【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及涡轮流量计校准，具体涉及一种涡轮流量计校准性能分析方法、装置设备和存储介质。
技术介绍
1、涡轮流量计广泛应用于天然气和石油化工产品的计量，许多情况下，流量计需要使用不同的流体进行校准。校准的过程是在气体流量校准装置中将通过标准器的流量与通过被检涡轮流量计的流量进行比较，取其差值，进行处理，便可得到被检流量计的计量精度。校准过程的可靠性和准确性受流体介质、温度、压力多种因素的影响，从表象上来看，校准结果的可靠与否表现在涡轮流量计的示值误差，但从本质上分析，产生误差的根本原因在于转子在理想状态下的转速与实际校准过程中的转速不同，从而形成了校准结果差异。
2、目前，业内对涡轮流量计的校准误差和性能分析开展了多方面研究，主要分为以下几个方面：一方面，分析校准装置结构及相关设备对校准过程的影响，确定不同结构校准装置的适用范围，例如：音速喷嘴式、负压空气式、正压空气式、高压天然气式等。另一方面，对校准装置不确定度构成进行逐一剖析，例如：涡轮流量计计数脉冲采集、压力测量、温度测量等过程中引入的不确定度，通过溯源和实验的方法确定其数值，最后利用贝塞尔方程进行总体不确定度的合成，这也是业内对校准误差分析的主要方法。另外，从校准结果数据入手，采用曲线拟合的方式对校准过程中产生的偏差进行纠正，例如：残差法、最小二乘法等。但上述方法均未对由于流体特性不同产生的校准装置校准性能差异进行分析，在实际工程应用中，涡轮流量计受流体密度、流态等特性的影响，使得校准结果有明显的差异，从上述校准装置结构、不确定度组成等方法无法有分析这一差
技术实现思路
1、鉴于上述问题，本专利技术实施例一种涡轮流量计校准性能分析方法、装置设备和存储介质，从转差率影响因素角度来解决现有的技术问题。
2、为解决上述技术问题，本专利技术提供以下技术方案：
3、第一方面，本专利技术提供一种涡轮流量计校准性能分析方法，所述方法包括：
4、构建雷诺数计算模型，将雷诺数的数值低于临界阈值的区间定义为低雷诺数区间；将雷诺数的数值高于临界阈值的区间定义为高雷诺数区间；
5、根据涡轮流量计的流体特性构建转差率获取模型，通过转差率获取模型分别得到涡轮流量计在低雷诺数区间的第一转差率以及涡轮流量计在高雷诺数区间的第二转差率；
6、将第一转差率跟随流量的变化趋势或第二转差率跟随流量的变化趋势与校准装置生成的校准误差跟随流量对应的变化趋势进行对比，确定校准装置的校准性能。
7、一实施例中，所述转差率获取模型包括第一转差率获取模型，所述第一转差率通过第一转差率获取模型获得；
8、所述第一转差率获取模型为：
9、
10、式中，η为偏移参量；mf为流体在校准过程中对涡轮叶片的阻力矩；a为流通截面积；d为管路直径；ρ为流体密度；q为流体体积流量；β为涡轮叶片的倾角。
11、一实施例中，所述转差率获取模型包括第二转差率获取模型，所述第二转差率通过第二转差率获取模型获得；
12、所述第二转差率获取模型为：
13、
14、式中，k为涡轮流量计仪表系数；为中间参数；fb0为与转子转速无关的独立项；fb1ρυω随转子转速增加而线性增加的项；fb2υω2为随转子转速增加呈二次方增加的项；υ为流体运动粘滞度；ω为涡轮理想转速；ρ为流体密度；q为流体体积流量。
15、一实施例中，所述雷诺数计算模型为：
16、
17、式中，为雷诺数；ρ为流体密度；q为流体体积流量；为管路通道半径；μ为流体动力粘滞度。
18、第二方面，本专利技术提供一种涡轮流量计校准性能分析装置，该装置包括：
19、雷诺数划分模块：用于构建雷诺数计算模型，将雷诺数的数值低于临界阈值的区间定义为低雷诺数区间；将雷诺数的数值高于临界阈值的区间定义为高雷诺数区间；
20、转差率获取模块：用于根据涡轮流量计的流体特性构建转差率获取模型，通过转差率获取模型分别得到涡轮流量计在低雷诺数区间的第一转差率以及涡轮流量计在高雷诺数区间的第二转差率；
21、校准性能分析模块：用于将第一转差率跟随流量的变化趋势或第二转差率跟随流量的变化趋势与校准装置生成的校准误差跟随流量对应的变化趋势进行对比，确定校准装置的校准性能。
22、一实施例中，所述转差率获取模型包括第一转差率获取模型，所述第一转差率通过第一转差率获取模型获得；
23、所述第一转差率获取模型为：
24、
25、式中，η为偏移参量；mf为流体在校准过程中对涡轮叶片的阻力矩；a为流通截面积；d为管路直径；ρ为流体密度；q为流体体积流量；β为涡轮叶片的倾角。
