【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及工业测量，尤其涉及一种配合激光跟踪仪在大型设备上使用的简易基准点的制作方法。
技术介绍
1、目前大型设备变形分析主要依赖于设备上的相对尺寸和施工时预留基准点进行。如论文《大型精密工业设备变形量检测方法研究》描述的方法，采用设备相对基准进行时，设备经过多年运行后基准存在不同程度的变形、磨损和腐蚀，以这些部位作为相对基准做变形、磨损分析时，其准确度较差。如专利《一种适用于激光跟踪仪smr反射靶球的基座装置》和《一种多功能中心标板》描述的方法，当以施工时预留控制点作为基准进行时，控制点的本身精度很难达到或者超过1mm，设备变形测量的精度要求经常高于1mm，而且经过多年运行后由于地基下沉、热胀冷缩、后期施工等影响会造成基准点移动，所以使用施工时预留控制点作为基准的方法不满足大多数设备变形测量的要求。
2、对比资料1(申请号cn201020585493.7)：一种多功能中心标板，属于全站仪进行测量定位
主体分为上、下两部分，分别为基座和可调基准盘，基座上方有滑槽，可调基准盘上方有一个三维定位环，三维定位环下方有滑块(3)。是一种全站仪和经纬仪可以共用的中心标板。经纬仪可以直接对其读取，全站仪则可以利用球棱镜对其读取。在高精度设备安装工程中，为了满足精度要求，需要通过全站仪读取中心标板上的基准点。但由于与全站仪配套的棱镜架测点精度无法满足设备安装的精度要求，对普通中心标板的读点相当困难，多功能中心标板解决了这种难题，使经纬仪和全站仪的定位放线很好的融合在一起，大大提高了定位放线的精度和效率。控制点的本身精度
3、对比资料2：大型精密工业设备的变形检测具有目标尺寸大、精度要求高、绝对定位难等特点，使得常规单一的检测方法难以满足要求。因此，通过对已有测量方法的改进与组合，研究出一种高效率且高精度的大型精密工业设备变形量检测方法。使用工业摄影测量系统、激光跟踪仪、高精度全站仪相结合的技术，通过自主研发的相机辅助拍摄伸缩杆，在不同姿态与温度条件下可以对目标设备进行全面快速的数据采集，进而解算出重力差异与温度差异导致的变形量。考虑到摄影测量成果是局部独立坐标系，缺乏与国家大地坐标系的关联，将激光跟踪仪建立的局部重力水平坐标系作为过渡，实现了摄影测量坐标系到国家大地坐标系的高精度转换方法。实验证明，该方法具备数据采集容易、检测精度可靠、坐标能够统一等优点，对大型精密工业设备制造与检测技术提升具有重要意义。经过多年运行后基准存在不同程度的变形、磨损和腐蚀，测量精度较差。
4、对比资料3(申请号cn201420839277.9)：一种适用于激光跟踪仪smr反射靶球的基座装置，包括磁性基座、不锈钢柱，所述不锈钢柱顶部设有凹槽，磁性基座位于不锈钢柱顶部的凹槽内，所述不锈钢柱底部设有中空螺丝孔或者凸出的丝杆。本专利技术一种适用于激光跟踪仪smr反射靶球的基座装置，在已浇筑或安装成型的强制归心标盘上架设，方便激光跟踪仪对已知控制测量基准进行精确观测，以解决已知测量基准传递的技术难题。经过多年运行后由于地基下沉、热胀冷缩、后期施工等影响会造成基准点和设备相对移动，测量误差较大。
技术实现思路
1、为了解决目前使用设备上相对尺寸和施工时预留控制点作为设备变形分析基准存在的问题，本专利技术的目的是提供一种配合激光跟踪仪在大型设备上使用的简易基准点的制作方法，该基准点只需要10mm*10mm*5mm空间便可完成加工，适用于小型精密备件和不允许在设备本体上进行大量加工的备件，为了最大程度的减少该基准点占用的空间，未设置磁铁和盖体，而巧妙的采用了塞子和胶水作为基准点的保护措施。
2、为解决上述技术问题，本专利技术采用如下技术方案：
3、本专利技术一种配合激光跟踪仪在大型设备上使用的简易基准点的制作方法，
4、进一步的，包括：设备、接触面、落尘孔、基准孔；
5、所述简易基准点设置在所述设备的本体上，并在所述设备出厂前将所述简易基准点加工在所述设备的本体上；
6、所述简易基准点主要包括所述塞子和所述基准孔；
7、所述基准孔主要包括所述接触面和所述落尘孔，所述接触面用来配合激光跟踪仪靶球使用，所述落尘孔用来提高所述接触面的检测精度，当有灰尘落于所述接触面上时，通过旋转靶球使得灰尘落于所述落尘孔中，从而提高所述接触面的精度。
8、进一步的，所述接触面是精密加工部位，其精度要求在0.2mm范围内。
9、进一步的，还包括塞子，用于与所述基准孔适配。
10、进一步的，在日常不进行检测作业时将所述接触面表面涂抹一层胶水，并将所述塞子塞在基准孔中。
11、与现有技术相比，本专利技术的有益技术效果：
12、该基准点结构简单小巧，能够最大程度减少占用设备的空间。
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1.一种配合激光跟踪仪在大型设备上使用的简易基准点的制作方法，其特征在于：包括：设备(1)、接触面(2)、落尘孔(3)、基准孔(5)；
2.根据权利要求1所述的配合激光跟踪仪在大型设备上使用的简易基准点的制作方法，其特征在于：所述接触面(2)是精密加工部位，其精度要求在0.2mm范围内。
3.根据权利要求1所述的配合激光跟踪仪在大型设备上使用的简易基准点的制作方法，其特征在于：还包括塞子(4)，用于与所述基准孔(5)适配。
4.根据权利要求3所述的配合激光跟踪仪在大型设备上使用的简易基准点的制作方法，其特征在于：在日常不进行检测作业时将所述接触面(2)表面涂抹一层胶水，并将所述塞子(4)塞在基准孔(5)中。
【技术特征摘要】
1.一种配合激光跟踪仪在大型设备上使用的简易基准点的制作方法，其特征在于：包括：设备(1)、接触面(2)、落尘孔(3)、基准孔(5)；
2.根据权利要求1所述的配合激光跟踪仪在大型设备上使用的简易基准点的制作方法，其特征在于：所述接触面(2)是精密加工部位，其精度要求在0.2mm范围内。
3.根据权利...
【专利技术属性】
技术研发人员：苏保全，王丽娜，刘芳，
申请(专利权)人：包头钢铁集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
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