System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 防结霜升降温治具制造技术_技高网

防结霜升降温治具制造技术

技术编号:40044095 阅读:18 留言:0更新日期:2024-01-16 20:11
本发明专利技术公开了一种防结霜升降温治具,包括底板、测试电路板、保温罩和翻盖,测试电路板嵌在底板上,保温罩设置在测试电路板上并固定,待测器件由底板伸入并贯穿保温罩上的插入口密封段后插入测试电路板中,翻盖铰接底板并翻转将待测器件压紧在底板上,翻盖与插入口密封段之间形成气流出口多重膨胀压缩密封结构,用来连接外部热流控制器上的气嘴由保温罩顶部插入,气嘴与保温罩之间形成气流入口多重膨胀压缩密封结构。优点,本发明专利技术防结霜升降温治具,防结霜升降温治具在气流出入口都增加了多重压缩膨胀结构,具有良好的绝热效果,可有效防止气体泄漏,避免了结霜污染待测器件或模块。大大提高了光模块测试的效率、可靠性和使用寿命。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试治具,尤其涉及一种防结霜升降温治具


技术介绍

1、随着测试技术的发展,对快速升降温治具的要求越来越高。由于-40度低温时,待测试器件会接触湿空气而结霜,污染了待测器件,对于某些测试是不允许的。而且结霜同时也表明治具的保温效果不好。由此大大降低升降温的速度,降低了测试效率。

2、现有的测试方法是由热流控制器(实际上是冷热气流发生器)产生所需温度的气流, 然后流经升降温测试治具和待测器件使待测器件尽快达到指定温度,在进行测试。热流控制器发出的气流是经过除湿的,因此本身并不会结霜。热流控制器并不用改。

3、待测器件结霜说明过冷气流与环境中的湿气混合导致了结霜。这只能说明升降温治具导致气流的混合。

4、因此如何设计升降温治具以防止待测器件结霜就成为亟待解决的问题。


技术实现思路

1、本专利技术所要解决的技术问题是:为解决过冷气流与环境中的湿气混合的问题,只能将过冷气流隔绝密封;但是待测器件有很多个,必须要拆装待测器件;既要方便拆卸;装好待测器件又要环境空气隔绝密封,这是一对矛盾,要在千百次拆装后还能保持良好的密封效果是很困难的。

2、为解决上述技术问题,本专利技术提出一种防结霜升降温治具,该升降温治具采用多重膨胀压缩密封。

3、采取的技术方案如下:

4、一种防结霜升降温治具,包括底板、测试电路板、保温罩和翻盖,测试电路板嵌在底板上,保温罩设置在测试电路板上并固定,待测器件由底板伸入并贯穿保温罩上的插入口密封段后插入测试电路板中,翻盖铰接底板并翻转将待测器件压紧在底板上,翻盖与插入口密封段之间形成气流出口多重膨胀压缩密封结构,用来连接外部热流控制器上的气嘴由保温罩顶部插入,气嘴与保温罩之间形成气流入口多重膨胀压缩密封结构。

5、本专利技术的防结霜升降温治具,采用多重膨胀压缩密封。在设计密封时发现,单一的狭缝并不能造成最大的气流阻力。只有同时具有让气体压缩的狭缝和膨胀的沟槽才能对气流造成最大的阻力。因此在气流的入口和出口都添加了多重膨胀密封结构。多重密封不但提升密封的效果,也提高了密封的可靠性。单一密封部件的磨损并不会导致密封的失效。同时多重密封还允许部件存在一定的间隙,不需要特别紧密的配合。这是千百次反复拆装而不影响密封的关键。同时采用翻盖结构也有利于待测器件的拆装。而测试光纤则放在沟槽内,在开关盖子的时候,光纤不受影响。避免了压坏光纤。

6、对本专利技术技术方案的优选,在保温罩顶部设置用来检测待测器件温度的温度探针组件,这样方便检测待测模块的温度。

7、对本专利技术技术方案的优选,保温罩包括罩体和保温罩盖板,罩体上下敞口,罩体设置在测试电路板上并固定,保温罩盖板设置罩体的上敞口处,插入口密封段一体结构位于罩体上。保温罩包括罩体和保温罩盖板形成了巨大的空腔,也是多重压缩膨胀结构的一部分。同时中空结构不易导热,提高了测试治具的绝热性能。

