【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及老化测试设备，具体为一种用于小型电子设备的老化测试装置。
技术介绍
1、电子设备的老化测试是电子设备生产时必不可少的工艺流程，因加工过程中因操作以及原材料供货原因等等，存在一些潜在的缺陷，为了确保客户到手的电子产品是良品，需要进行老化测试操作；
2、现有技术中在对小型电子设备老化试验时多在设备组装阶段，外接电路接线，然后通过人工讲电路接线与接电口连接，然后放置在老化试验房间或者柜机内，完成温度、湿度及电压等不同时间的试验，从而获取试验数据，在试验过程中多个电子设备并排放置，在设备试验时如其中一个发生意外情况时，则可能对整个试验区的试验样品所得数据造成影响，且存在一定安全风险。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种用于小型电子设备的老化测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种用于小型电子设备的老化测试装置，所述小型电子设备的老化测试装置包括：
3、检测托架，所述检测托架一侧开设有转动槽，转动槽内中心水平设有中心轴筒，中心轴筒上通过转动组件活动套接设有自转盘，且转动组件包括驱动齿轮；
4、放置组件，所述放置组件设于自转盘一侧，放置组件包括若干独立试验盒，独立试验盒一侧对称开设有若干试验槽，检测托架靠近试验槽一侧均开设有放入窗口，放入窗口与试验槽相对设置，检测托架位于相邻两个放入窗口之间对称开设有若干模拟接孔；
5、若干适配治具，若干所述适配治具分别
6、顶出组件，所述顶出组件对称设于独立试验盒内两侧，顶出组件包括两个顶出杆；
7、功能切换组件，所述功能切换组件设于独立试验盒内一侧，功能切换组件包括切换通槽和切换活塞，中心轴筒一侧环设有多功能环，多功能环的外周槽对称开设有一个第二收纳槽和若干第一收纳槽，第二收纳槽和第一收纳槽内分别插接设有定位座和压紧活塞，第二收纳槽内中心竖直插接设有棱形排出杆，且棱形排出杆上端活动插接切换通槽内设置。
8、优选的，所述自转盘一侧设有齿环，齿环的内周侧对称设有若干拨动齿，驱动齿轮竖直设于中心轴筒一侧，且驱动齿轮一侧与齿环的拨动齿啮合相连设置。
9、优选的，所述放入窗口与试验槽错位时独立试验盒与模拟接孔相对设置，检测托架远离中心轴筒一侧设有模拟箱，模拟箱靠近模拟接孔一侧均连通设有环境模拟接管，且自转盘位于试验槽一侧均设有密封圈。
10、优选的，所述放入窗口与试验槽内两侧分别对称开设有两个第一滑槽和两个第二滑槽，放入窗口与试验槽相对设置时，两个第一滑槽与两个第二滑槽相对设置，适配治具两侧水平对称设有两个滑块，两个滑块分别水平活动插接两个第二滑槽内，适配治具一侧中心插接设有通电插头，试验槽内一侧中心水平设有通电接块，适配治具置于试验槽内时，通电接块一侧插接通电插头设置。
11、优选的，所述试验槽内一侧上下两端分别设有弹簧盒，弹簧盒内竖直对称开设有若干弹簧槽，弹簧槽内均竖直活动插接设有弹簧杆，弹簧杆置于弹簧槽内上端均通过压片套接设有夹持弹簧，若干弹簧杆贯穿弹簧盒一侧水平共同设有夹持板，两个夹持板一侧分别与适配治具的上下两端相接触设置。
12、优选的，所述第二滑槽内均水平开设有顶出槽，独立试验盒内靠近顶出槽一侧均开设有杆槽，两个顶出杆分别水平设于两个杆槽内，顶出杆一侧活动贯穿插接顶出槽内并套接设有第一同步活塞，滑块靠近顶出槽一侧水平设有接触快，接触快插接顶出槽内并与第一同步活塞一次相接触设置，接触快插接顶出槽内长度，大于通电接块插接通电插头内长度，顶出杆置于杆槽内一侧套接设有第二同步活塞，且顶出杆靠近第二同步活塞一侧均套接设有顶出弹簧。
