【技术实现步骤摘要】
本技术涉及半导体测试，具体是指一种半导体测试支架。
技术介绍
1、现有的半导体测试装置测试时是通过测试机将芯片压入pcb测试板上，然后在pcb测试板上输入一定电压查看输出的情况，不同的电压会产生不同的通路进而有不同的输出，输出与需要的参数相符合即为良品。
2、由于现有的支架上的pcb测试板通常是直接放置在放置板上，使得在平时不使用时，灰尘易粘附在pcb测试板上上，导致其内部电子元件发生损坏，影响后续的使用，因此，如何合理的解决这个问题是我们所需要考虑的。
技术实现思路
1、针对上述情况，为克服现有技术的缺陷，本技术提供一种半导体测试支架。
2、本技术采取的技术方案如下：本技术一种半导体测试支架，包括底座、旋转组件、防护罩、放置板和pcb测试板，所述底座顶部上设有长条滑槽，所述长条滑槽内转动设有双向丝杆，所述双向丝杆中部两侧上螺纹套接设有滑动块，所述滑动块滑动设于长条滑槽内，所述滑动块顶部上固定设有支撑板，所述旋转组件分别设于支撑板上，所述防护罩分别设于旋转组件上，所述放置板固定设于其中一组防护罩内，所述pcb测试板固定在放置板上。
3、进一步地，所述旋转组件包括壳体、输出轴、蜗杆和蜗轮，所述壳体固定在支撑板上，所述输出轴转动贯穿设于壳体的一侧内壁上且转动贯穿支撑板，所述蜗轮设于输出轴位于壳体内的一端上，所述防护罩固定设于输出轴位于壳体外的一端上，所述蜗杆一端转动设于壳体的底部内壁上，所述蜗杆的另一端转动贯穿顶部内壁，所述蜗杆与蜗轮啮合。
<...【技术保护点】
1.一种半导体测试支架，其特征在于：包括底座(1)、旋转组件(2)、防护罩(3)、放置板(4)和PCB测试板(5)，所述底座(1)顶部上设有长条滑槽(6)，所述长条滑槽(6)内转动设有双向丝杆(7)，所述双向丝杆(7)中部两侧上螺纹套接设有滑动块(8)，所述滑动块(8)滑动设于长条滑槽(6)内，所述滑动块(8)顶部上固定设有支撑板(9)，所述旋转组件(2)分别设于支撑板(9)上，所述防护罩(3)分别设于旋转组件(2)上，所述放置板(4)固定设于其中一组防护罩(3)内，所述PCB测试板(5)固定在放置板(4)上。
2.根据权利要求1所述的一种半导体测试支架，其特征在于：所述旋转组件(2)包括壳体(51)、输出轴(52)、蜗杆(53)和蜗轮(54)，所述壳体(51)固定在支撑板(9)上，所述输出轴(52)转动贯穿设于壳体(51)的一侧内壁上且转动贯穿支撑板(9)，所述蜗轮(54)设于输出轴(52)位于壳体(51)内的一端上，所述防护罩(3)固定设于输出轴(52)位于壳体(51)外的一端上，所述蜗杆(53)一端转动设于壳体(51)的底部内壁上，所述蜗杆(53)的另一端转动贯
3.根据权利要求2所述的一种半导体测试支架，其特征在于：所述防护罩(3)包括圆盘(10)和弧形板(11)，所述弧形板(11)一端固定在圆盘(10)上，所述圆盘(10)固定在输出轴(52)上。
4.根据权利要求3所述的一种半导体测试支架，其特征在于：两组所述防护罩(3)围成一个封闭的圆筒。
5.根据权利要求1所述的一种半导体测试支架，其特征在于：所述双向丝杆(7)的一端转动贯穿长条滑槽(6)内壁后设有转动把一(12)。
6.根据权利要求2所述的一种半导体测试支架，其特征在于：所述蜗杆(53)的一端转动贯穿壳体(51)顶部内壁后设有转动把二(13)。
7.根据权利要求4所述的一种半导体测试支架，其特征在于：所述防护罩(3)的材质为透明材质。
...【技术特征摘要】
1.一种半导体测试支架，其特征在于：包括底座(1)、旋转组件(2)、防护罩(3)、放置板(4)和pcb测试板(5)，所述底座(1)顶部上设有长条滑槽(6)，所述长条滑槽(6)内转动设有双向丝杆(7)，所述双向丝杆(7)中部两侧上螺纹套接设有滑动块(8)，所述滑动块(8)滑动设于长条滑槽(6)内，所述滑动块(8)顶部上固定设有支撑板(9)，所述旋转组件(2)分别设于支撑板(9)上，所述防护罩(3)分别设于旋转组件(2)上，所述放置板(4)固定设于其中一组防护罩(3)内，所述pcb测试板(5)固定在放置板(4)上。
2.根据权利要求1所述的一种半导体测试支架，其特征在于：所述旋转组件(2)包括壳体(51)、输出轴(52)、蜗杆(53)和蜗轮(54)，所述壳体(51)固定在支撑板(9)上，所述输出轴(52)转动贯穿设于壳体(51)的一侧内壁上且转动贯穿支撑板(9)，所述蜗轮(54)设于输出轴(52)位于壳体(51)内的一端上，所述防护罩(3)固定设于输出轴...
【专利技术属性】
技术研发人员：宋忠涛，孙星星，
申请(专利权)人：上海佳宽电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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