【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于emmc测试，具体涉及一种emmc批量测试上掉电的装置与方法。
技术介绍
1、在嵌入式存储emmc测试中，正常断电和异常断电是十分重要的测试项目。在存储器件读写过程中开展正常或者异常上掉电，可以测试存储器件的稳定性与可靠性。通常掉电测试分为正常掉电和异常掉电，正常掉电由主机发送命令，通知存储设备即将下电，做好相应的数据保存并停止后续数据操作；异常掉电则是在存储设备还在工作的情况下，突然断器件电源。无论是正常上掉电和异常上掉电测试，执行过程中都可能涉及到数据传输。
2、emmc测试过程中，emmc掉电测试随着整机进行掉电，整机通常掉电时间在10s-60s之间不等，之后整机重启，emmc存储装置会在主机识别存储器件后再重新开展测试，单批次的测试量受到限制，无法监控当前存储装置的状体是空闲还是处于读写过程中，上掉电测试效率低下。
3、除此之外，如果设置重启时间过短，会导致重启后系统还未就绪，就面临下一轮的掉电，测试效果会大打折扣。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于，提供一种emmc批量测试上掉电的装置与方法，提升了测试能力，具备更宽的定义空间，测试压力更加精准，增强了接口可拓展性。
2、为解决上述技术问题，本专利技术的技术方案为：一种emmc批量测试上掉电的装置，包括集成板，其上并行设置有若干组配置相同的emmc控制模块，集成板上还设置有mcu控制单元以及串口交互单元，mcu控制单元与所有emmc控制模块分别连接，串口交互单元与mc
3、emmc芯片通过d0～d7数据传输端口将时钟clk信号和命令cmd信号、hs400模式下的ds时钟信号发送至桥接芯片，将emmc5.1协议信号转化为usb3.0协议信号。
4、桥接芯片的型号为gl3227e。
5、高速信号开关芯片的型号为ch481。
6、供电控制电路采用mos管对emmc芯片进行电源的开关控制。
7、emmc芯片均设置在emmc socket测试座上。
8、集成板上带有dc电源插头，用于对集成板上组件进行外部供电。
9、还提供一种emmc批量测试上掉电的方法，应用于如上述任一项所述的一种emmc批量测试上掉电的装置上；该方法包括以下步骤：
10、在集成板与主机连接后，启动主机发送上掉电指令，在emmc协议信号转化后被主机识别为盘符，运行主机内控制脚本，控制脚本自动运行i/o压力读写软件，对emmc开启压力测试，在i/o压力读写软件运行过程中，主机通过串口发送控制指令，控制集成板上的mos开关和高速信号开关通断，实现一次掉电控制；
11、设置上掉电指令的运行次数和时间间隔，控制脚本在设置的时间间隔内通过串口传输控制指令，恢复集成板上的电源或者信号通过，emmc协议信号将再次被识别，i/0压力读写软件自动运行，对emmc开启压力测试，在i/o压力读写软件运行过程中，主机通过串口发送控制指令，控制集成板上的mos开关和高速信号开关通断，实现循环的掉电控制；
12、待控制脚本中预设掉电控制次数执行完毕后，主机将日志文件上传至指定服务器，指定服务器自动解析运行日志文件中的执行信息，根据是否存在错误代码的日志信息标记出是否存在上掉电测试的异常状况，并统计出解释结果；其中，日志文件中记载的执行信息包括整个运行上掉电控制过程中的运行操作、磁盘运行的状态以及上掉电的时间戳。
13、i/o压力读写软件的运行模式为自定义设置，包括只读、只写和混合比例读写的运行模式。
14、上掉电指令的时间间隔设置为某个固定值或在某个时间范围内的随机值。
15、在emmc循环运行上掉电控制过程中，主机一直保持运行状态。
16、与现有技术相比，本专利技术的有益效果为：
17、1.测试能力提升。整个装置可以实现一台主机实现对批量emmc的上掉电控制，增加了同步测试的载量，提升了测试能力；
18、2.降低了整体测试系统的硬件成本，只需要一台主机即可完成批量的控制，不需要每一个socket匹配一个硬件平台；
19、3.减少了系统复杂度。测试相同多数量的emmc，该专利技术只需要1台主机测试系统与主机的控制都集成在一个hub集成板控制电路上，整体系统更加简洁；
