【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及芯片测试，尤其涉及一种fpga芯片的最终测试方法及装置。
技术介绍
1、随着科技技术的不断发展，现场可编程逻辑门阵列(field programmable gatearray，fpga)芯片的应用越来越广泛。fpga芯片可以应用于网络通信、航空航天、医疗器械和视频图像处理等较多领域，fpga芯片的应用领域越多，所需的fpga芯片数量就越多，这就需要制造出大量的fpga芯片。在fpga芯片的制造过程中，由于制造工艺缺陷、光刻偏差、设计缺陷和使用材料不达标等因素，会导致大量的fpga芯片中出现有故障的fpga芯片。因此，需要对fpga芯片进行最终测试，通过最终测试来保证fpga芯片的质量。最终测试为fpga芯片在封装后、进入市场前的测试。
2、目前，对fpga芯片进行最终测试，需要确定fpga芯片的各待测资源，根据各待测资源确定对应的测试配置信息，测试配置信息包括状态机的跳转点数量和跳转点数值，各待测资源包括多个跳转点；将第一个待测资源对应的测试配置信息进行烧录，并执行以下操作步骤：在接收到开始指令时测试状态机开始运行，在运行到第一个跳转点的数值时输出高电平信号，以运行激励模块输出激励数据，在运行到第二个跳转点的数值时获取运算结果，运算结果为待测资源运行激励数据所得到的，在运行到第三个跳转点的数值时检验运算结果，得到测试结果；将第n个待测资源对应的测试配置信息进行烧录，并执行上述操作步骤。
3、然而，fpga芯片存在大量的待测资源，每个待测资源所对应的测试状态机的跳转点数量和跳转点数值可能会不同
技术实现思路
1、本专利技术实施例的目的是提供一种fpga芯片的最终测试方法及装置，解决fpga芯片的最终测试效率较低的问题。
2、为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供如下技术方案：
3、本专利技术第一方面提供一种fpga芯片的最终测试方法，所述方法包括：
4、在接收到测试请求时，获取测试设备的预设配置信息；
5、判断预设配置信息是否适用于待测资源，预设配置信息包括预设跳转点数量和预设跳转点数值；
6、若适用，则根据预设跳转点数量和预设跳转点数值运行fpga芯片的测试模块，得到最终测试结果，最终测试结果用于指示待测资源是否正确；
7、若不适用，则将预设跳转点数量和预设跳转点数值修改为目标跳转点数量和目标跳转点数值，并根据目标跳转点数量和目标跳转点数值运行fpga芯片的测试模块，得到最终测试结果。
8、本专利技术第二方面提供一种fpga芯片的最终测试装置，所述装置包括：
9、获取模块，用于在接收到测试请求时，获取测试设备的预设配置信息；
10、判断模块，用于判断预设配置信息是否适用于待测资源，预设配置信息包括预设跳转点数量和预设跳转点数值；
11、运行模块，用于若适用，则根据预设跳转点数量和预设跳转点数值运行fpga芯片的测试模块，得到最终测试结果，最终测试结果用于指示待测资源是否正确；
12、修改模块，用于若不适用，则将预设跳转点数量和预设跳转点数值修改为目标跳转点数量和目标跳转点数值，并根据目标跳转点数量和目标跳转点数值运行fpga芯片的测试模块，得到最终测试结果。
13、本专利技术第三方面提供一种电子设备，电子设备包括：至少一个处理器；以及与处理器连接的至少一个存储器、总线；其中，处理器、存储器通过总线完成相互间的通信；处理器用于调用存储器中的程序指令，以执行上述第一方面或第一方面任一种可选的实施例的fpga芯片的最终测试方法。
14、本专利技术第四方面提供一种计算机可读存储介质，存储介质包括存储的程序，其中，在程序运行时控制存储介质所在设备执行上述第一方面或第一方面任一种可选的实施例的fpga芯片的最终测试方法。
15、相较于现有技术，本专利技术提供的fpga芯片的最终测试方法及装置，在接收到测试请求时，判断预设配置信息是否适用于待测资源，存在适用的就直接通过测试设备中原来的预设配置信息来运行fpga芯片的测试模块，完成fpga芯片的最终测试，不存在适用的就将测试设备中原来的预设配置信息中的跳转点数量和跳转点数值，修改为适用于待测资源的跳转点数量和跳转点数值，通过修改后的跳转点数量和跳转点数值运行fpga芯片的测试模块，得到最终测试结果来完成fpga芯片的测试；和现有技术的对于fpga芯片中所有的待测资源进行最终测试时，都需要通过重新烧录来确定出待测资源对应的预设配置信息相比，本专利技术对于fpga芯片中所有的待测资源进行最终测试时，需要确定出测试设备中原来的预设配置信息是否适用于待测资源，适用时直接使用原来的预设配置信息，预设配置信息不适用于待测资源时，只需要将预设配置信息中的跳转点数量和预设跳转点数值进行修改，就能得到适用于待测资源的预设配置信息，不需要重新对包含跳转点数量和预设跳转点数值的整个预设配置信息进行烧录，使得将测试设备中的预设配置信息修改为适用于待测资源的预设配置信息的消耗时间比较短，进而使得fpga芯片的最终测试时间比较短，提高fpga芯片的最终测试效率。
本文档来自技高网...【技术保护点】
1.一种FPGA芯片的最终测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述判断所述配置信息是否适用于待测资源，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述预设跳转点数量和所述预设跳转点数值修改为目标跳转点数量和目标跳转点数值，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在当所述预设跳转点数量与所述目标跳转点数量相同，且所述预设跳转点数值与所述目标跳转点数值不相同时，将所述预设跳转点数值替换为所述目标跳转点数值之后，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试模块包括激励模块和待测资源，所述根据所述目标跳转点数量和所述目标跳转点数值运行所述FPGA芯片的测试模块，得到最终测试结果，包括：
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述运行所述激励模块，以使所述计数器数值与第二目标跳转点数值相同时，所述激励模块输出测试激励数据，包括：
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述待测资源包括查找表、数字信号处理器。
8
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述存储介质包括存储的程序，其中，在所述程序运行时控制所述存储介质所在设备执行如权利要求1至7中任一项所述的FPGA芯片的最终测试方法。
...【技术特征摘要】
1.一种fpga芯片的最终测试方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述判断所述配置信息是否适用于待测资源，包括：
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述将所述预设跳转点数量和所述预设跳转点数值修改为目标跳转点数量和目标跳转点数值，包括：
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，在当所述预设跳转点数量与所述目标跳转点数量相同，且所述预设跳转点数值与所述目标跳转点数值不相同时，将所述预设跳转点数值替换为所述目标跳转点数值之后，所述方法还包括：
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试模块包括激励模块和待测资源，所述根据所述目标跳转点数量和所述目...
【专利技术属性】
技术研发人员：王国伟，田军，贾弘翊，韦嶔，张红荣，
申请(专利权)人：北京飘石科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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