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标准单元的布设处理方法、装置、及存储介质制造方法及图纸

技术编号:40060964 阅读:6 留言:0更新日期:2024-01-16 22:41
本公开实施例中提供标准单元的布设处理方法、装置、及存储介质,方法包括:基于标准单元相关检查规则集对于摆放于供电网络上的标准单元进行设计规则检查,确定标准单元是否摆放违规;若标准单元始终摆放违规,判定标准单元对供电网络不可用;若标准单元摆放不违规,通过设计规则检查确定标准单元在所占用区域内是否能实现标准单元的每个引脚在金属层之间的绕出线;若标准单元有引脚无法绕出线,判定标准单元需围补处理。通过自动化高效地对标准单元布设于供电网络的可用性进行判断及绕线判断且能相应优化调整,使得设计者在预研阶段就能提前将标准单元进行筛选、及验证供电网络结构可用性,大大节约设计者的时间。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及芯片设计,尤其涉及标准单元的布设处理方法、装置、及存储介质


技术介绍

1、在半导体设计中,标准单元(standard cell,简称cell)是指能完成某种功能的一种逻辑电路,比如逻辑门电路、存储单元等。

2、在物理实现阶段,为了确保布局布线的成功和满足设计要求,需要将标准单元合理地布局在芯片内。那么在先进工艺和在物理设计对更小的面积、更高的性能和更低的功耗,也就是ppa(performance,power,area)的更高要求的背景下,准确了解标准单元逻辑门对走线的难度影响是非常有必要的。

3、在相关
的场景中,当设计人员在物理设计和验证(physical designandverification,pr)阶段完成布局(place)后,发现某个标准单元与当前的供电网络(pg)结构无法合理布局,需要对综合阶段设置该标准单元“不使用”(dont use)的属性。以及,在pr阶段完成布线(routing)后,发现该标准单元存在无法解决的布线的设计规则检查(design rule check,drc)违规问题,则对该标准单元标记围补(padding)处理、或对标准单元摆放的密度(density)进行调整。

4、然而,该类方式需要大量尝试,耗时长,且不一定能全面排查,存在设计风险。例如,未能识别应当设置成dontuse的标准单元,而该标准单元在pr阶段被使用,导致需要大幅度修改的问题。


技术实现思路

1、鉴于以上所述现有技术的缺点,本公开的目的在于提供标准单元的布设处理方法、装置、及存储介质,解决相关技术中的问题。

2、本公开第一方面提供一种标准单元的布设处理方法,应用于芯片结构的电路版图中标准单元的布设;所述方法包括:基于标准单元相关检查规则集对于摆放于供电网络上的标准单元进行设计规则检查,确定所述标准单元是否摆放违规;若所述标准单元始终摆放违规,判定所述标准单元对所述供电网络不可用;若所述标准单元摆放不违规,通过所述设计规则检查确定所述标准单元在所占用区域内是否能实现标准单元的每个引脚在金属层之间的绕出线;若所述标准单元有引脚始终无法绕出线,判定所述标准单元需围补处理。

3、在第一方面的实施例中,所述标准单元相关检查规则集的获取方式,包括:获取预设标准单元库中每个标准单元的标准单元数据;基于所述标准单元数据所涉及对象,提取相关的设计检查规则,以汇集成所述标准单元相关检查规则集。

4、在第一方面的实施例中,所述标准单元相关检查规则集包括:所述芯片结构的金属一层、金属二层及金属三层中关于引脚、绕线、及导电通孔的物理尺寸参数的设计检查规则;所述物理尺寸参数包括以下至少一种:线宽;线长;形状;面积;间距。

5、在第一方面的实施例中,所述基于标准单元相关检查规则集对于摆放于供电网络上的标准单元进行设计规则检查,确定所述标准单元是否摆放违规,包括:获得所述标准单元在金属一层中的电源条线对第一预设对象之间的间距;所述金属一层包括沿第一方向平行排布的第一电源轨道;通过所述设计规则检查判断所述标准单元是否存在违规,所述违规包括所述间距的违规;若违规,沿所述第一方向移动所述标准单元至适配的每个第一电源轨道,直至不违规;若在所述标准单元移动到的每个位置均违规,则判定所述标准单元对所述供电网络不可用。

6、在第一方面的实施例中,所述第一预设对象包括:金属一层中的引脚形状部;金属一层中的阻碍区域。

7、在第一方面的实施例中,所述通过所述设计规则检查确定所述标准单元在所占用区域内是否能实现标准单元的每个引脚在金属层之间的绕出线,包括:确定所述标准单元中每个引脚相连的金属一层和金属二层中的引脚形状部;其中,每个引脚的绕线路径为从金属一层中的第一引脚形状部经第一导电通孔连通至金属二层中的第二引脚形状部;所述金属二层包括沿第二方向平行排布的第二电源轨道;对每个所述引脚执行第一绕线分析流程;所述第一绕线分析流程包括:基于沿第一电源轨道布置第一引脚形状部时对第二预设对象的避让,得到每个引脚对应的允许设置第一导电通孔的打孔可用空间;所述避让通过设计规则检查确定;对所述标准单元的每个所述引脚执行第二绕线分析流程;所述第二绕线分析流程包括:基于每个所述引脚的打孔可用空间的大小进行排序;基于所述打孔可用空间从小至大的顺序对引脚进行遍历;对于被遍历到的当前引脚,基于从第一导电通孔沿第二电源轨道布置的第二引脚形状部对第三预设对象的避让,以得到金属二层的绕线可用空间;通过所述设计规则检查判断所述绕线可用空间是否能满足所述金属二层的线长规则;若满足,则将所述顺序中下一引脚作为当前引脚以执行所述第二绕线分析流程;若不满足,则判定违规,沿所述第二方向移动所述第一导电通孔至适配的每个第二电源轨道,直至不违规;若在移动到的每个位置均违规,判定所述标准单元需围补处理。