8、对本专利技术技术方案的优选,所述保温罩的插入口密封段整体呈半圆形,在插入口密封段的弧形外表面上沿周向设置一道供翻盖插入的弧形卡槽,弧形卡槽与插入口密封段的弧形外表面之间形成了第一台阶结构,翻盖上内凹设置卡合第一台阶结构的第二台阶结构;第一台阶结构与第一台阶结构之间形成截面呈空间竖直的第一窄缝和第二窄缝,第一窄缝和第二窄缝组成了气流出口多重膨胀压缩密封结构。密封效果好,可多次重复冷热循环使用。如果用密封胶条,靠胶条的弹性与侧壁密封,一是增大了翻盖阻力;二是高温反复循环使用易造成胶条损坏脱落,破坏了密封。

9、对本专利技术技术方案的优选,气嘴贯穿保温罩盖板并插入罩体内,气嘴与保温罩盖板之间设置第一锥形窄缝,气嘴与罩体之间设置第二锥形窄缝和环形窄缝,第一锥形窄缝、第二锥形窄缝和环形窄缝组成了气流入口多重膨胀压缩密封结构。

10、对本专利技术技术方案的优选,罩体上与测试电路板接触的面上设置多条罩体密封沟槽,大大提高了密封效果,如想进一步提高,可在沟槽附近添加发泡胶。

11、对本专利技术技术方案的优选,翻盖与底板相互密封的面上均内凹开设特斯拉阀,底板上的特斯拉阀分别连通治具外部和保温罩内腔,待测器件置于底板上的特斯拉阀内并插入保温罩内腔里。特斯拉阀保证了过冷气体单向流动,避免环境湿气返流造成结霜。

12、对本专利技术技术方案的优选,翻盖与底板相互密封的面上在特斯拉阀的两侧均内凹开设密封沟槽,密封沟槽沿待测器件插入方向开设。这样进一步提高了密封效果,避免漏气。

13、对本专利技术技术方案的优选,翻盖一侧外壁上设置有开关翻盖的拉手。方便翻盖开合。

14、对本专利技术技术方案的优选,底板和保温罩采用电木制作。电木原料廉价易得,有一定绝热绝缘能力。

15、本专利技术与现有技术相比具有的有益效果:

16、本专利技术防结霜升降温治具在气流出入口都增加了多重压缩膨胀结构,具有良好的绝热效果,可有效防止气体泄漏,避免了结霜污染待测器件或模块。大大提高了光模块测试的效率、可靠性和使用寿命。

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【技术保护点】

1.一种防结霜升降温治具,其特征在于,包括底板(1)、测试电路板(2)、保温罩(3)和翻盖(6),测试电路板(2)嵌在底板(1)上,保温罩(3)设置在测试电路板(2)上并固定,待测器件(9)由底板(1)伸入并贯穿保温罩(3)上的插入口密封段后插入测试电路板(2)中,翻盖(6)铰接底板(1)并翻转将待测器件(9)压紧在底板(1)上,翻盖(6)与插入口密封段之间形成气流出口多重膨胀压缩密封结构,用来连接外部热流控制器上的气嘴(4)由保温罩(3)顶部插入,气嘴(4)与保温罩(3)之间形成气流入口多重膨胀压缩密封结构。

2.根据权利要求1所述的防结霜升降温治具,其特征在于,在保温罩(3)顶部设置用来检测待测器件(9)温度的温度探针组件(8)。

3.根据权利要求1所述的防结霜升降温治具,其特征在于,保温罩(3)包括罩体和保温罩盖板(5),罩体上下敞口,罩体设置在测试电路板(2)上并固定,保温罩盖板(5)设置罩体的上敞口处,插入口密封段一体结构位于罩体上。