13、优选的，所述独立试验盒内位于切换通槽上端开设有活塞槽，切换活塞竖直活动插接置于活塞槽内，切换活塞上端竖直设有棱形排出杆，棱形排出杆活动贯穿独立试验盒上端设置，棱形排出杆位于活塞槽内一侧套接设有下压弹簧，活塞槽内两侧水平对称开设有两个第一接通槽，两个第一接通槽分别与两个杆槽的一侧相连通设置，切换活塞一侧贯穿棱形排出杆中心开设有t形排出槽，切换活塞下降至最大程度时，t形排出槽的两侧分别与两个第一接通槽对应设置。
14、优选的，所述独立试验盒内靠近顶出槽一侧均开设有半月槽，半月槽与顶出槽之间连通开设有若干连通孔，两个半月槽下端分别与切换通槽两侧连通开设有第二接通槽。
15、优选的，所述独立试验盒靠近多功能环一侧的下端均设有对位块，对位块下端开设有中心开设有第一锥形槽，第一锥形槽中心连通切换通槽下端设置，压紧活塞置于第一收纳槽内下端对称设有若干第一导杆，若干第一导杆分别活动插接多功能环一侧设置，第一导杆一侧均套接设有复位弹簧，压紧活塞一侧设有锥形接头，锥形接头伸出第一收纳槽设置，若干锥形接头与若干模拟接孔对应设置，当独立试验盒活动至模拟接孔位置时，锥形接头插接第一锥形槽设置，锥形接头中心贯穿压紧活塞开设有消防槽，且第一收纳槽内开设有补充口。
16、优选的，所述第二收纳槽开设于多功能环靠近放入窗口的一侧，第二收纳槽内下端水平设有弹簧板，定位座插接第二收纳槽内下端对称设有若干第二导杆，第二导杆下端活动插接弹簧板设置，第二导杆位于弹簧板和定位座之间均套接设有定位弹簧，定位座贯穿第二收纳槽的上端两侧面为倾斜面设置，定位座上端中心开设有第二锥形槽，靠近定位座一侧的独立试验盒与放入窗口对应设置时，对位块下端插接第二锥形槽内，第二收纳槽内下端开设有伸缩槽伸缩槽内竖直插接设有伸缩推杆，伸缩推杆上端竖直设有放入窗口，放入窗口上端活动贯穿定位座插接切换通槽内下端设置，且需要对适配治具顶出处理时，放入窗口置于切换通槽内一侧封堵两个第二接通槽设置。
17、与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
18、通过在自转盘的一侧对称设有若干独立试验盒，然后自转盘转动设置设在检测托架的一侧，当需要对适配治具上的电子设备测试时，方便安装使用，然后在试验时，使独立试验盒的与放入窗口错位，完成多个电子设备独立测试的目的，且配合功能切换组件，在检测过程中发生消防安全问题时，可自动进行针对性处理，不影响其他在试验设备，并且在测试完之后，可自动对装有电子设备的适配治具顶出，操作简单，使用方便。
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1.一种用于小型电子设备的老化测试装置，其特征在于：所述小型电子设备的老化测试装置包括：
2.根据权利要求1所述的一种用于小型电子设备的老化测试装置，其特征在于：所述自转盘（3）一侧设有齿环（5），齿环（5）的内周侧对称设有若干拨动齿，驱动齿轮（4）竖直设于中心轴筒（2）一侧，且驱动齿轮（4）一侧与齿环（5）的拨动齿啮合相连设置。
3.根据权利要求2所述的一种用于小型电子设备的老化测试装置，其特征在于：所述放入窗口（7）与试验槽（8）错位时独立试验盒（6）与模拟接孔（11）相对设置，检测托架（1）远离中心轴筒（2）一侧设有模拟箱（12），模拟箱（12）靠近模拟接孔（11）一侧均连通设有环境模拟接管（13），且自转盘（3）位于试验槽（8）一侧均设有密封圈。
