上的若干个漏孔对应设置，且在漏孔内未装入探针零件时，与该漏孔对应的激光二极管点亮，并将激光束投射至该漏孔处，由此结构，能够实现，通过提示台的提示，便于工作人员快速发现未装入零件的漏孔，便于对漏装部分进行补装，提高预组装效率。
15、第三、本专利技术一种ate探针预组装检查方法，包括：步骤a，探针零件装入治具板；步骤b，治具板接入滑槽；步骤c，零件回收；步骤d，是否装入零件信息获取；步骤e，未装入零件的漏孔提示；步骤f，未装入零件的漏孔补装；步骤g，检查完成；该方法能够实现，在ate探针预组装过程中，通过该方法对治具板进行检查，能够快速的对未落入漏孔的零件进行回收，同时能够更准确的确定未装入零件的漏孔位置，便于对其进行补装，提高了检查效率和准确性，避免有漏孔遗漏便于后续进行预组装操作。
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1.一种ATE探针预组装检查方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种ATE探针预组装检查方法，其特征在于，所述的方法应用在一种ATE探针预组装检查台上，所述的检查台包括：基座（1）、滑槽（2）、治具板（3）、粘辊（4）、摄像头（5）和提示台（6）。
【技术特征摘要】
1.一种ate探针预组装检查方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种ate探针预组装检查方法，其特征在于，所...
【专利技术属性】
技术研发人员：金永斌，王强，贺涛，丁宁，朱伟，章圣达，陈伟，
申请(专利权)人：法特迪精密科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：
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