【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及温度测试仪，尤其涉及一种温度测试仪的多点温度采集方法。
技术介绍
1、在许多领域，如医疗、工业、气象等，需要准确测量待测物体多个点的温度数据。然而，传统的温度测试仪通常只能单一地测量一个点的温度，因此需要多个独立的仪器来进行多点测量，这不仅增加了成本，还降低了温度测试的效率，从而无法及时对待测物体温度状态进行掌握和控制。
技术实现思路
1、基于此，本专利技术有必要提供一种温度测试仪的多点温度采集方法，以解决至少一个上述技术问题。
2、为实现上述目的，一种温度测试仪的多点温度采集方法，包括以下步骤：
3、步骤s1：对温度测试仪内的温度传感器进行采集阵列构建处理，得到温度传感器多维采集阵列；对温度传感器多维采集阵列进行同步采集激活处理，得到温度多维同步采集阵列；获取待测试物体，并利用温度多维同步采集阵列对待测试物体进行多点温度信号采集，得到待测物体多点温度信号；
4、步骤s2：对待测物体多点温度信号进行辐射影响减损处理，得到多点温度外部辐射减损信号；通过温度测试仪内的无线信号通信电路将多点温度外部辐射减损信号传输到温度测试仪内的单片机处理单元中进行信号转换处理，得到待测物体多点温度数据；
5、步骤s3：通过单片机处理单元将待测物体多点温度数据发送到温度测试仪内的数据处理单元中进行温度数据预处理，得到待测物体温度二进制数据；
6、步骤s4：通过数据处理单元将待测物体温度二进制数据中断发送到温度测试仪内的液晶显示窗口
7、本专利技术首先通过对温度测试仪内的温度传感器进行采集阵列构建处理，能够将温度传感器构建成采集阵列，以形成温度传感器多维采集阵列，这一步骤有益于实现多点温度数据的采集，可以同时监测不同位置的温度，例如在实验室实验中，可以监测被测物体多个地方的温度，从而提高实验效率和数据可信度。随后，通过对温度传感器多维采集阵列进行同步采集激活处理，这样能够确保不同温度传感器的数据采集是同步的，从而消除了时间差，有助于提高数据的精确性和一致性，以获得一个温度多维同步采集阵列。同时，通过使用温度多维同步采集阵列能够有效地采集待测试物体的多点温度信号，从而获得关于待测试物体温度分布的全面信息。其次，通过对待测物体多点温度信号进行辐射影响减损处理，这一步骤旨在监测和检测对温度信号产生干扰的外部辐射，并通过对检测到的外部辐射影响减损处理以减少外部辐射对温度测量的影响，从而确保数据的准确性，提高信号的平稳性，降低信号的不稳定性。并且，通过使用温度测试仪内的无线信号通信电路将多点温度外部辐射减损信号传输到温度测试仪内的单片机处理单元，单片机处理单元的任务是对多点温度外部辐射减损信号进行信号转换处理，将它们转换为可处理的数据格式，以便进一步的分析和传输，这一步骤有益于确保温度信号的传输和处理的有效性。然后，通过使用单片机处理单元将待测物体多点温度数据发送到温度测试仪内的数据处理单元，同时通过数据处理单元进行温度数据预处理，这个预处理过程有益于滤除噪声、校正温度数据，并确保数据的准确性和一致性，从而将待测物体的多点温度数据转换成可供计算机系统分析和存储的温度二进制数据，为后续的处理提供了可靠的输入。最后，通过使用数据处理单元，待测物体的温度二进制数据能够被传输到温度测试仪内的液晶显示窗口进行温度的可视化显示，这有益于实时监测和可视化待测物体的温度分布，提供了直观的温度信息。用户可以通过液晶显示窗口获得待测物体的实时温度值，能够提升温度测试的效率，从而更好地理解和管理温度变化，这一步骤还能够提高用户对待测物体温度状态的掌握和控制的有效性。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种温度测试仪的多点温度采集方法，其特征在于，其中温度测试仪内部集成有温度传感器、无线信号通信电路、单片机处理单元、数据处理单元以及液晶显示窗口，所述温度测试仪的多点温度采集方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的温度测试仪的多点温度采集方法，其特征在于，步骤S1包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的温度测试仪的多点温度采集方法，其特征在于，步骤S12包括以下步骤：
4.根据权利要求3所述的温度测试仪的多点温度采集方法，其特征在于，步骤S122中的阵列缝隙密度检测计算公式具体为：
5.根据权利要求1所述的温度测试仪的多点温度采集方法，其特征在于，步骤S2包括以下步骤：
6.根据权利要求5所述的温度测试仪的多点温度采集方法，其特征在于，步骤S23包括以下步骤：
7.根据权利要求6所述的温度测试仪的多点温度采集方法，其特征在于，步骤S233中的外部辐射影响振荡程度计算公式具体为：
8.根据权利要求5所述的温度测试仪的多点温度采集方法，其特征在于，步骤S24包括以下步骤：
9.根据
10.根据权利要求1所述的温度测试仪的多点温度采集方法，其特征在于，步骤S4包括以下步骤：
...【技术特征摘要】
1.一种温度测试仪的多点温度采集方法，其特征在于，其中温度测试仪内部集成有温度传感器、无线信号通信电路、单片机处理单元、数据处理单元以及液晶显示窗口，所述温度测试仪的多点温度采集方法包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的温度测试仪的多点温度采集方法，其特征在于，步骤s1包括以下步骤：
3.根据权利要求2所述的温度测试仪的多点温度采集方法，其特征在于，步骤s12包括以下步骤：
4.根据权利要求3所述的温度测试仪的多点温度采集方法，其特征在于，步骤s122中的阵列缝隙密度检测计算公式具体为：
5.根据权利要求1所述的温度测试仪的多点温度采...
【专利技术属性】
技术研发人员：尹国彦，
申请(专利权)人：常州泰斯科电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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