8、在第一方面的实施例中,所述第二预设对象包括以下至少一种:第零导电通孔;第一导电通孔;金属一层中的阻碍区域;金属一层中的电源条线;和/或,所述第三预设对象包括以下至少一种:第一导电通孔;金属二层中的阻碍区域;金属二层中的电源条线;金属二层中的第二引脚形状部。

9、在第一方面的实施例中,所述方法包括:获取需用到的标准单元在金属一层及金属二层中的可用空间;规划所述金属一层和金属二层上的电源网络结构以调整所述可用空间,以令摆放于所述可用空间内的标准单元与电源网络结构之间保持未违规的物理参数关系。

10、本公开第二方面提供一种标准单元的布设处理装置,其特征在于,应用于芯片结构的电路版图中标准单元的布设;所述装置包括:网络摆放处理模块,用于基于标准单元相关检查规则集对于摆放于供电网络上的标准单元进行设计规则检查,确定所述标准单元是否摆放违规;若所述标准单元始终摆放违规,判定所述标准单元对所述供电网络不可用;绕出线处理模块,用于若所述标准单元摆放不违规,通过所述设计规则检查确定所述标准单元在所占用区域内是否能实现标准单元的每个引脚在金属层之间的绕出线;若所述第一导电通孔移动到的每个位置均违规,判定所述标准单元需围补处理。

11、本公开第三方面提供一种计算机装置,包括:处理器及存储器;所述存储器存储有程序指令;所述处理器,用于运行所述程序指令,以执行如第一方面中任一项所述的标准单元的布设处理方法。

12、本公开第四方面一种计算机存储介质,其特征在于,存储有程序指令,所述程序指令被运行执行如第一方面中任一项所述的标准单元的布设处理方法。

13、如上所述,本公开实施例中提供标准单元的布设处理方法、装置、及存储介质,方法包括:基于标准单元相关检查规则集对于摆放于供电网络上的标准单元进行设计规则检查,确定所述标准单元是否摆放违规;若所述标准单元始终摆放违规,判定所述标准单元对所述供电网络不可用;若所述标准单元摆放不违规,通过所述设计规则检查确定所述标准单元在所占用区域内是否能实现标准单元的每个引脚在金属层之间的绕出线;若所述标准单元有引本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种标准单元的布设处理方法,其特征在于,应用于芯片结构的电路版图中标准单元的布设;所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的标准单元的布设处理方法,其特征在于,所述标准单元相关检查规则集的获取方式,包括:

3.根据权利要求1所述的标准单元的布设处理方法,其特征在于,所述标准单元相关检查规则集包括:所述芯片结构的金属一层、金属二层及金属三层中关于引脚、绕线、及导电通孔的物理尺寸参数的设计检查规则;所述物理尺寸参数包括以下至少一种:线宽;线长;形状;面积;间距。

4.根据权利要求1所述的标准单元的布设处理方法,其特征在于,所述基于标准单元相关检查规则集对于摆放于供电网络上的标准单元进行设计规则检查,确定所述标准单元是否摆放违规,包括:

5.根据权利要求4所述的标准单元的布设处理方法,其特征在于,所述第一预设对象包括:金属一层中的引脚形状部;金属一层中的阻碍区域。

6.根据权利要求1所述的标准单元的布设处理方法,其特征在于,所述通过所述设计规则检查确定所述标准单元在所占用区域内是否能实现标准单元的每个引脚在金属层之间的绕出线,包括:

7.根据权利要求6所述的标准单元的布设处理方法,其特征在于,所述第二预设对象包括以下至少一种:第零导电通孔;第一导电通孔;金属一层中的阻碍区域;金属一层中的电源条线;和/或,所述第三预设对象包括以下至少一种:第一导电通孔;金属二层中的阻碍区域;金属二层中的电源条线;金属二层中的第二引脚形状部。

8.根据权利要求1所述的标准单元的布设处理方法,其特征在于,还包括:

9.一种标准单元的布设处理装置,其特征在于,应用于芯片结构的电路版图中标准单元的布设;所述装置包括:

10.一种计算机装置,其特征在于,包括:

11.一种计算机存储介质,其特征在于,存储有程序指令,所述程序指令被运行执行如权利要求1至8中任一项所述的标准单元的布设处理方法。

...

【技术特征摘要】

1.一种标准单元的布设处理方法,其特征在于,应用于芯片结构的电路版图中标准单元的布设;所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的标准单元的布设处理方法,其特征在于,所述标准单元相关检查规则集的获取方式,包括:

3.根据权利要求1所述的标准单元的布设处理方法,其特征在于,所述标准单元相关检查规则集包括:所述芯片结构的金属一层、金属二层及金属三层中关于引脚、绕线、及导电通孔的物理尺寸参数的设计检查规则;所述物理尺寸参数包括以下至少一种:线宽;线长;形状;面积;间距。

4.根据权利要求1所述的标准单元的布设处理方法,其特征在于,所述基于标准单元相关检查规则集对于摆放于供电网络上的标准单元进行设计规则检查,确定所述标准单元是否摆放违规,包括:

5.根据权利要求4所述的标准单元的布设处理方法,其特征在于,所述第一预设对象包括:金属一层中的引脚形状部;金属一层中的阻碍区域。

6.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐志军宋颖葛亮
申请(专利权)人:深圳市合芯数字科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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