利用双Ｓ形ＬＥＶＥＮＢＥＲＧ－ＭＡＲＱＵＡＲＤＴ和稳健线性回归的温度阶跃校正制造技术

本发明专利技术涉及利用双Ｓ形ＬＥＶＥＮＢＥＲＧ－ＭＡＲＱＵＡＲＤＴ和稳健线性回归的温度阶跃校正。本发明专利技术提供用于通过针对在ＰＣＲ过程期间可能出现的温度变化对ＰＣＲ数据进行校正来改进ＰＣＲ扩增曲线中的Ｃｔ确定的系统和方法。具有通过Ｌｅｖｅｎｂｅｒｇ－Ｍａｒｑｕａｒｄｔ（ＬＭ）回归方法所确定的参数的双Ｓ形函数被用于找到在温度变化之后的区域中曲线的一部分的近似，其中出现温度变化的周期称为“ＣＡＣ”。为在温度变化之前的区域中曲线的一部分确定稳健线性近似。利用线性近似和ＬＭ方法来确定周期ＣＡＣ或ＣＡＣ＋１的荧光强度的值，并且从表示在出现温度变化之前曲线的一部分的数据集的一部分中减去这些值的差值，以产生已校正变化的数据集。该已校正变化的数据集可以被显示或另外被用于进一步的处理。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种计算机实现的、校正具有基线部分和生长部分的聚合酶链反应（ＰＣＲ）生长曲线的数据集中的温度阶跃变化的方法，该方法包括：－接收聚合酶链反应生长曲线的数据集，其中所述数据集包括动态聚合酶链反应（ＰＣＲ）过程的多个数据点，每一个数据点具有一对坐标值（ｘ，ｙ），其中ｘ表示周期数，并且ｙ表示扩增多核苷酸的累积；－计算曲线的第一部分的线性近似，所述第一部分包括数据集中的数据点，这些数据点包括小于或等于在聚合酶链反应过程中出现退火温度变化的周期数（ＣＡＣ）的周期数；－利用曲线的第一部分的线性近似针对第一ｘ值估计第一ｙ值；－通过将Ｌｅｖｅｎｂｅｒｇ－Ｍａｒｑｕａｒｄｔ（ＬＭ）回归方法应用于数据集的第二部分和双Ｓ形函数以确定该函数的参数来计算曲线的第二部分的近似，数据集的所述第二部分包括具有大于ＣＡＣ的周期数的数据点；－利用针对曲线的第二部分所计算的近似针对第一ｘ值估计第二ｙ值；－确定第一和第二ｙ值之间的差值；以及－从对应于曲线的第一部分的数据点的每一个ｙ值中减去该差值，以生成修改后的数据集。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：RT库尔尼克，
申请(专利权)人：霍夫曼拉罗奇有限公司，
类型：发明
国别省市：CH[瑞士]