4.根据权利要求3所述的一种用于小型电子设备的老化测试装置，其特征在于：所述放入窗口（7）与试验槽（8）内两侧分别对称开设有两个第一滑槽（9）和两个第二滑槽（10），放入窗口（7）与试验槽（8）相对设置时，两个第一滑槽（9）与两个第二滑槽（10）相对设置，适配治具（14）两侧水平对称设有两个滑
5.根据权利要求4所述的一种用于小型电子设备的老化测试装置，其特征在于：所述试验槽（8）内一侧上下两端分别设有弹簧盒，弹簧盒内竖直对称开设有若干弹簧槽，弹簧槽内均竖直活动插接设有弹簧杆（18），弹簧杆（18）置于弹簧槽内上端均通过压片套接设有夹持弹簧（19），若干弹簧杆（18）贯穿弹簧盒一侧水平共同设有夹持板（17），两个夹持板（17）一侧分别与适配治具（14）的上下两端相接触设置。
6.根据权利要求5所述的一种用于小型电子设备的老化测试装置，其特征在于：所述第二滑槽（10）内均水平开设有顶出槽（22），独立试验盒（6）内靠近顶出槽（22）一侧均开设有杆槽（23），两个顶出杆（24）分别水平设于两个杆槽（23）内，顶出杆（24）一侧活动贯穿插接顶出槽（22）内并套接设有第一同步活塞（25），滑块（20）靠近顶出槽（22）一侧水平设有接触快（21），接触快（21）插接顶出槽（22）内并与第一同步活塞（25）一次相接触设置，接触快（21）插接顶出槽（22）内长度，大于通电接块（16）插接通电插头（15）内长度，顶出杆（24）置于杆槽（23）内一侧套接设有第二同步活塞（26），且顶出杆（24）靠近第二同步活塞（26）一侧均套接设有顶出弹簧（27）。
7.根据权利要求6所述的一种用于小型电子设备的老化测试装置，其特征在于：所述独立试验盒（6）内位于切换通槽（30）上端开设有活塞槽（28），切换活塞（32）竖直活动插接置于活塞槽（28）内，切换活塞（32）上端竖直设有棱形排出杆（33），棱形排出杆（33）活动贯穿独立试验盒（6）上端设置，棱形排出杆（33）位于活塞槽（28）内一侧套接设有下压弹簧（34），活塞槽（28）内两侧水平对称开设有两个第一接通槽（31），两个第一接通槽（31）分别与两个杆槽（23）的一侧相连通设置，切换活塞（32）一侧贯穿棱形排出杆（33）中心开设有T形排出槽（35），切换活塞（32）下降至最大程度时，T形排出槽（35）的两侧分别与两个第一接通槽（31）对应设置。
8.根据权利要求7所述的一种用于小型电子设备的老化测试装置，其特征在于：所述独立试验盒（6）内靠近顶出槽（22）一侧均开设有半月槽（49），半月槽（49）与顶出槽（22）之间连通开设有若干连通孔（50），两个半月槽（49）下端分别与切换通槽（30）两侧连通开设有第二接通槽（48）。
9.根据权利要求8所述的一种用于小型电子设备的老化测试装置，其特征在于：所述独立试验盒（6）靠近多功能环（53）一侧的下端均设有对位块（29），对位块（29）下端开设有中心开设有第一锥形槽，第一锥形槽中心连通切换通槽（30）下端设置，压紧活塞（38）置于第一收纳槽（37）内下端对称设有若干第一导杆（40），若干第一导杆（40）分别活动插接多功能环（53）一侧设置，第一导杆（40）一侧均套接设有复位弹簧（41），压紧活塞（38）一侧设有锥形接头（39），锥形接头（39）伸出第一收纳槽（37）设置，若干锥形接头（39）与若干模拟接孔（11）对应设置，当独立试验盒（6）活动至模拟接孔（11）位置时，锥形接头（39）插接第一锥形槽设置，锥形接头（39）中心贯穿压紧活塞（38）开设有消防槽，且第一...
