【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电源滤波器的，尤其是涉及一种emi电源滤波器的仿真测试方法、装置、设备以及介质。
技术介绍
1、emi电源滤波器是一种滤波电路，emi电源滤波器可以对电源线中传导的噪声进行有效滤除，同时有效抑制电源设备所产生的噪声，保护电网中的其他设备免收噪声干扰，因此，emi电源滤波器广泛应用在各种电子设备中，
2、相关技术中，对使用emi电源滤波器的电路的仿真测试方法基本是直接测量电路的输出信号的波形，将其与输入信号的波形进行对比，进而判断emi电源滤波器的滤波质量，但由于负载阻抗和电源输入频率都存在波动，简单的对比不能准确的判断出emi电源滤波器的滤波质量。
3、上述中的相关技术方案存在以下缺陷：由于电路的负载阻抗和电源输入频率都存在波动，不能准确的判断出emi电源滤波器的滤波质量。
技术实现思路
1、为了提高判断emi电源滤波器的滤波质量的准确性，本申请提供一种emi电源滤波器的仿真测试方法、装置、设备以及介质。
2、第一方面，本申请的上述专利技术目的是通过以下技术方案得以实现的：
3、一种emi电源滤波器的仿真测试方法，所述emi电源滤波器的仿真测试方法包括：
4、识别待测电路的电路图，根据预设的电路元件表，生成所述待测电路的拓扑电路图；
5、获取滤波器参数信息，根据所述拓扑电路图和所述滤波器参数信息，生成第一仿真测试模型；
6、根据所述拓扑电路图和所述第一仿真测试模型，生成第二仿真测试模型
7、基于所述第一仿真测试模型和所述第二仿真测试模型，获得仿真测试结果。
8、通过采用上述技术方案，拓扑电路图包括emi电源滤波器以及与emi电源滤波器连接的待测电路的电源和负载，拓扑电路图能够清楚的表示出emi电源滤波器与电源和负载之间的关系，无需绘制复杂完整的电路图，避免资源的浪费，基于第一仿真测试模型和第二仿真测试模型，使用控制变量法，控制仿真模型中的相关参数的变化，进而实现对待测电路的更加全面的仿真检测。另外，第一仿真测试模型和第二仿真测试模型的仿真测试结果也有不同的表达方式，通过不同的参数表示emi电源滤波器的滤波质量，判断以不同参数表示的滤波质量是否相同，从而进一步提高判断emi电源滤波器的滤波质量的准确性。
9、本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述识别待测电路的电路图，根据预设的电路元件表，生成所述待测电路的拓扑电路图，具体包括：
10、识别待测电路的电路图，获得待测电路的电路元件的电参数信息，以及电路覆铜率信息；
11、根据所述待测电路的电路元件的电参数信息，以及预设的电路元件表，生成所述待测电路的拓扑电路图，将所述电路覆铜率信息输入至所述拓扑电路图。
12、通过采用上述技术方案，电路覆铜率表示待测电路的电路板上的覆铜面积，电路覆铜率会使得待测电路中的噪声干扰信号提供了低阻抗路径，不利于检测emi电源滤波器的滤波质量，因此，根据电路覆铜率可调整仿真测试的相关参数，例如，降低开关电源的工作频率，降低由电路覆铜率的影响，进而提高判断emi电源滤波器的滤波质量的准确性。
13、本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述获取滤波器参数信息，根据所述拓扑电路图和所述滤波器参数信息，生成第一仿真测试模型，具体包括：
14、获取滤波器参数信息，所述滤波器参数信息包括电容容量、漏电流参数和电源线长度参数；
15、根据所述滤波器参数信息和所述电参数信息，获得所述待测电路的滤波质量影响参数，所述滤波质量影响参数包括电磁耦合影响参数和寄生参数影响参数；
16、根据所述滤波质量影响参数和所述拓扑电路图，生成第一仿真测试模型。
17、通过采用上述技术方案，滤波质量影响参数表示会对emi电源滤波器的滤波质量产生负面影响的参数，例如，待测电路的寄生参数，在拓扑电路图的基础上添加滤波质量影响参数，以使得仿真测试更加接近实际情况，进而提高判断emi电源滤波器的滤波质量的准确性。
18、本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述根据所述滤波器参数信息和所述电参数信息，获得所述待测电路的滤波质量影响参数，具体包括：
19、根据所述滤波器参数信息，获得所述电磁耦合影响参数；
20、根据所述滤波器参数信息和所述电参数信息，获得寄生参数影响参数。
21、通过采用上述技术方案，电磁耦合影响参数是指emi电源滤波器的输入线和输出线之间产生的电磁耦合效应对emi滤波器的滤波质量的影响程度，寄生参数影响参数是指待测电路中的寄生电容、寄生电感和寄生电阻对emi滤波器的滤波质量的影响程度，该寄生参数影响参数和电磁耦合影响参数均会直接对emi电源滤波器的滤波质量产生的负面影响。因此，在第一仿真测试模型中增加的滤波质量影响参数，保障了第一仿真测试模型的测试结果的准确性。
