【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于非常规天然气表征领域，具体涉及一种利用中子散射表征页岩油气层中流体的孔喉下限方法。
技术介绍
1、我国的页岩油气储量巨大，但是仍然存在开发难的问题，由于致密油储层孔喉细小且结构复杂，油气在储层中的输运和储集受孔喉的影响，因此孔喉下限的准确判断尤为重要。孔喉下限是指储集层页岩油有效进出的最小孔喉半径。传统方法一般使用压汞法等侵入性表征方法测定孔喉下限，但是这会对样品的原有孔隙结构造成一定程度的破坏，从而影响样品孔隙结构和孔喉下限的判断。
技术实现思路
1、本专利技术的目的是为了无损表征页岩油气层中流体的孔喉下限，基于此，提出一种利用中子散射表征页岩油气层中流体的孔喉下限方法。
2、本专利技术的技术方案如下：
3、一种利用中子散射表征页岩油气层中流体的孔喉下限方法，包括如下步骤：
4、s1、制备页岩样品，并对所述页岩样品进行烘干处理；
5、s2、对所述页岩样品进行中子散射实验，获取所述页岩样品的散射矢量以及对应的全尺度孔隙的散射强度；
6、s3、所述中子散射实验结束后，使用溶液饱和所述页岩样品，进行全对比匹配中子散射实验，获取所述页岩样品的全对比匹配中子散射矢量以及对应的流体不可进入孔隙的散射强度；
7、s4、基于s2中所述散射矢量以及对应的全尺度孔隙的散射强度，得到孔隙直径以及对应的孔隙体积分布数据，绘制真空环境的孔径分布曲线；
8、s5、基于s3中所述全对比匹配中子散射实验的散射矢量以
9、s6、基于所述中子散射所有孔隙孔径分布曲线和全对比匹配中子散射孔径分布曲线可得到页岩油气层中流体的孔喉下限。
10、进一步地，所述制备页岩样品的方法如下：
11、称取一定质量的页岩，将页岩打磨成1.0*1.0cm2,厚度为0.5mm的薄片，即可得到所述页岩样品。
12、进一步地，所述的烘干处理的方法如下：
13、将所述页岩样品置于烘干箱中，在60～100℃下烘干48h。
14、进一步地，所述s2具体为：
15、s21、对样品舱进行抽真空处理，使得所述样品舱内的真空度为0.05～0.1pa；
16、s22、在所述真空环境下运行中子散射仪，得到所述中子散射数据。
17、s23、使用igor软件处理所述中子散射数据，得到所述样品真空环境的散射矢量以及对应的全尺度孔隙的散射强度。
18、进一步地，所述s3具体为：
19、s31、将所述页岩样品在溶液中浸泡24h；
20、s32、待所述页岩样品的可及孔充满所述溶液后运行中子散射仪，得到所述全对比匹配中子散射数据；
21、s33、使用igor软件处理所述全对比匹配中子散射数据，得到所述页岩样品的全对比匹配中子散射矢量以及对应的流体不可进入孔隙的散射强度。
22、进一步地，所述溶液的散射长度密度等于所述页岩样品基质的散射长度密度。
23、进一步地，s4中，利用igor软件中的pdsp模型处理所述样品真空环境的散射矢量以及对应的全尺度孔隙的散射强度，得到孔隙直径以及对应的孔隙体积分布数据。
24、进一步地，s5中，利用igor软件中的pdsp模型处理所述样品全对比匹配中子散射实验的散射矢量以及对应的流体不可进入孔隙的散射强度，得到孔隙直径以及对应的孔隙体积分布数据。
25、进一步地，所述s6具体为：
26、所述中子散射所有孔隙孔径分布曲线和全对比匹配中子散射孔径分布曲线交点所对应的孔径即为页岩油气层中流体的孔喉下限，两条曲线的差值对应可进入孔隙的分布情况。
27、进一步地，所述全尺度孔隙包括可进入孔隙和不可进入孔隙。
28、本专利技术的技术效果：
29、本专利技术实施例中的页岩油气层中流体的孔喉下限表征方法通过真空环境下的中子散射实验以及全对比匹配中子散射实验，真空环境下的中子散射实验能够获得页岩样品的所有孔隙(流体可进入孔隙和流体不可进入)的信息；利用所述溶液作为石油烃类的替代品，饱和样品充足的时间，确保溶液充满样品所有的可及孔隙，模拟页岩油在储层中的赋存情况，所述溶液的散射长度密度与样品基质的散射长度密度相等，保证全对比匹配中子散射实验获得页岩样品的流体不可进入孔隙信息；通过绘制两种实验下页岩样品的孔径分布曲线，两条曲线的交点处，即代表页岩中此处孔径对应的孔隙全为流体不可进入孔隙信息，即为流体的孔喉下限。同时中子散射实验是收集中子在页岩基质与孔隙之间的碰撞情况，能够无损的表征页岩的孔隙结构、孔径分布。
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1.一种利用中子散射表征页岩油气层中流体的孔喉下限方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的利用中子散射表征页岩油气层中流体的孔喉下限方法，其特征在于，所述制备页岩样品的方法如下：
3.根据权利要求1所述的利用中子散射表征页岩油气层中流体的孔喉下限方法，其特征在于，所述的烘干处理的方法如下：
4.根据权利要求1所述的利用中子散射表征页岩油气层中流体的孔喉下限方法，其特征在于，所述S2具体为：
5.根据权利要求1所述的利用中子散射表征页岩油气层中流体的孔喉下限方法，其特征在于，所述S3具体为：
6.根据权利要求5所述的一种利用中子散射表征页岩油气层中流体的孔喉下限方法，其特征在于，所述溶液的散射长度密度等于所述页岩样品基质的散射长度密度。
7.根据权利要求1所述的一种利用中子散射表征页岩油气层中流体的孔喉下限方法，其特征在于，S4中，利用IGOR软件中的PDSP模型处理所述样品真空环境的散射矢量以及对应的全尺度孔隙的散射强度，得到孔隙直径以及对应的孔隙体积分布数据。
8.根据权利要求
9.根据权利要求1所述的一种利用中子散射表征页岩油气层中流体的孔喉下限方法，其特征在于，所述S6具体为：
10.根据权利要求1所述的一种利用中子散射表征页岩油气层中流体的孔喉下限方法，其特征在于，所述全尺度孔隙包括可进入孔隙和不可进入孔隙。
...【技术特征摘要】
1.一种利用中子散射表征页岩油气层中流体的孔喉下限方法，其特征在于，包括如下步骤：
2.根据权利要求1所述的利用中子散射表征页岩油气层中流体的孔喉下限方法，其特征在于，所述制备页岩样品的方法如下：
3.根据权利要求1所述的利用中子散射表征页岩油气层中流体的孔喉下限方法，其特征在于，所述的烘干处理的方法如下：
4.根据权利要求1所述的利用中子散射表征页岩油气层中流体的孔喉下限方法，其特征在于，所述s2具体为：
5.根据权利要求1所述的利用中子散射表征页岩油气层中流体的孔喉下限方法，其特征在于，所述s3具体为：
6.根据权利要求5所述的一种利用中子散射表征页岩油气层中流体的孔喉下限方法，其特征在于，所述溶液的散射长度密度等于所述页岩样品基质的散射长度密度。
7.根据权利要...
【专利技术属性】
技术研发人员：李明晗，孙梦迪，张晴宇，潘哲君，柳波，
申请(专利权)人：东北石油大学，
类型：发明
国别省市：
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