4.根据权利要求3所述的防结霜升降温治具,其特征在于,所述保温罩(3)的插入口密封段整体呈半圆形,在插入口密封段的弧形外表面上沿周向设置一道供翻盖(6)插入的弧形卡槽(31),弧形卡槽(31)与插入口密封段的弧形外表面之间形成了第一台阶结构,翻盖(6)上内凹设置卡合第一台阶结构的第二台阶结构;第一台阶结构与第一台阶结构之间形成截面呈空间竖直的第一窄缝(61)和第二窄缝(62),第一窄缝(61)和第二窄缝(62)组成了气流出口多重膨胀压缩密封结构。

5.根据权利要求3所述的防结霜升降温治具,其特征在于,气嘴(4)贯穿保温罩盖板(5)并插入罩体内,气嘴(4)与保温罩盖板(5)之间设置第一锥形窄缝(51),气嘴(4)与罩体之间设置第二锥形窄缝(52)和环形窄缝(53),第一锥形窄缝(51)、第二锥形窄缝(52)和环形窄缝(53)组成了气流入口多重膨胀压缩密封结构。

6.根据权利要求3所述的防结霜升降温治具,其特征在于,罩体上与测试电路板(2)接触的面上设置多条罩体密封沟槽(35)。

7.根据权利要求1所述的防结霜升降温治具,其特征在于,翻盖(6)与底板(1)相互密封的面上均内凹开设特斯拉阀(63),底板(1)上的特斯拉阀(63)分别连通治具外部和保温罩(3)内腔,待测器件(9)置于底板(1)上的特斯拉阀(63)内并插入保温罩(3)内腔里。

8.根据权利要求6所述的防结霜升降温治具,其特征在于,翻盖(6)与底板(1)相互密封的面上在特斯拉阀(63)的两侧均内凹开设密封沟槽(64),密封沟槽(64)沿待测器件(9)插入方向开设。

9.根据权利要求1所述的防结霜升降温治具,其特征在于,翻盖(6)一侧外壁上设置有开关翻盖(6)的拉手。

10.根据权利要求1所述的防结霜升降温治具,其特征在于,底板(1)和保温罩(3)采用电木制作。

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【技术特征摘要】

1.一种防结霜升降温治具,其特征在于,包括底板(1)、测试电路板(2)、保温罩(3)和翻盖(6),测试电路板(2)嵌在底板(1)上,保温罩(3)设置在测试电路板(2)上并固定,待测器件(9)由底板(1)伸入并贯穿保温罩(3)上的插入口密封段后插入测试电路板(2)中,翻盖(6)铰接底板(1)并翻转将待测器件(9)压紧在底板(1)上,翻盖(6)与插入口密封段之间形成气流出口多重膨胀压缩密封结构,用来连接外部热流控制器上的气嘴(4)由保温罩(3)顶部插入,气嘴(4)与保温罩(3)之间形成气流入口多重膨胀压缩密封结构。

2.根据权利要求1所述的防结霜升降温治具,其特征在于,在保温罩(3)顶部设置用来检测待测器件(9)温度的温度探针组件(8)。

3.根据权利要求1所述的防结霜升降温治具,其特征在于,保温罩(3)包括罩体和保温罩盖板(5),罩体上下敞口,罩体设置在测试电路板(2)上并固定,保温罩盖板(5)设置罩体的上敞口处,插入口密封段一体结构位于罩体上。

4.根据权利要求3所述的防结霜升降温治具,其特征在于,所述保温罩(3)的插入口密封段整体呈半圆形,在插入口密封段的弧形外表面上沿周向设置一道供翻盖(6)插入的弧形卡槽(31),弧形卡槽(31)与插入口密封段的弧形外表面之间形成了第一台阶结构,翻盖(6)上内凹设置卡合第一台阶结构的第二台阶结构;第一台阶结构与第一台阶结构之间形成截面呈空间竖直的第一窄缝(61)...

【专利技术属性】
技术研发人员:孙涛程进岳明亮于让尘潘栋吕维亮王称华
申请(专利权)人:希烽光电科技南京有限公司
类型:发明
国别省市:

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