【技术特征摘要】
1.一种用于小型电子设备的老化测试装置，其特征在于：所述小型电子设备的老化测试装置包括：
2.根据权利要求1所述的一种用于小型电子设备的老化测试装置，其特征在于：所述自转盘（3）一侧设有齿环（5），齿环（5）的内周侧对称设有若干拨动齿，驱动齿轮（4）竖直设于中心轴筒（2）一侧，且驱动齿轮（4）一侧与齿环（5）的拨动齿啮合相连设置。
3.根据权利要求2所述的一种用于小型电子设备的老化测试装置，其特征在于：所述放入窗口（7）与试验槽（8）错位时独立试验盒（6）与模拟接孔（11）相对设置，检测托架（1）远离中心轴筒（2）一侧设有模拟箱（12），模拟箱（12）靠近模拟接孔（11）一侧均连通设有环境模拟接管（13），且自转盘（3）位于试验槽（8）一侧均设有密封圈。
4.根据权利要求3所述的一种用于小型电子设备的老化测试装置，其特征在于：所述放入窗口（7）与试验槽（8）内两侧分别对称开设有两个第一滑槽（9）和两个第二滑槽（10），放入窗口（7）与试验槽（8）相对设置时，两个第一滑槽（9）与两个第二滑槽（10）相对设置，适配治具（14）两侧水平对称设有两个滑块（20），两个滑块（20）分别水平活动插接两个第二滑槽（10）内，适配治具（14）一侧中心插接设有通电插头（15），试验槽（8）内一侧中心水平设有通电接块（16），适配治具（14）置于试验槽（8）内时，通电接块（16）一侧插接通电插头（15）设置。
5.根据权利要求4所述的一种用于小型电子设备的老化测试装置，其特征在于：所述试验槽（8）内一侧上下两端分别设有弹簧盒，弹簧盒内竖直对称开设有若干弹簧槽，弹簧槽内均竖直活动插接设有弹簧杆（18），弹簧杆（18）置于弹簧槽内上端均通过压片套接设有夹持弹簧（19），若干弹簧杆（18）贯穿弹簧盒一侧水平共同设有夹持板（17），两个夹持板（17）一侧分别与适配治具（14）的上下两端相接触设置。
6.根据权利要求5所述的一种用于小型电子设备的老化测试装置，其特征在于：所述第二滑槽（10）内均水平开设有顶出槽（22），独立试验盒（6）内靠近顶出槽（22）一侧均开设有杆槽（23），两个顶出杆（24）分别水平设于两个杆槽（23）内，顶出杆（24）一侧活动贯穿插接顶出槽（22）内并套接设有第一同步活塞（25），滑块（20）靠近顶出槽（22）一侧水平设有接触快（21），接触快（21）插接顶出槽（22）内并与第一同步活塞（25）一次相接触设置，接触快（21）插接顶出槽（22）内长度，大于通电接块（16）插接通电插头（15）内长度，顶出杆（24）置于杆槽（23）内一侧套接设有第二同步活塞（26），且顶出杆（24）靠近第二同步活塞（26）一侧均套接设有顶出弹簧（27）。
7.根据权利要求6所述的一种用于小型电子设备的老化测试装置，其特征在于：所述独立试验盒（6）内位于切换通槽（30）上端开设有...
【专利技术属性】
技术研发人员：王益芳，曹永青，刘钊，曹明静，陈杨，
申请(专利权)人：沧州师范学院，
类型：发明
国别省市：
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