26、一实施例中，所述转差率获取模型包括第二转差率获取模型，所述第二转差率通过第二转差率获取模型获得；
27、所述第二转差率获取模型为：
28、
29、式中，k为涡轮流量计仪表系数；为中间参数；fb0为与转子转速无关的独立项；fb1ρυω随转子转速增加而线性增加的项；fb2υω2为随转子转速增加呈二次方增加的项；υ为流体运动粘滞度；ω为涡轮理想转速；ρ为流体密度；q为流体体积流量。
30、一实施例中，所述雷诺数计算模型为：
31、
32、式中，为雷诺数；ρ为流体密度；q为流体体积流量；为管路通道半径；μ为流体动力粘滞度。
33、第三方面，本专利技术提供一种电子设备，包括：
34、处理器、存储器、与网关通信的接口；
35、存储器用于存储程序和数据，所述处理器调用存储器存储的程序，以执行第一方面任一项提供的一种涡轮流量计校准性能分析方法。
36、第四方面，本专利技术提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质包括程序，所述程序在被处理器执行时用于执行第一方面任一项提供的一种涡轮流量计校准性能分析方法。
37、从上述描述可知，本专利技术实施例提供涡轮流量计校准性能分析方法，通过构建雷诺数计算模型并确定低雷诺数区间和高雷诺数区间；根据涡轮流量计的流体特性构建转差率获取模型，由转差率获取模型分别得到涡轮流量计在低雷诺数区间的第一转差率以及涡轮流量计在高雷诺数区间的第二转差率；将第一转差率跟随流量的变化趋势或第二转差率跟随流量的变化趋势与校准装置生成的校准误差跟随流量对应的变化趋势进行对比，确定校准装置的校准性能，通过此分析方法可以在对应雷诺数区间内获得受流体特性影响转差率的变化趋势，利用转差率的变化趋势对对应的校准结果的变化趋势分析校准装置的校准性能差异，能够为工程应用中对校准装置评价和选择提供有效指导，填补校准装置校准性能分析在流体特性方面的空白。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种涡轮流量计校准性能分析方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的一种涡轮流量计校准性能分析方法，其特征在于，所述转差率获取模型包括第一转差率获取模型，所述第一转差率通过第一转差率获取模型获得；
3.如权利要求1所述的一种涡轮流量计校准性能分析方法，其特征在于，所述转差率获取模型包括第二转差率获取模型，所述第二转差率通过第二转差率获取模型获得；
4.如权利要求1所述的一种涡轮流量计校准性能分析方法，其特征在于，所述雷诺数计算模型为：
5.一种涡轮流量计校准性能分析装置，其特征在于，该装置包括：
6.如权利要求5所述的一种涡轮流量计校准性能分析装置，其特征在于，所述转差率获取模型包括第一转差率获取模型，所述第一转差率通过第一转差率获取模型获得；
7.如权利要求5所述的一种涡轮流量计校准性能分析装置，其特征在于，所述转差率获取模型包括第二转差率获取模型，所述第二转差率通过第二转差率获取模型获得；
8.如权利要求5所述的一种涡轮流量计校准性能分析装置，其特征在于，所述雷诺数计算模型为
9.一种电子设备，其特征在于，包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质包括程序，所述程序在被处理器执行时用于执行权利要求1至4任一项所述的涡轮流量计校准性能分析方法。
...【技术特征摘要】
1.一种涡轮流量计校准性能分析方法，其特征在于，所述方法包括：
2.如权利要求1所述的一种涡轮流量计校准性能分析方法，其特征在于，所述转差率获取模型包括第一转差率获取模型，所述第一转差率通过第一转差率获取模型获得；
3.如权利要求1所述的一种涡轮流量计校准性能分析方法，其特征在于，所述转差率获取模型包括第二转差率获取模型，所述第二转差率通过第二转差率获取模型获得；
4.如权利要求1所述的一种涡轮流量计校准性能分析方法，其特征在于，所述雷诺数计算模型为：
5.一种涡轮流量计校准性能分析装置，其特征在于，该装置包括：
6.如权利要求5所述的一种涡轮...
【专利技术属性】
技术研发人员：边海龙，黄冬虹，王佩广，董新利，王凡，张翰，刘兴伟，孙俊芳，
申请(专利权)人：北京市燃气集团有限责任公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。