20、4.测试方法和测试程序有更宽的定义空间，测试压力更加精准。对于在执行上掉电测试的整个过程(掉电前、掉电进行时)的每一个emmc存储器的测试，有更多的测试场景以及状态定义，或读或写或空闲，从而拓宽了测试方法和测试程序的定义空间；
21、5.接口可拓展性强。emmc接口部分采用emmc5.1协议转化usb 3.0协议，性能不会受到影响。连接到主机上可选pcie接口或者sata接口，接口转化模式多样。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种eMMC批量测试上掉电的装置，其特征在于，包括集成板，其上并行设置有若干组配置相同的eMMC控制模块，集成板上还设置有MCU控制单元以及串口交互单元，MCU控制单元与所有eMMC控制模块分别连接，串口交互单元与MCU控制单元连接，该装置通过串口交互单元与外部主机连接进行信息交互；其中，eMMC控制模块包括相互连接的eMMC芯片、桥接芯片和高速信号开关芯片，以及与eMMC芯片连接的供电控制电路，eMMC芯片与高速信号开关芯片的电线接地端连接，桥接芯片与高速信号开关芯片的TXP、RXP、RXN和TXN端口分别连接以进行TX信号和RX信号的传输。
2.根据权利要求1所述的一种eMMC批量测试上掉电的装置，其特征在于，eMMC芯片通过D0～D7数据传输端口将时钟CLK信号和命令CMD信号、HS400模式下的DS时钟信号发送至桥接芯片，将eMMC5.1协议信号转化为USB3.0协议信号。
3.根据权利要求1或2所述的一种eMMC批量测试上掉电的装置，其特征在于，桥接芯片的型号为GL3227E，高速信号开关芯片的型号为CH481。
4.根据权利要求
5.根据权利要求1或2所述的一种eMMC批量测试上掉电的装置，其特征在于，eMMC芯片均设置在eMMC socket测试座上。
6.根据权利要求1所述的一种eMMC批量测试上掉电的装置，其特征在于，集成板上带有DC电源插头，用于对集成板上组件进行外部供电。
7.一种eMMC批量测试上掉电的方法，其特征在于，应用于如权利要求1-6任一项所述的一种eMMC批量测试上掉电的装置上；该方法包括以下步骤：
8.根据权利要求7所述的一种eMMC批量测试上掉电的方法，其特征在于，I/O压力读写软件的运行模式为自定义设置，包括只读、只写和混合比例读写的运行模式。
9.根据权利要求7所述的一种eMMC批量测试上掉电的方法，其特征在于，上掉电指令的时间间隔设置为某个固定值或在某个时间范围内的随机值。
10.根据权利要求7所述的一种eMMC批量测试上掉电的方法，其特征在于，在eMMC循环运行上掉电控制过程中，主机一直保持运行状态。
...【技术特征摘要】
1.一种emmc批量测试上掉电的装置，其特征在于，包括集成板，其上并行设置有若干组配置相同的emmc控制模块，集成板上还设置有mcu控制单元以及串口交互单元，mcu控制单元与所有emmc控制模块分别连接，串口交互单元与mcu控制单元连接，该装置通过串口交互单元与外部主机连接进行信息交互；其中，emmc控制模块包括相互连接的emmc芯片、桥接芯片和高速信号开关芯片，以及与emmc芯片连接的供电控制电路，emmc芯片与高速信号开关芯片的电线接地端连接，桥接芯片与高速信号开关芯片的txp、rxp、rxn和txn端口分别连接以进行tx信号和rx信号的传输。
2.根据权利要求1所述的一种emmc批量测试上掉电的装置，其特征在于，emmc芯片通过d0～d7数据传输端口将时钟clk信号和命令cmd信号、hs400模式下的ds时钟信号发送至桥接芯片，将emmc5.1协议信号转化为usb3.0协议信号。
3.根据权利要求1或2所述的一种emmc批量测试上掉电的装置，其特征在于，桥接芯片的型号为gl3227e，高速信号开关芯片的型号为ch481。
4.根据权利要求1所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：姚栋，张杰，刘青松，李四林，
申请(专利权)人：湖北长江万润半导体技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。