22、本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述根据所述拓扑电路图和所述第一仿真测试模型，生成第二仿真测试模型，具体包括：
23、根据所述滤波质量影响参数，获取对比电参数信息，根据所述拓扑电路图和所述对比电参数信息，生成第二拓扑电路图；
24、根据所述第二拓扑电路图和所述第一仿真测试模型，生成第二仿真测试模型。
25、通过采用上述技术方案，对比电参数信息是指产生的滤波质量影响参数较小的电路的电参数，且由于第一仿真测试模型中的滤波质量影响参数并非通过实际测量得到的实际参数，其存在不够准确的可能性，因此，通过对emi滤波器的滤波质量影响较小的第二仿真测试模型，将第一仿真测试模型与第二仿真测试模型的仿真测试结果对比，得到更加准确的仿真测试结果。
26、本申请在一较佳示例中可以进一步配置为：所述基于所述第一仿真测试模型和所述第二仿真测试模型，获得仿真测试结果，具体包括：
27、基于所述第一仿真测试模型和所述第二仿真测试模型，触发频率校准指令；
28、基于所述第一仿真测试模型和所述第二仿真测试模型，以及预设的频率限制阈值，触发仿真测试指令，分别获得第一仿真测试结果和第二仿真测试结果；
29、根据所述第一仿真测试结果和所述第二仿真测试结果，获得仿真测试结果。
30、通过采用上述技术方案，频率校准指令是指是指将第一仿真测试模型和第二仿真测试模型的频段和频点对准统一的指令，避免仿真测试的频段和频点不统一导致输出结果无法进行对比分析，频率限制阈值是指电源的输入频率的高频和低频的阈值，因为电源的输入频率过高时会产生输入噪声，频率限制阈值能够限制过多的输入噪声，进而避免仿真测试结果受到过多的干扰，进一步提高判断emi电源滤波器的滤波质量的准确性。
31、第二方面，本申请的上述专利技术目的是通过以下技术方案得以实现的：
32、一种emi电源滤波器的仿真测试装置，所述emi电源滤波器的仿真测试装置包括：
33、拓扑电路图本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种EMI电源滤波器的仿真测试方法，其特征在于，所述EMI电源滤波器的仿真测试方法包括：
2.根据权利要求1所述的EMI电源滤波器的仿真测试方法，其特征在于，所述识别待测电路的电路图，根据预设的电路元件表，生成所述待测电路的拓扑电路图，具体包括：
3.根据权利要求2所述的EMI电源滤波器的仿真测试方法，其特征在于，所述获取滤波器参数信息，根据所述拓扑电路图和所述滤波器参数信息，生成第一仿真测试模型，具体包括：
4.根据权利要求3所述的EMI电源滤波器的仿真测试方法，其特征在于，所述根据所述滤波器参数信息和所述电参数信息，获得所述待测电路的滤波质量影响参数，具体包括：
5.根据权利要求4所述的EMI电源滤波器的仿真测试方法，其特征在于，所述根据所述拓扑电路图和所述第一仿真测试模型，生成第二仿真测试模型，具体包括：
6.根据权利要求2所述的EMI电源滤波器的仿真测试方法，其特征在于，所述基于所述第一仿真测试模型和所述第二仿真测试模型，获得仿真测试结果，具体包括：
7.一种EMI电源滤波器的仿真测试装置，其特征
8.根据权利要求7所述的EMI电源滤波器的仿真测试装置，其特征在于，所述拓扑电路图获取模块包括：
9.一种计算机设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至6任一项所述EMI电源滤波器的仿真测试方法的步骤。
10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至6任一项所述EMI电源滤波器的仿真测试方法的步骤。
...【技术特征摘要】
1.一种emi电源滤波器的仿真测试方法，其特征在于，所述emi电源滤波器的仿真测试方法包括：
2.根据权利要求1所述的emi电源滤波器的仿真测试方法，其特征在于，所述识别待测电路的电路图，根据预设的电路元件表，生成所述待测电路的拓扑电路图，具体包括：
3.根据权利要求2所述的emi电源滤波器的仿真测试方法，其特征在于，所述获取滤波器参数信息，根据所述拓扑电路图和所述滤波器参数信息，生成第一仿真测试模型，具体包括：
4.根据权利要求3所述的emi电源滤波器的仿真测试方法，其特征在于，所述根据所述滤波器参数信息和所述电参数信息，获得所述待测电路的滤波质量影响参数，具体包括：
5.根据权利要求4所述的emi电源滤波器的仿真测试方法，其特征在于，所述根据所述拓扑电路图和所述第一仿真测试模型，生成第二仿真测试模型，具体包括：
<...【专利技术属性】
技术研发人员：汪民，朱子强，
申请(专利权)人：广州市德珑电子器件有限公司，
类型：发明
国别省市：
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