【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及滤波器测试，具体为一种抗干扰滤波器性能测试装置。
技术介绍
1、滤波器是由电容、电感和电阻组成的滤波电路。滤波器可以对电源线中特定频率的频点或该频点以外的频率进行有效滤除，得到一个特定频率的电源信号，或消除一个特定频率后的电源信号。滤波器是一种选频装置，可以使信号中特定的频率成分通过，而极大地衰减其他频率成分。利用滤波器的这种选频作用，可以滤除干扰噪声或进行频谱分析。换句话说，凡是可以使信号中特定的频率成分通过，而极大地衰减或抑制其他频率成分的装置或系统都称之为滤波器。
2、现有的滤波器进行测试时，往往采用老式机型进行测试，其一是无法得到准确的测试结果，二是需要相关人员进行大量的测试操作，费时费力，大大降低测试效率，本专利技术提出一种抗干扰滤波器性能测试装置，以达到更快分析测试数据的目的，提高测试效率，降低人工操作的工作量，以解决上述问题。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供一种抗干扰滤波器性能测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
2、为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种抗干扰滤波器性能测试装置，包括电源模块、主控模块、信号检测模块、数据采集模块和测试模块，所述电源模块与所述主控模块、所述信号检测模块、数据采集模块以及所述测试模块依次连接；所述数据采集模块包括信号插口；所述信号检测模块包括测试接口；
3、所述信号插口与所述测试接口连接，并建立所述数据采集模块和所述信号检测模块的数据传输通路；
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5、所述数据采集模块通过所述数据传输通路与所述信号检测模块通信连接；
6、所述主控模块用于将预设的检测信号发送至所述信号检测模块；
7、所述信号检测模块用于将所述检测信号发送至所述数据采集模块。
8、优选的，所述电源模块包括：所述电源模块包括：电源开关；所述电源开关与外部电源连接，所述电源开关用于控制电源模块的通断。
9、优选的，所述电源模块还包括：第一发光二极管；
10、所述第一发光二极管用于确定所述电源模块是否正常工作，其中，所述第一发光二极管发光表征所述电源模块正常工作。。
11、优选的，试验电压测试单元、阻抗测试单元和漏电流测试单元；所述试验电压测试单元、所述阻抗测试单元和所述漏电流测试单元均与主控模块连接；所述测试接口包括：试验电压测试接口、阻抗测试接口和漏电流测试接口；
12、所述试验电压测试单元通过所述试验电压测试接口与所述数据采集模块连接；
13、所述阻抗测试单元通过所述阻抗测试接口与所述数据采集模块连接；
14、所述漏电流测试单元通过所述漏电流测试接口与所述数据采集模块连接。
15、优选的，所述试验电压测试单元包括：至少一个电压检测电路；所述试验电压测试接口与所述主控模块连接。
16、优选的，所述电压测试电路还包括：第二发光二极管；所述试验电压测试接口包括：第一输入电压通道；所述第二发光二极管与所述第一输入电压通道连接；
17、所述第二发光二极管用于确定所述第一输入电压通道是否正常工作，其中，所述第二发光二极管发光表征所述第一输入电压通道正常工作。
18、优选的，所述阻抗测试单元包括：第三发光二极管；所述阻抗测试接口包括：第二输入电压通道；所述第三发光二极管与所述第二输入电压通道连接；
19、所述第三发光二极管用于确定所述第二输入电压通道是否正常工作，其中，所述第三发光二极管发光表征所述第二输入电压通道正常工作。
20、优选的，所述漏电流测试单元包括第四发光二极管；所述漏电流测试接口包括：第三输入电压通道；所述第四发光二极管与所述第三输入电压通道连接；
21、所述第四发光二极管同于确定所述第三输入电压通道是否正常工作，其中，所述第四发光二极管发光表征所述第三输入电压通道正常工作。
22、优选的，所述主控模块包括：主控芯片、基准芯片和第五发光二极管；
23、所述基准芯片和所述第五发光二极管均与所述主控芯片连接；
24、所述第五发光二极管用于确认所述主控芯片是否正常工作，其中，所述第五发光二极管发光表征所述主控芯片正常工作。
25、优选的，所述性能测试方法包括以下步骤：
26、s1：打开电源开关，电源模块中的第一发光二极管点亮，表征整个装置的供电正常；
27、s2：将待测试滤波器与数据采集模块、主控模块以及测试模块依次连接，具体通过测试接口与信号插口分别连接，通过第二发光二极管、第三发光二极管以及第四发光二极管点亮，表征所述试验电压测试单元、所述阻抗测试单元以及所述漏电流测试单元均正常工作；
28、s3：通过信号检测模块与测试模块连接的各个输入电压通道，对待测试滤波器进行测试；
29、s4：通过所述数据采集模块得到所述试验电压测试单元、所述阻抗测试单元以及漏电流测试单元中回馈的数据并储存。
30、与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：在测试抗干扰滤波器时，只需要通过信号插口与阻抗测试接口、试验电压测试接口和漏电流测试接口进行连接，简单快捷，减少了大量的测试操作，通过不同的发光二极管能够快速判断整个装置中某个模块是否正常运作，本专利技术测试方式简单，同时能够快速得到对应数据。
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1.一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于，包括：电源模块(1)、主控模块(2)、信号检测模块(3)、数据采集模块(4)和测试模块(5)，所述电源模块(1)与所述主控模块(2)、所述信号检测模块(3)、数据采集模块(4)以及所述测试模块(5)依次连接；所述数据采集模块(4)包括信号插口(6)；所述信号检测模块(3)包括测试接口(7)；
2.根据权利要求1所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：所述电源模块(1)包括：电源开关(8)；所述电源开关(8)与外部电源连接，所述电源开关(8)用于控制电源模块(1)的通断。
3.根据权利要求2所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：所述电源模块(1)还包括：第一发光二极管(9)；
4.根据权利要求1所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：测试模块(5)包括试验电压测试单元(10)、阻抗测试单元(11)和漏电流测试单元(12)；所述试验电压测试单元(10)、所述阻抗测试单元(11)和所述漏电流测试单元(12)均与主控模块(2)连接；所述测试接口(7)包括：试验电压测试接口(13)、
5.根据权利要求4所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：所述试验电压测试单元(10)包括：至少一个电压检测电路；所述试验电压测试接口(13)与所述主控模块(2)连接。
6.根据权利要求5所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：所述电压测试电路还包括：所述电压测试电路还包括：第二发光二极管(16)；所述试验电压测试接口(13)包括：第一输入电压通道(17)；所述第二发光二极管(16)与所述第一输入电压通道(17)连接；
7.根据权利要求4所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：所述阻抗测试单元(11)包括：第三发光二极管(18)；所述阻抗测试接口(14)包括：第二输入电压通道(19)；所述第三发光二极管(18)与所述第二输入电压通道(19)连接；
8.根据权利要求4所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：所述漏电流测试单元(12)包括第四发光二极管(20)；所述漏电流测试接口(15)包括：第三输入电压通道；所述第四发光二极管(20)与所述第三输入电压通道(21)连接；
9.根据权利要求1所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：所述主控模块(2)包括：主控芯片(22)、基准芯片(23)和第五发光二极管(24)；
10.根据权利要求1至9任一所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：基于性能测试装置的测试方法包括以下步骤：
...【技术特征摘要】
1.一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于，包括：电源模块(1)、主控模块(2)、信号检测模块(3)、数据采集模块(4)和测试模块(5)，所述电源模块(1)与所述主控模块(2)、所述信号检测模块(3)、数据采集模块(4)以及所述测试模块(5)依次连接；所述数据采集模块(4)包括信号插口(6)；所述信号检测模块(3)包括测试接口(7)；
2.根据权利要求1所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：所述电源模块(1)包括：电源开关(8)；所述电源开关(8)与外部电源连接，所述电源开关(8)用于控制电源模块(1)的通断。
3.根据权利要求2所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：所述电源模块(1)还包括：第一发光二极管(9)；
4.根据权利要求1所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：测试模块(5)包括试验电压测试单元(10)、阻抗测试单元(11)和漏电流测试单元(12)；所述试验电压测试单元(10)、所述阻抗测试单元(11)和所述漏电流测试单元(12)均与主控模块(2)连接；所述测试接口(7)包括：试验电压测试接口(13)、阻抗测试接口(14)和漏电流测试接口(15)；
5.根据权利要求4所述的一种抗干扰滤波器性能测试装置，其特征在于：所述试验电压测试单元(10)...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘峰，
申请(专利权)人：深圳兆讯科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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